一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具制造技术

本发明专利技术公开了一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具，包括结构相同的第一测试夹具和第二测试夹具，第一测试夹具和第二测试夹具的上表面和一个侧面上分别设有法兰盘，每个测试夹具上表面和侧面的法兰盘通过测试夹具内部的L型波导连接；第一测试夹具和第二测试夹具的法兰盘用于连接矢量网络分析仪或被测件。本发明专利技术将校准和去嵌入应用到波导端口测试夹具，通过校准的方法将测试端面移动到被测件的端面，或者通过去嵌入的方法去掉夹具的影响，就可以得到被测件的真实测试结果。同时将波导端口测试夹具分为两个部分，同一组夹具可应用到处于同一平面不同位置的波导端口被测件。测件。测件。

【技术实现步骤摘要】
一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具


[0001]本专利技术涉及一种波导端口测试夹具，特别是一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具，同时本夹具适用于多种波导端口处于同一水平面不同位置的双端口被测件(DUT)。

技术介绍

[0002]波导端口测试夹具，在对波导端口处于同一平面的双端口被测件(DUT)进行测量时，需要一个波导端口测试夹具来放置被测件，通过这个夹具将被测件与测试设备连接起来。
[0003]在进行测试前都需要对测试设备进行校准，校准方法很多如SOLT、SOLR、TRL等，通过标准校准件进行校准可以将测试端面从矢网移到校准端面。去嵌入技术是在已知测试设备S参数的基础之上对被测件进行测量，然后用被测件的测试结果减去测试设备S参数得到被测件的实际S参数。通过校准和去嵌入的方法都可以将测试设备对被测件的影响消除，从而反应被测件的真实情况。
[0004]目前，对端口为波导的被测件进行测试前都是对测试仪器进行校准，忽略夹具给被测件带来的影响，这样的测试结果不仅有被测件的结果，还存在夹具的。同时这类夹具的波导端口位置固定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具，其特征在于，包括结构相同的第一测试夹具和第二测试夹具，第一测试夹具和第二测试夹具的上表面和一个侧面上分别设有法兰盘，每个测试夹具上表面和侧面的法兰盘通过测试夹具内部的L型波导连接；第一测试夹具和第二测试夹具的法兰盘用于连接矢量网络分析仪或被测件。2.根据权利要求1所述的一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具，其特征在于，所述第一测试夹具和第二测试夹具均采用两个长方体结构拼接制成，两个长方体结构通过销钉和螺钉连接固定，测试夹具的法兰盘包括两个半圆形的半法兰盘，两个半法兰盘分别对称地位于两个长方体结构的上表面和侧面，L型波导对称地设置在两个长方体结构的相邻侧面上...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡江，傅香渝，周扬帆，刘林杰，乔志壮，郭丰强，侯耀伟，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十三研究所，
类型：发明
国别省市：