基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置，所述的工装包括固定环、法兰盘、夹持组件、角度调节组件，所述的法兰盘安装在固定环内圈中并可沿固定环内圈周向旋转，所述的夹持组件设置多组并沿法兰盘周向均匀分布在其边缘，所述的夹持组件为径向距离可调的夹持组件，安装传感器时，多组夹持组件与传感器侧面接触并夹持，所述的角度调节组件设置在法兰盘和固定环上，所述的角度调节组件用于调整法兰盘相对固定环的旋转角度并固定所述的法兰盘的位置。与现有技术相比，本发明专利技术能够精确调节传感器的位置和角度，解决了目前测试方法存在结果一致性较差的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置


[0001]本专利技术涉及特高频局部放电测试
，尤其是涉及一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置。

技术介绍

[0002]特高频局部放电检测技术是电力设备早期故障发现，故障诊断及定位的重要方法，特高频局部放电传感器是一个工作在300MHz～3000MHz的宽频带天线。相关标准规定了特高频局部放电带电检测仪器技术规范以及试验方法，包括特高频局部放电传感器有效高度性能指标与检测仪器性能指标。性能测试中，传感器在300MHz～1500MHz之间的平均有效高度应不小于8mm，且最小有效高度宜不小于3mm。
[0003]目前采用的基于GTEM小室的测量标定系统由标定脉冲信号源、GTEM小室、单级标准探针、高速数字示波器、测控计算机、分析软件及各种线缆附件组成。测量标定系统结构示意如图1所示，在GTEM小室上开设安装传感器的安装孔。利用基于GTEM小室的测量标定系统进行传感器有效高度测试的原理如图2所示。在现有测量方法下，传感器通过一块安装板直接安装在GTEM小室本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，包括固定环(1)、法兰盘(2)、夹持组件(3)、角度调节组件(4)，所述的法兰盘(2)安装在固定环(1)内圈中并可沿固定环(1)内圈周向旋转，所述的夹持组件(3)设置多组并沿法兰盘(2)周向均匀分布在其边缘，所述的夹持组件(3)为径向距离可调的夹持组件(3)，安装传感器时，多组夹持组件(3)与传感器侧面接触并夹持，所述的角度调节组件(4)设置在法兰盘(2)和固定环(1)上，所述的角度调节组件(4)用于调整法兰盘(2)相对固定环(1)的旋转角度并固定所述的法兰盘(2)的位置。2.根据权利要求1所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的法兰盘(2)包括法兰盘面(21)和安装环(22)，所述的安装环(22)和法兰盘面(21)同轴安装，所述的法兰盘面(21)周侧设有外凸的凸缘(23)，对应的所述的固定环(1)内圈底部设有与所述的凸缘(23)适配的凹槽(13)，所述的凸缘(23)卡入所述的凹槽(13)中旋转设置，所述的夹持组件(3)安装在所述的安装环(22)上将所述的传感器夹持固定在所述的法兰盘面(21)上。3.根据权利要求2所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的夹持组件(3)包括滑块(31)、限位固定块(32)和锁紧件，所述的限位固定块(32)安装在所述的安装环(22)上，所述的限位固定块(32)上设有用于限制滑块(31)沿法兰盘面(21)径向滑动的滑动口，所述的滑块(31)安装在所述的滑动口中，当滑块(31)滑动到位后，所述的滑块(31)通过所述的锁紧件与所述的限位固定块(32)锁紧。4.根据权利要求3所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的滑块(31)包括滑条和挡板(43)，所述的挡板(43)固定在滑条一端部，所述的滑条滑动安装在所述的限位固定块(32)的滑动口中，所述的挡板(43)用于与所述的传感器侧面抵触压紧所述的传感器。5.根据权利要求4所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传...

【专利技术属性】
技术研发人员：任茂鑫，王劭菁，舒博，徐鹏，周海洋，钱勇，
申请(专利权)人：华东电力试验研究院有限公司上海交通大学，
类型：发明
国别省市：