一种光镊实现与测量装置及光镊力测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光镊实现与测量装置及光镊力测量方法，其包括激光器、对所述激光器发出的光束进行扩束整形的第一透镜与第二透镜、接收所述第二透镜射出光束并向下反射进入一物镜的分光镜、位于所述物镜下方的微纳腔、驱动所述微纳腔实现水平移动的电动移载平台、位于所述分光镜上方且与所述物镜位于同一光学母线上的CCD相机、以及与所述CCD相机电连接的显示器；所述第二透镜受三轴调节驱动机构驱动进行XYZ三轴的位置调整。本发明专利技术可以直观观测到激光可行形成梯度力光阱，束缚微纳腔中溶液中微小颗粒，对特定大小微球进行光镊力的测量可以使得了解固定功率的激光器最终能参数多大的实际光镊力。多大的实际光镊力。多大的实际光镊力。

【技术实现步骤摘要】
一种光镊实现与测量装置及光镊力测量方法


[0001]本专利技术属于光镊
，具体的说涉及一种光镊实现与测量装置及光镊力测量方法。

技术介绍

[0002]光镊又被称为单光束梯度力光阱，日常，我们用来挟持物体的镊子，都是有形物体，我们感觉到镊子的存在，然后通过镊子施加一定的力钳住物体。捕获微小粒子的光镊是一个特别的光场，这个光场与物体相互作用时，物体整个受到光的作用从而达到被钳的效果，然后可以通过移动光束来实现迁移物体的目的。如果以形成光场的中心划定一个几微米方圆的区域，我们将会观察到一旦光子涉足这个禁区就会自动迅速坠落光的中心，表现出这个光场具有地心引力的效应。光镊是激光力学效应为基础的一种物理工具，是利用强汇聚的光场与微粒的相互作用时形成的光学势阱来俘获粒子。光镊技术自一般需要专业人员搭建光路，由于光镊力非常小，只能捕获很微小的粒子，无法用肉眼直接观测，更无法测量其力的大小。通常是通过激光器功率进行理论计算光镊力的大小，但是在整个过程中光路的多次折叠使得光强有很大的损耗，而真正作用到粒子上大光强又无法直接测量，仅靠理论计算误差太大。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光镊实现与测量装置，其特征在于：其包括激光器、对所述激光器发出的光束进行扩束整形的第一透镜与第二透镜、接收所述第二透镜射出光束并向下反射进入一物镜的分光镜、位于所述物镜下方的微纳腔、驱动所述微纳腔实现水平移动的电动移载平台、位于所述分光镜上方且与所述物镜位于同一光学母线上的CCD相机、以及与所述CCD相机电连接的显示器；所述第二透镜受三轴调节驱动机构驱动进行XYZ三轴的位置调整。2.如权利要求1所述的光镊实现与测量装置，其特征在于：所述激光器为波长为650nm的红光激光器。3.如权利要求1所述的光镊实现与测量装置，其特征在于：所述微纳腔内盛放有已知密度的液体，所述液体中放入有微球。4.如权利要求3所述的光镊实现与测量装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：张俊飞，陈小林，陈凡，
申请(专利权)人：复拓科学仪器苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：