一种测试装置制造方法及图纸

本申请实施例公开一种测试装置，包括：底座；贴合设置于底座上表面的用以测试待测件的测试板；位于测试板上的与测试板配合使用的定位组件；定位组件的中心位置处具有用以暴露测试板上的测试区的型腔；待测件通过型腔放置于测试区内；用以对位于测试区的待测件进行固定的按压机构；定位组件包括：用以对待测件进行定位的第一定位件；以及并排设置的两个第二定位件；第一定位件和两个第二定位件相互配合形成型腔。通过定位组件的设置，可以对待测件进行固定，使其不会脱离测试区，提高了待测件的测试效率以及待测件测试时的稳定性，而且本发明专利技术提供的测试装置对于不同尺寸的被测件都均适用。适用。适用。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置


[0001]本申请涉及测试
，更具体地，本申请涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]高频表贴型的微带环行器在微波通信、雷达等系统中的应用需求越来越多。然而对于微带环形器的测试目前的测试夹具主要采用连接器与测试器件侧面搭接或探针台搭接测试的形式。该形式不适用于S
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K波段表贴型微带环行器测试，且测试效率低。而且对表贴型微带环行器进行测试的传统测试夹具，采用固定块固定被测微带环行器，连接稳定性差且测试效率低。除此之外，微带环行器主要有铁氧体微带片和其上方的绝缘介质片、永磁体等组成。铁氧体及永磁体均属于易碎品，反复直接大力压接容易造成永久性损伤。
[0003]因此，为了克服现有技术存在的缺陷，需要提供一种测试装置。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种测试装置，以解决现有技术中存在的问题中的至少一个。
[0005]为了达到上述目的中至少一个，本申请采用下述技术方案：
[0006]本申请提供一种测试装置，包括：
[0007]底座；
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：底座；贴合设置于所述底座上表面的用以测试待测件的测试板；位于所述测试板上的与所述测试板配合使用的定位组件；所述定位组件的中心位置处具有用以暴露测试板上的测试区的型腔；待测件通过所述型腔放置于所述测试区内；用以对位于所述测试区的待测件进行固定的按压机构；所述定位组件包括：用以对待测件进行定位的第一定位件；以及并排设置的两个第二定位件；所述第一定位件和两个所述第二定位件相互配合形成所述型腔。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一定位件包括有固定孔；所述固定孔内具有固定件；所述固定件穿过固定孔将第一定位件固定于所述测试板上。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一定位件靠近所述第二定位件的一侧边缘形成有第一开槽；两个所述第二定位件靠近所述第一定位件的角部均形成有第二开槽；所述第一开槽和两个所述第二开槽共同构成所述型腔。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二定位件的角部的对角位置处具有调节孔，所述调节孔贯穿所述第二定位件的侧壁；所述调节孔内包括有紧固件，该紧固件被配置为用以紧固所...

【专利技术属性】
技术研发人员：余杰，杨建新，霍亚磊，
申请(专利权)人：北京无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：