【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电子行业上的转接测试座，尤指是指一种测试电 路板的转接测试座，具体涉及一种电脑内存条转接测试座。
技术介绍
随着经济日益发展及电子产品的广泛应用，电子产品市场曰显成 熟和绝对量化，对各种具有特定功能的电子组件如电脑内存条的需求 也同样绝对巨增，这必然使电子组件生产商及其代工厂在经营各自品 牌的同时，也必须考虑直接的生产测试成本问题。以往各类生产商或 其代工厂他们会对其所生产的电子组件进行测试，以电脑内存条的测试为例，其测试技术发展过程有两个阶段过程第一过程为用电脑主机板上内存插槽由四排焊PIN通过治具压 合成两排焊PIN,然后再焊接转接PCB进行测试，这种普通内存转接 测试卡插槽其弹簧触片采用的是黄铜材质，弹簧触片上的端子较小； 当测试时内存条记忆体垂直插入内存转接测试槽的卡插槽内时，弹簧 触片上的端子往外张开夹住金手指，因存在不停的插拔测试卡插槽内 的金属弹簧触片上的端子，易损坏或插跪，出现信号衰减或接触不良 等问题；在测试时寿命特别短，仅为400次左右。后来，也有改成柔 韧较好的磷铜弹簧触片，但寿命只在1000次以内，还有一个最重要 的缺陷...
【技术保护点】
一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与对应的金属弹片电连接，其特征在于，所述的卡插槽内含有可旋转的Ｄ型轴。
【技术特征摘要】
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