对接机构及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种对接机构，包括第一校正模块，所述第一校正模块包括相对设置的探针模块和导向模块，所述导向模块与探针模块相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动，校正探针端头与待测品对接头之间的偏差。本发明专利技术的对接机构通过设置三级校正模块，逐级对正载具、待测品、待测品对接头，提高了待测品对接头与探针端头的对准精度，降低了对接难度；并且每个对接机构分别自动校正，互相不干扰，提高了工作效率。提高了工作效率。提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
对接机构及装置


[0001]本专利技术涉及测试设备
，尤其涉及一种对接机构。

技术介绍

[0002]由于社会发展的需要，电子元器件变的越来越复杂，这就要求了电子元器件必须具有小型化、可靠性等特点。在完成电子元器件制造过程后，需要对电子元器件件进行测试。在对电子元器件测试的过程中容易出现对接精度低、甚至损坏电子元器件的情况。
[0003]现在采用人工操作或者是机器自动操作，这些方案仍然存在一些缺陷。例如：人工对电子元器件的插线测试会出现插线不能精准对接的情况，甚至会损坏电子元器件，不仅效率低而且成本高；机器自动操作采用视觉引导进行对插，虽然对接精度高，但是只能单个测试，效率低，达不到批量生产要求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种快速对接且对接精度高的对接机构及装置。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种对接机构，包括第一校正模块，所述第一校正模块包括相对设置的探针模块和导向模块，所述导向模块与探针模块相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动，校正探针端头与待测品对接头之间的偏差。
[0006]在本专利技术的一实施例中，所述探针模块与导向模块之间设置有多个第一弹性件，所述导向模块加工有一导向槽，所述导向槽加工有45度倒角。
[0007]在本专利技术的一实施例中，所述对接机构还包括第二校正模块，所述第二校正模块包括第二活动板和第二基板，所述第二活动板与第二基板相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动，所述探针模块与第二活动板固定连接。r/>[0008]在本专利技术的一实施例中，所述第二活动板与第二基板通过多个第二锥孔与多个第二锥件相连接，且第二活动板与第二基板之间设有多个第二弹性件。
[0009]在本专利技术的一实施例中，所述第二锥孔与第二锥件之间间隙配合，所述第二锥孔、第二锥件母线的线面角均为45度。
[0010]在本专利技术的一实施例中，所述对接机构还包括第三校正模块，所述第三校正模块包括第三活动板和第三基板，所述第三活动板与第三基板相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动，所述第二基板与第三活动板固定连接，所述第二基板/第三活动板上设有一对定位销，所述定位销的顶部高度高于第一校正模块的高度。
[0011]在本专利技术的一实施例中，所述第三活动板与第三基板通过多个第三锥孔与多个第三锥件相连接，所述第三锥件外表面套设有第三弹性件。
[0012]在本专利技术的一实施例中，所述第三锥孔与第三锥件之间间隙配合，所述第三锥孔、第三锥件母线的线面角均为45度，所述定位销母线的线面角为60度。
[0013]在本专利技术的一实施例中，所述探针模块上设置有多个探针，多个探针可通过导向模块伸出。
[0014]在本专利技术的对接装置，包括至少两个前述对接机构，所述对接装置还包括用于下压的压板和驱动压板下压的驱动机构。
[0015]综上所述，本专利技术的对接机构通过设置三级校正模块，逐级对正载具、待测品、待测品对接头，提高了待测品对接头与探针端头的对准精度，降低了对接难度；并且每个对接机构分别自动校正，互相不干扰，提高了工作效率。
附图说明
[0016]图1为本专利技术的对接装置的结构图；
[0017]图2为本专利技术的对接机构的主视图；
[0018]图3为本专利技术的第三校正模块的剖视图；
[0019]图4为本专利技术的第二校正模块、第三校正模块组合的结构图；
[0020]图5为图4中沿线A
‑
A剖开的剖视图；
[0021]图6为图4中沿线B
‑
B剖开的剖视图；
[0022]图7为本专利技术的第二活动板的结构图；
[0023]图中，D、对接机构；1、压板；2、驱动机构；3、载具放置板；
[0024]4、第一校正模块；41、探针模块；42、导向模块；43、第一弹性件；44、第一凹槽；45、导向槽；46、探针；
[0025]5、第二校正模块；51、第二活动板；52、第二基板；53、第二锥孔；54、第二锥件；55、第二凹槽；56、第二弹性件；57、容纳部；58、开口；
[0026]6、第三校正模块；61、第三活动板；62、第三基板；63、第三锥孔；64、第三锥件；65、第三弹性件；66、定位销。
具体实施方式
[0027]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。
[0028]本专利技术是在对电子元器件测试时校正电子元器件对接头与探针端头偏差的对接机构，用来提高测试精度和测试效率，降低对接难度。下述实施例中将待测电子元器件称为待测品。
[0029]如图1所示，本实施例的对接装置包括八个对接机构D、压板1和驱动机构2，驱动机构2驱动压板1向着对接机构D压合，八个对接机构D固定在同一固定板上，在一驱动件的驱动下同步靠近或者远离压板1。八个对接机构D在固定板上分两排设置，每一排四个对接机构D，每个对接机构D分别独立工作，互不影响，八个对接机构D同时与待测品对接，提高效率。八个对接机构D上方设置有载具放置板3，载具放置板3上放置有载具，载具上放置有与八个对接机构D对应设置的八个待测品，可以在压板1的作用下与每个对接机构D对接，从而实现待测品测试的功能。
[0030]如图2所示，每个对接机构D均包括第一校正模块4、第二校正模块5和第三校正模块6，从上到下依次设置。第一校正模块4校正多个探针端头与待测件对接头之间的偏差，第二校正模块5校正第一校正模块4与待测件之间的偏差，第三校正模块校正对接机构D与载具之间的偏差。
[0031]如图3所示，第三校正模块6包括第三活动板61和第三基板62，第三基板62与固定板固定连接，第二校正模块5与第三活动板61固定连接。第三基板62加工有两对第三锥孔63，每个第三锥孔63内均设有第三锥件64，每个第三锥件64外圆柱面均套设有第三弹性件65，第三锥件64共同连接第三活动板61。每个第三弹性件65一端抵接在第三活动板61下表面，另一端抵接在第三基板62的上表面。第三锥孔63与第三锥件64间隙配合，轴孔间隙为0.8mm，锥度部分完全贴合，第三锥孔63、第三锥件64母线的线面角均为45度。第三弹性件65设置在第三活动板61和第三基板62之间，在第三活动板61被压合靠近第三基板62后提供一恢复力。
[0032]第二校正模块5包括第二活动板51和第二基板52。第三校正模块6还包括设置在第二基板52上的一对定位销66，定位销66的顶部高于第一校正模块4的高度，与第三校正模块6配合，实现对第二校正模块5的校正。一对定位销66穿过载具的定位孔，对第二校正模块5进行导向，使第二校正模块5向着载具的位置靠近。
[0033]一对定位销66与第三活动板61、第三基板62的配合，使第二校正模块5能够在第三活动板61的带动下，与第三基板62相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动。其中，X方向，Y方向，Z方向即为空间直角坐标系中的X轴方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对接机构，包括第一校正模块，其特征在于，所述第一校正模块包括相对设置的探针模块和导向模块，所述导向模块与探针模块相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动，校正探针端头与待测品对接头之间的偏差。2.如权利要求1所述的对接机构，其特征在于，所述探针模块与导向模块之间设置有多个第一弹性件，所述导向模块加工有一导向槽，所述导向槽加工有45度倒角。3.如权利要求1所述的对接机构，其特征在于，所述对接机构还包括第二校正模块，所述第二校正模块包括第二活动板和第二基板，所述第二活动板与第二基板相对于彼此可在X、Y、Z三个方向上活动，所述探针模块与第二活动板固定连接。4.如权利要求3所述的对接机构，其特征在于，所述第二活动板与第二基板通过多个第二锥孔与多个第二锥件相连接，且第二活动板与第二基板之间设有多个第二弹性件。5.如权利要求4所述的对接机构，其特征在于，所述第二锥孔与第二锥件之间间隙配合，所述第二锥孔、第二锥件母线的线面角均为45度。6.如权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡亮，王晓峰，潘财，
申请(专利权)人：苏州杰锐思智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：