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本发明公开了一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与金属弹片电连接，所述的卡插槽内含有旋转的Ｄ型轴，转动所述的Ｄ型轴，就可以使所述金属...
该专利属于张光荣;何巧丽所有，仅供学习研究参考，未经过张光荣;何巧丽授权不得商用。

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