检测孔的方法、孔检测装置及孔检测设备制造方法及图纸

技术编号:32806224 阅读:12 留言:0更新日期:2022-03-26 19:58
本申请提供一种检测孔的方法,用于确定孔的形状参数,包括:获取孔的图像;根据图像,确定第一扫描区域;在第一扫描区域内生成第一扫描线集;基于第一扫描线集生成孔的第一轮廓;根据第一轮廓,确定孔的形状参数。上述检测孔的方法中,通过确定第一扫描区域,在第一扫描区域内生成第一扫描线集,在第一扫描线集的基础上获得孔的轮廓点集,使得轮廓点集扫描准确,进而提高所获得的孔的形状参数的准确度。本申请还提供一种孔检测装置以及孔检测设备。本申请还提供一种孔检测装置以及孔检测设备。本申请还提供一种孔检测装置以及孔检测设备。

【技术实现步骤摘要】
检测孔的方法、孔检测装置及孔检测设备


[0001]本申请涉及孔检测
,具体涉及一种检测孔的方法、孔检测装置及孔检测设备。

技术介绍

[0002]孔检测设备(例如:手机、平板等)内具有多个用于固定零件的微小螺纹孔。用来加工微小螺纹孔的钻头和丝锥在大批量制造过程中所出现的磨损或断裂会影响微小螺纹孔的参数(例如:内径、周长等),微小螺纹孔的参数不合格则会导致螺丝锁不紧或锁不进,影响产品的组装。因此,需要对加工后的微小螺纹孔的参数进行检测以判断加工后的微小螺纹孔是否合格。
[0003]现有检测微小螺纹孔的方法一般采用寻圆工具,例如一些边缘检测工具。寻圆工具的扫描区域主要是整圆或方形,且寻圆工具唯一且并不可选,若扫描区域内出现亮暗变化不均,会使得部分区域无法扫描到轮廓点,导致轮廓点不连续,也容易产生质量较差的轮廓点,进而得到误差较大的形状参数,影响检测结果的精度,尤其是影响孔的形状参数的精度。

技术实现思路

[0004]鉴于以上内容,有必要提供一种检测孔的方法、孔检测装置及孔检测设备,以解决现有技术中孔的形状参数检测不准确的技术问题。
[0005]本申请一实施例提供一种检测孔的方法,用于确定孔的形状参数,包括:
[0006]获取该孔的图像;
[0007]根据该孔的图像,确定第一扫描区域;
[0008]在该第一扫描区域内生成第一扫描线集;
[0009]基于该第一扫描线集生成该孔的第一轮廓;
[0010]根据该第一轮廓,确定该孔的形状参数。
[0011]上述检测孔的方法中,通过确定第一扫描区域,在扫描区域内生成第一扫描线集,在第一扫描线集的基础上获得孔的轮廓点集,使得轮廓点集扫描准确,可提高所获得的孔的形状参数的准确度。
[0012]在一实施例中,该检测孔的方法还包括:
[0013]根据该孔的图像,确定第二扫描区域;
[0014]在该第二扫描区域内生成第二扫描线集;
[0015]基于该第二扫描线集生成该孔的第二轮廓;
[0016]根据该第一轮廓及该第二轮廓,确定该孔的形状参数。
[0017]如此,通过第一轮廓和第二轮廓的结合,通过不同的扫描区域,能够有效克服由于第一轮廓或第二轮廓存在误差而导致的系统误差,可增大获得的形状参数的准确度。
[0018]本申请一实施例还提供一种孔检测装置,包括处理器,该处理器与存储器耦合,该
存储器存储有指令,该指令被该处理器运行时执行上述检测孔的方法。
[0019]上述孔检测装置可执行上述检测孔的方法,上述检测孔的方法中通过确定第一扫描区域,在扫描区域内生成第一扫描线集,在第一扫描线集的基础上获得孔的轮廓点集,使得轮廓点集扫描准确。因此,采用上述孔检测装置执行检测孔的方法可提高所获得的孔的形状参数的准确度。
[0020]本申请一实施例还提供一种孔检测设备,用于检测孔的形状参数,包括:
[0021]图像获取装置,该图像获取装置用于获取该孔的图像;及孔检测装置,与该图像获取装置耦接,该孔检测装置包括处理器,该处理器与存储器耦合,该存储器存储有指令,该指令被该处理器运行时执行上述检测孔的方法。
[0022]上述孔检测设备执行上述检测孔的方法,上述检测孔的方法中通过确定第一扫描区域,在扫描区域内生成第一扫描线集,在第一扫描线集的基础上获得孔的轮廓点集,使得轮廓点集扫描准确。因此,采用上述孔检测设备执行检测孔的方法可提高所获得的孔的形状参数的准确度。
附图说明
[0023]图1为本申请一实施例检测孔的方法的流程图。
[0024]图2为本申请一实施例中工件以及孔的状态示意图。
[0025]图3为本申请一实施例中步骤S20的流程图。
[0026]图4为本申请一实施例中步骤S30的流程图。
[0027]图5为本申请一实施例中扫描区域和工件的第一状态示意图。
[0028]图6为本申请一实施例中扫描区域和工件的第二状态示意图。
[0029]图7为本申请一实施例中步骤S40的流程图。
[0030]图8为本申请一实施例检测孔的方法的又一流程图。
[0031]图9为本申请一实施例中步骤S90的流程图。
[0032]图10(A)及图10(B)为本申请一实施例中孔检测装置的组成示意图。
[0033]图11为本申请一实施例中孔检测设备的组成示意图。
[0034]图12为指令的组成示意图。
[0035]主要元件符号说明
[0036]孔
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10
[0037]螺纹段
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11
[0038]工件
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20
[0039]扫描区域
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30
[0040]内圆边界
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[0041]外圆边界
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32
[0042]第一直边
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[0043]第二直边
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34
[0044]第一扫描区域
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[0045]扫描线
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[0046]第一轮廓
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[0047]第二扫描区域
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[0048]孔检测装置
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100
[0049]处理器
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120
[0050]存储器
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110
[0051]孔检测设备
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200
[0052]图像获取装置
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210
[0053]指令
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[0054]调节程序
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1111
[0055]识别程序
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1112
[0056]拟合程序
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测孔的方法,用于检测孔的形状参数,包括:获取所述孔的图像;根据所述孔的图像,确定第一扫描区域;在所述第一扫描区域内生成第一扫描线集;基于所述第一扫描线集生成所述孔的第一轮廓;根据所述第一轮廓,确定所述孔的形状参数。2.如权利要求1所述的检测孔的方法,其中,所述根据所述图像,确定第一扫描区域,包括:根据灰度匹配、形状匹配及变量偏置匹配的至少一个处理所述图像,获取所述图像中所述孔的轮廓信息;根据所述轮廓信息,确定扫描区域中心;基于所述扫描区域中心,确定所述第一扫描区域。3.如权利要求2所述的检测孔的方法,其中,所述在所述第一扫描区域内生成第一扫描线集,包括:获取扫描参数,根据所述扫描参数获得所述第一扫描区域的区域点坐标;根据所述扫描参数和所述区域点坐标生成所述第一扫描线集。4.如权利要求3所述的检测孔的方法,其中所述扫描参数包括扫描方向、扫描宽度、扫描线数量及阈值中的至少一个。5.如权利要求3所述的检测孔的方法,其中,所述基于所述第一扫描线集生成所述孔的第一轮廓,包括:确定所述第一扫描线集中每条扫描线灰度变化率最大点坐标,形成第一轮廓点集;根据所述第一轮廓点集,形成所述第一轮廓。6.如权利要求2所述的检测孔的方法,还包括:根据所述孔的图像,确定第二扫描区域;在所述第二扫描区域内生成第二扫描线集;基于所述第二扫描线集生成所述孔的第二轮廓;根据所述第一轮廓及所述第二轮廓,确定所述孔的形状参数。7.如权利要求6所述的检测孔的方法,其中所述根据所述第一轮廓及所述第二轮廓,确定所述孔的形状参数,包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈国立
申请(专利权)人:深圳市裕展精密科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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