元件引脚外露缺陷检测的方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:41430720 阅读:24 留言:0更新日期:2024-05-28 20:27
本发明专利技术提供了一种元件引脚外露缺陷检测的方法、装置及电子设备,方法包括:获取待检测元件的区域图像;基于预先设置的3D检测算法对区域图像进行过滤得到第一图像;将第一图像输入至预先获取的推理模型中,以通过推理模型输出第一图像对应的标签图像;推理模型基于深度学习推理工具和预先训练得到的语义分割模型确定;如果标签图像中包括引脚外露区域,根据预先设置的工业生产需要和2D检测算法对引脚外露区域的尺寸和位置进行测量,得到测量结果;基于测量结果和预设指标,判定待检测元件是否存在引脚外露缺陷。该方式通过将2D检测算法、3D检测算法、推理模型与具体的工业场景相结合,有效地提升了检测精度和检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及工业视觉检测领域,尤其是涉及一种元件引脚外露缺陷检测的方法、装置及电子设备


技术介绍

1、目前自动光学检测系统(automatic optical inspection system,aoi)在电子组件制造和检测领域的应用尤为广泛, 但由于ntc引脚外露区域的形貌呈现出多样性、随机性、低对比度以及背景复杂等特点,使得传统的2d检测算法在检测过程中存在检测精度和检测速度较低的问题。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种元件引脚外露缺陷检测的方法、装置及电子设备,以将2d检测算法、3d检测算法、推理模型与具体的工业场景相结合,有效地提升检测精度和检测效率。

2、本专利技术提供的一种元件引脚外露缺陷检测的方法,方法包括:

3、获取待检测元件的区域图像;

4、基于预先设置的3d检测算法对区域图像进行过滤,得到第一图像;

5、将第一图像输入至预先获取的推理模型中,以通过推理模型输出第一图像对应的标签图像;其中,推理模型基于深度学习推理工本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种元件引脚外露缺陷检测的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于预先设置的3D检测算法对所述区域图像进行过滤,得到第一图像的步骤包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述3D点云数据包括多个数据点,基于所述3D点云数据和最小二乘法对所述区域图像进行过滤,得到第一图像的步骤包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述语义分割模型通过下述方式训练得到:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于所述目标训练集和所述目标验证集对预先构建的语义分割网络进行迭代训练,得到第二语义...

【技术特征摘要】

1.一种元件引脚外露缺陷检测的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于预先设置的3d检测算法对所述区域图像进行过滤,得到第一图像的步骤包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述3d点云数据包括多个数据点,基于所述3d点云数据和最小二乘法对所述区域图像进行过滤,得到第一图像的步骤包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述语义分割模型通过下述方式训练得到:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于所述目标训练集和所述目标验证集对预先构建的语义分割网络进行迭代训练,得到第二语义分割模型的步骤包括:

6.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾鑫刘晨帆
申请(专利权)人:苏州杰锐思智能科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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