一种压变膜盒的校准方法、系统、电子设备和存储介质技术方案

本申请提供一种压变膜盒的校准方法、系统、电子设备和存储介质，所述方法包括：子程序发送测试条件请求到主程序，使主程序根据请求的测试条件对压变膜盒施加目标测试环境；子程序获取所述主程序施加目标测试环境的实际参数以及压变膜盒在所述目标测试环境下输出的测量参数；所述子程序根据所有的实际参数和测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数；所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒；本申请通过子程序和主程序自动实现对测试环境的施加和校准运算，解决了现有技术校准效率低的问题；通过多个子程序实现同时对多个膜盒进行校准，且每个子程序独立完成每个膜盒的校准过程，相互不干扰，从而进一步提高了校准效率。了校准效率。了校准效率。

【技术实现步骤摘要】
一种压变膜盒的校准方法、系统、电子设备和存储介质


[0001]本申请涉及膜盒测试
，尤其涉及一种压变膜盒的校准方法、系统、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]压力变送器是一种将压力转换成气动信号或电动信号进行控制和远传的设备。它能将测压元件传感器感受到的气体、液体等物理压力参数转变成标准的电信号,以供给指示报警仪、记录仪、调节器等二次仪表进行测量、指示和过程调节。而具有将压力转换成数字电信号功能的压变膜盒是压力变送器的核心组成部件，压变膜盒的输出精度直接影响压力变送器的性能；因此，对压变膜盒的测试和校准是必不可少的生产工序。
[0003]但是，目前对于单工位的多个膜盒校准，通常采用轮询方式进行压变膜盒的校准，从而存在校准效率低的问题，不满足工厂的校准需求。

技术实现思路

[0004]针对相关技术中所存在的不足，本申请提供的压变膜盒的校准方法和方法，通过子程序和主程序自动实现对测试环境的施加和校准运算，解决了现有技术校准效率低的问题；通过多个子程序实现同时对多个膜盒进行校准，且每个子程序独立完成每个膜盒的校准过程，相互不干扰，从而进一步提高了校准效率。
[0005]第一方面，本专利技术提供一种压变膜盒的校准方法，所述方法包括：子程序发送测试条件请求到主程序，使主程序根据请求的测试条件对压变膜盒施加目标测试环境；所述子程序获取所述主程序施加目标测试环境的实际参数以及所述压变膜盒在所述目标测试环境下输出的测量参数；所述子程序根据所有的实际参数和测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数；所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒。
[0006]可选地，所述子程序根据所述的所有的实际参数和测量参数，对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数，包括：所述子程序将所述实际参数和测量参数输入校准模型中进行计算，得到所述目标校准参数。
[0007]可选地，在所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒之后，所述方法还包括：所述子程序再次发送测试条件请求到所述主程序，使所述主程序根据所述请求的测试条件对写入目标校准参数的压变膜盒再次施加所述目标测试环境；所述子程序获取所述主程序施加目标测试环境的实际参数；所述子程序获取写入目标校准参数的压变膜盒在所述目标测试环境下输出的目标测量参数；所述子程序获取所述实际参数与所述目标测量参数的差值；当所述差值在预设范围内时，所述子程序判定所述压变膜盒校准成功。
[0008]可选地，所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒之后，所述方法还包括：所述子程序发送下一个不同类型的测试条件请求到所述主程序，使所述主程序根据所述下一个测试条件请求对压变膜盒施加下一个目标测试环境；所述子程序根据所述压变膜盒在下一个目标测试环境下的实际参数和输出的测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到
下一个目标校准参数并将所述下一个目标校准参数写入所述压变膜盒。
[0009]可选地，所述主程序根据所述测试条件请求对压变膜盒施加目标测试环境，包括：当所述主程序判断出接收到所有子程序发送的测试条件请求后，所述主程序根据所述测试条件请求对所有压变膜盒施加目标测试环境。
[0010]可选地，在所述子程序发送测试条件请求到所述主程序之前，所述方法还包括：所述子程序获取相对应压变膜盒的ID标识和线性规格；所述子程序根据所述ID标识对每个压变膜盒进行区分和标记，以及根据每个压变膜盒的线性规格发送相对应的测试条件请求。
[0011]可选地，所述方法还包括：所述子程序在所述主程序施加目标测试环境之后，独立同步获取所述压变膜盒在所述目标测试环境下的实际参数和输出的测量参数，独立同步对所对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数，并将所述目标校准参数写入所述压变膜盒。
[0012]第二方面，本专利技术提供一种压变膜盒的校准系统，所述系统包括：运行有主程序和多个子程序的处理器；所述子程序用于发送测试条件请求到所述主程序，使所述主程序根据所述请求的测试条件对压变膜盒施加目标测试环境；所述子程序还用于获取所述主程序施加目标测试环境的实际参数以及所述压变膜盒在所述目标测试环境下输出的测量参数；所述子程序还用于根据所有的实际参数和测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数，并将所述目标校准参数写入所述压变膜盒。
[0013]第三方面，本专利技术提供一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现所述压变膜盒的校准方法的步骤。
[0014]第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述压变膜盒的校准方法的步骤。
[0015]相比于相关技术，本申请具有如下有益效果：
[0016]本专利技术通过子程序发送的测试条件请求使主程序根据测试条件请求施加相对应的目标测试环境，子程序通过所述压变膜盒在所述目标测试环境下输出的当前测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到所述压变膜盒的目标校准参数，使所述压变膜盒在实际使用中对采集到的压力数据根据所述目标校准参数进行校准后输出；因此，本专利技术通过子程序和主程序自动实现对测试环境的施加和校准运算，解决了现有技术校准效率低的问题；通过多个子程序实现同时对多个膜盒进行校准，且每个子程序独立完成每个膜盒的校准过程，相互不干扰，从而进一步提高了校准效率。
附图说明
[0017]图1所示为本申请一示例性实施例提供的一种压变膜盒的校准方法的流程示意图；
[0018]图2所示为本申请一示例性实施例提供的子程序执行步骤的具体流程示意图；
[0019]图3所示为本申请一示例性实施例提供的一种压变膜盒的校准系统的结构示意图；
[0020]图4所示为本申请一示例性实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0021]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0022]图1所示为本申请一示例性实施例提供的一种压变膜盒的校准方法的流程示意图，如图1所示，应用于运行有主程序和多个子程序的处理器时，本申请提供的压变膜盒的校准方法具体包括以下步骤，需要说明的是在测试允许范围内，以下步骤可以互相调换，所述步骤的顺序不构成本方法的限制：
[0023]步骤S101，子程序发送测试条件请求到主程序，使主程序根据请求的测试条件对压变膜盒施加目标测试环境。
[0024]需要说明的是，本实施例中运行在处理器中的多个子程序分别与多个压变膜盒通信连接，即可实现同时对多个压变膜盒进行校准。测试条件包括但不限于10帕测试压力、50帕测试压力、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种压变膜盒的校准方法，其特征在于，所述方法包括：子程序发送测试条件请求到主程序，使主程序根据请求的测试条件对压变膜盒施加目标测试环境；所述子程序获取所述主程序施加目标测试环境的实际参数以及所述压变膜盒在所述目标测试环境下输出的测量参数；所述子程序根据所有的实际参数和测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数；所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒。2.如权利要求1所述的压变膜盒的校准方法，其特征在于，所述子程序根据所述的所有的实际参数和测量参数，对所述压变膜盒进行校准，得到目标校准参数，包括：所述子程序将所述实际参数和测量参数输入校准模型中进行计算，得到所述目标校准参数。3.如权利要求1所述的压变膜盒的校准方法，其特征在于，在所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒之后，所述方法还包括：所述子程序再次发送测试条件请求到所述主程序，使所述主程序根据所述请求的测试条件对写入目标校准参数的压变膜盒再次施加所述目标测试环境；所述子程序获取所述主程序施加目标测试环境的实际参数；所述子程序获取写入目标校准参数的压变膜盒在所述目标测试环境下输出的目标测量参数；所述子程序获取所述实际参数与所述目标测量参数的差值；当所述差值在预设范围内时，所述子程序判定所述压变膜盒校准成功。4.如权利要求1所述的压变膜盒的校准方法，其特征在于，所述子程序将所述目标校准参数写入所述压变膜盒之后，所述方法还包括：所述子程序发送下一个不同类型的测试条件请求到所述主程序，使所述主程序根据所述下一个测试条件请求对压变膜盒施加下一个目标测试环境；所述子程序根据所述压变膜盒在下一个目标测试环境下的实际参数和输出的测量参数对所述压变膜盒进行校准，得到下一个目标校准参数并将所述下一个目标校准参数写入所述压变膜盒。5.如权利要求1所述的压变膜盒的校准方法，其特征在于，所述主程序根据所述测试条件请求对压变膜盒施加...

【专利技术属性】
技术研发人员：马雪清，杨晓花，
申请(专利权)人：重庆横河川仪有限公司，
类型：发明
国别省市：