【技术实现步骤摘要】
基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置和方法
[0001]本专利技术涉及一种激光参数测量装置及使用该装置的激光参数测量方法,具体涉及一种基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置和测量方法。
技术介绍
[0002]在高功率激光参数测量中,光束质量是一个重要的参数,表示激光束向远场发射的能力。常见的光束质量包括M2因子、β参数和桶中功率(PIB因子)等,其中PIB因子代表了激光束在远场的功率集中度和可聚焦能力。
[0003]在高功率激光远场PIB因子测量中,通常需要测量直径为厘米级内的激光桶中功率参数。现有的PIB测量方法是根据测量要求采用设定直径(比如20毫米)的光阑孔设置在光学调节架上,光阑孔后面采用光功率计探头测量光功率,通过微调光阑孔的位置使得获取的光功率的值最大,即为该激光束的PIB值。这种方法存在的问题是激光的光束不稳定时,强光点的位置发生变化,导致无法采用光阑孔捕捉到激光光强最大值,故只能适用于连续输出的稳定激光器。
[0004]申请号为CN201710131735.1,专利技术名称为基于平板渐开线孔取样的激光光束质量测量装置和方法,申请号为CN201911214277.3,专利技术名称为一种激光远场光束质量PIB因子的测量装置及测量方法,以及申请号为CN201911215439.5,专利技术名称为一种激光远场桶中功率分布曲线的绝对测量装置及方法,三篇专利中均公开了基于平板渐开线微孔线列实现激光光斑扫描,实现激光空间变换频率不高的激光PIB因子测量及光斑空间分布测量。这些技术方 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置,其特征在于:包括测量光阑(1)、探测器(2)、支撑(4)、数据采集系统、设置在测量光阑(1)和探测器(2)之间的第一扫描盘(11)和第二扫描盘(21)以及机架;所述支撑(4)安装在机架上,支撑(4)上通过轴承安装有第一转轴(13)和第二转轴(23);所述第一扫描盘(11)和第二扫描盘(22)分别安装在第一转轴(13)和第二转轴(23)上,可在第一转轴(13)和第二转轴(23)带动下转动;所述第一转轴(13)和测量光阑(1)中心之间的连线与所述第二转轴(23)和测量光阑(1)中心之间的连线垂直且距离相等;所述第一扫描盘(11)上设置有一组呈渐开线均匀间隔排布且直径相同的第一取样孔(12),所述第一取样孔(12)的孔径小于测量光阑(1)的直径,且相邻两只第一取样孔(12)中心线的间距大于测量光阑(1)的直径;所述第二扫描盘(21)上设置有一组呈渐开线均匀间隔排布且直径相同的第二取样孔(22);所述第二取样孔(22)的孔径小于测量光阑(1)的直径,且相邻两只第二取样孔(22)中心线的间距大于测量光阑(1)的直径;所述第一扫描盘(11)和第二扫描盘(21)上渐开线的轨迹相同、第一取样孔(12)之间的间距和第二取样孔(22)之间的间距相同、第一取样孔(12)与第二取样孔(22)的孔径相同;所述第一转轴(13)和第二转轴(23)通过同步传动单元驱动;待测量激光束(8)入射至测量光阑(1),经第一扫描盘(11)和第二扫描盘(21)上的第一取样孔(12)和第二取样孔(22)分时交错扫描后入射至探测器(2),所述数据采集处理单元记录并处理探测器(2)的输出信号,计算得到激光的激光光斑分布及PIB因子。2.根据权利要求1所述的基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置,其特征在于:还包括位置触发单元,位置触发单元包括在第一扫描盘(11)和第二扫描盘(22)的边沿处分别设置的第一定位狭缝(15)和第二定位狭缝(25),以及在机架上设置的第一同步开关(14)和第二同步开关(24);所述第一定位狭缝(15)和第一同步开关(14)相配合,第二定位狭缝(25)和第二同步开关(24)相配合,用于触发数据采集系统,为待测量激光束(8)光强分布的图像复原提供位置基准信号。3.根据权利要求2所述的基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置,其特征在于:所述同步传动单元为同步带传动驱动装置,包括电机(3)、第一同步带轮(16)、第二同步带轮(26)和同步带(5);所述第一同步带轮(16)、第二同步带轮(26)分别设置在第一转轴(13)和第二转轴(23)上,同步带(5)联接在第一同步带轮(16)、第二同步带轮(26)之间;所述电机(3)的输出端与第一转轴(13)或第二转轴(23)相联。4.根据权利要求2所述的基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置,其特征在于:所述同步传动单元为齿轮传动驱动装置,包括电机(3)、第三转轴(7)、第一齿轮(17)、第二齿轮(...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈绍武,杨鹏翎,栾昆鹏,王振宝,陶波,王大辉,薛天旸,崔萌,
申请(专利权)人:西北核技术研究所,
类型:发明
国别省市:
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