【技术实现步骤摘要】
CL08
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08型硅块外观数量检查冶具
[0001]本技术涉及电子
,具体涉及一种CL08
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08型硅块外观数量检查冶具。
技术介绍
[0002]CL08
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08型高频大电流高压二极管是为微波电源、变频微波炉配套的关键器件。
[0003]现行CL08
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08型芯片生产线,切断清洗后硅块进行外观选别检查,仅用筛网进行人工目视粗检,硅块外检质量控制不到位,存在尺寸不符规格要求的硅块流入后道工序的风险。外观检查对生产批硅块数量统计采用称重方式,根据重量折算成数量,对生产批硅块数量统计不准确。
技术实现思路
[0004]为解决上述问题,本技术提出了一种CL08
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08型硅块外观数量检查冶具。
[0005]本技术的技术方案:
[0006]一种CL08
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08型硅块外观数量检查冶具,所述硅块为方体,其长度为a、宽度为b、高度为b;所述检查冶具包括主体;所述主体上设置有若干沟槽,所述沟槽为方槽,其长度大于a、宽度等于b+0.25、高度等于b。
[0007]所述沟槽的长度大于n*a,n为大于等于1的正整数。
[0008]所述沟槽的长度小于(n+1)*a。
[0009]若干沟槽依次排列。
[0010]所述主体两侧边凸起形成挡边。
[0011]所述主体两侧边凸起形成挡边,挡边与沟槽平行。
[0012]所述主体材质为亚克力或酚醛塑料材质。< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种CL08
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08型硅块外观数量检查冶具,所述硅块为方体,其长度为a、宽度为b、高度为b;所述检查冶具包括主体;其特征在于,所述主体上设置有若干沟槽,所述沟槽为方槽,其长度大于a、宽度等于b+0.25、高度等于b。2.根据权利要求1所述的一种CL08
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08型硅块外观数量检查冶具,其特征在于,所述沟槽的长度大于n*a,n为大于等于1的正整数。3.根据权利要求2所述的一种CL08
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08型硅块外观数量检查冶具,其特征在于,所述沟槽的长度小于(n+1)*a。4.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈许平,
申请(专利权)人:江苏皋鑫电子有限公司,
类型:新型
国别省市:
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