产品测试治具和产品测试组件制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种产品测试治具和产品测试组件，产品测试组件包括治具主体、屏蔽块和多个探针组件；治具主体的上端面具有用于容置待测试产品的定位槽；屏蔽块设置于定位槽的下方，屏蔽块具有多个第一安装孔；探针组件与第一安装孔一一对应并穿设于对应的第一安装孔中，探针组件包括探针内芯，探针内芯具有相对的第一连接端和第二连接端，第一连接端延伸至定位槽，第一连接端被配置为与所述待测试产品电连接。由此，本实用新型专利技术实施例的技术方案能够同时进行产品的多通道测试，有效地提高了测试效率，同时能够提高测试时信号传输的准确性，从而提高测试结果的准确度，能够满足精度较高的测试需要。够满足精度较高的测试需要。够满足精度较高的测试需要。

【技术实现步骤摘要】
产品测试治具和产品测试组件


[0001]本技术涉及治具领域，具体涉及一种产品测试治具和产品测试组件。

技术介绍

[0002]产品在生产后需要进行相应的测试，以保证产品的质量符合一定的要求。部分产品，例如通信芯片，在生产后需要进行射频测试。随着科技的发展，芯片逐渐向更加精密化的方向发展，对于测试的精度、准确度以及测试的效率也提出了越来越高的要求，现有的测试治具已经难以满足当前产品测试的需要。

技术实现思路

[0003]本技术实施例的目的在于提供一种产品测试治具和产品测试组件，能够提高产品测试的结果准确度和测试效率。
[0004]第一方面，本技术实施例提供了一种产品测试治具，包括治具主体、屏蔽块和多个探针组件；所述治具主体的上端面具有用于容置待测试产品的定位槽；所述屏蔽块设置于所述定位槽的下方，所述屏蔽块具有多个第一安装孔；多个所述探针组件与所述第一安装孔一一对应并穿设于对应的所述第一安装孔中，所述探针组件包括探针内芯，所述探针内芯具有相对的第一连接端和第二连接端，所述第一连接端延伸至所述定位槽，所述第一连接端被配置为与所述待测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品测试治具，其特征在于，包括：治具主体(1)，所述治具主体(1)的上端面具有用于容置待测试产品(9)的定位槽(11)；屏蔽块(2)，设置于所述定位槽(11)的下方，所述屏蔽块(2)具有多个第一安装孔(21)；以及多个探针组件，与所述第一安装孔(21)一一对应并穿设于对应的所述第一安装孔(21)中，所述探针组件包括探针内芯(3)，所述探针内芯(3)具有相对的第一连接端(31)和第二连接端(32)，所述第一连接端(31)延伸至所述定位槽(11)，所述第一连接端(31)被配置为与所述待测试产品(9)电连接。2.根据权利要求1所述的产品测试治具，其特征在于，所述产品测试治具(F)还包括：绝缘安装座(4)，与所述治具主体(1)连接并设置在所述定位槽(11)的下方，所述绝缘安装座(4)具有第一安装槽(41)，所述第一安装槽(41)容纳所述屏蔽块(2)。3.根据权利要求2所述的产品测试治具，其特征在于，所述第一安装槽(41)设置在所述绝缘安装座(4)远离所述定位槽(11)的一端，所述绝缘安装座(4)靠近所述定位槽(11)的一端具有多个第二安装孔(42)，所述第二安装孔(42)与所述第一安装槽(41)相连通，所述第二安装孔(42)与所述第一安装孔(21)一一对应，所述探针内芯(3)还穿设于对应的所述第二安装孔(42)中。4.根据权利要求3所述的产品测试治具，其特征在于，所述定位槽(11)的底部具有第一穿孔(12)，多个所述第二安装孔(42)的位置与所述第一穿孔(12)相对应。5.根据权利要求4所述的产品测试治具，其特征在于，所述绝缘安装座(4)具有定位台(43)和设置于定位台(43)一侧的凸块(44)，所述凸块(44)设置于所述第一穿孔(12)中，所述治具主体(1)具有与所述定位台(43)相对设置的...

【专利技术属性】
技术研发人员：程浪，刘超伟，武德超，
申请(专利权)人：昆山联滔电子有限公司，
类型：新型
国别省市：