【技术实现步骤摘要】
一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘
[0001]本技术涉及芯片检测
,更具体地说,涉及一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘。
技术介绍
[0002]芯片在封装厂封装完成后,要进行成品的最终测试。目前,常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中,通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片,然后再将芯片放至测试模块中进行测试。芯片在进行测试前需要通过吸盘将芯片吸附固定后在进行测试工作。目前用于芯片测试的吸盘通常都是通过与外部负压机连接,通过吸力吸附芯片,但吸力一旦取消时,芯片会自动滑落,容易对芯片表面造成损伤,现有技术公开号为CN213381230U的专利文献提供一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘,该装置包括吸盘本体,吸盘本体的上端面对称开设有两个限位槽,每个限位槽的侧壁内均固定安装有伺服电机,伺服电机的输出端固定安装有螺纹杆,每个螺纹杆上螺纹连接有螺纹块,螺纹块的上端固定安装有固定块,两个固定块相对的一侧分别固定安装有两个连接板,每个连接板的下端面均固定安装有伸缩气缸,每个伸缩气缸均通过活塞杆固定安装有安装板。 />[0003]虽然本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘,包括测试台(1),其特征在于:所述测试台(1)顶面中部开设有多个负压孔(2),所述测试台(1)顶面中部固定连接有密封垫圈(3),所述密封垫圈(3)下侧设有负压盒(4),所述负压盒(4)底面中部固定连接有负压管(5),所述负压管(5)右端穿过测试台(1)延伸至外侧,且所述负压管(5)内设有单向阀(6),所述单向阀(6)包括限位环A(601),所述限位环A(601)右部抵接配合有限位球(602),所述限位球(602)右部固定连接有弹簧A(603),所述负压盒(4)左壁固定连接有泄压管(7),所述泄压管(7)内设有泄压机构(8),所述泄压机构(8)包括限位环B(801),所述限位环B(801)上部抵接配合有泄压塞(802),所述泄压塞(802)顶面中部固定连接有连杆(803),所述连杆(803)外部套设有弹簧B(804),所...
【专利技术属性】
技术研发人员:连晓奎,
申请(专利权)人:上海良薇机电工程有限公司,
类型:新型
国别省市:
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