空间光学遥感仪器太阳漫反射定标孔径因子的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种空间光学遥感仪器太阳漫反射定标孔径因子的测试方法，包括以下步骤：(1)放置一块与星上定标舱内的漫反射板同批次、同材料、同工艺且平行的全孔径漫反射板；(2)准直光源照明全孔径漫反射板；(3)遥感仪器和光谱辐射计同步观测全孔径漫反射板；(4)准直光源照明局部孔径漫反射板；(5)遥感仪器和光谱辐射计同步观测局部孔径漫反射板；(6)计算加权平均光谱辐亮度；(7)计算孔径因子的系统级测量值。该方法与流程简单易于实施，具有很好的通用性；采用基于系统级完整链路的全孔径与局部孔径漫反射板比对测量法，并对漫反射板进行同步监测，该方法的测量结果比现有方法更接近于系统真实值，具有更高的测量精度。具有更高的测量精度。具有更高的测量精度。

【技术实现步骤摘要】
空间光学遥感仪器太阳漫反射定标孔径因子的测试方法


[0001]本专利技术属于光学遥感仪器辐射定标的
，特别涉及到一种空间光学遥感仪器太阳漫反射定标孔径因子的测试方法。

技术介绍

[0002]目前，国际主流典型空间光学遥感仪器基本都采用“太阳+漫反射板”或“太阳+衰减屏+漫反射板”的在轨绝对辐射定标技术方案，通过引入均匀且高度稳定的太阳辐射作为反射波段在轨辐射定标的标准源。理想情况下，优先考虑的是采用全孔径，全光路，全视场的太阳漫反射板定标方案。在空间光学遥感仪器设计阶段，受到体积、重量及光机结构布局等因素的约束，漫反射板的尺寸可能无法实现全孔径，这时通常会采用局部孔径的太阳漫反射定标方案。
[0003]对于局部孔径方案，非常重要的一个参数是孔径因子。获取孔径因子的途径主要有局部孔径与全孔径光阑几何尺寸测量法，光学软件系统仿真法等，这些方法给出的孔径因子基本上都是理想值。对于系统结构比较复杂的遥感仪器，该值可能与系统真实的孔径因子相差很大，严重影响太阳漫反射定标的精度。
[0004]因此，需要研究一种空间光学遥感仪器太阳漫反本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种空间光学遥感仪器太阳漫反射定标孔径因子的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)在遥感仪器的对地观测光路最前端放置一块与星上定标舱内的漫反射板同批次、同材料、同工艺且相互平行的全孔径尺寸漫反射板；(2)采用高稳定性、高重复性的准直光源模拟太阳的发散角和强度照明步骤(1)中的全孔径漫反射板；(3)遥感仪器观测并采集步骤(2)中被照明的全孔径漫反射板响应信号，记为DN
full
；同步采用高精度标准传递光谱辐射计保持与遥感仪器相同的观测方向测量该漫反射板的光谱辐亮度，记为λ是波长；(4)调整遥感仪器的位置，使步骤(2)中相同状态的准直光源以同一入射方向照明星上定标舱内的局部孔径漫反射板；(5)遥感仪器观测并采集步骤(4)中被照明的星上定标...

【专利技术属性】
技术研发人员：李秀举，韩昌佩，曹琦，王保勇，王伟成，李盼盼，付晶，周树添，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：