用于检查发光元件的设备及使用设备检查发光元件的方法技术

提供了用于检查发光元件的设备和使用所述设备检查发光元件的方法。所述设备包括：在一个方向上延伸并且包括流动路径的流动路径单元，其中混合了发光元件的溶液沿所述流动路径移动；至少一个对准单元，所述流动路径从所述流动路径单元的至少一部分延伸至所述至少一个对准单元；在所述流动路径单元的端部处并且所述发光元件堆叠在其中的堆积单元；以及在所述对准单元的外表面上的多个对准电极。所述对准单元的外表面上的多个对准电极。所述对准单元的外表面上的多个对准电极。

【技术实现步骤摘要】
用于检查发光元件的设备及使用设备检查发光元件的方法


[0001]本公开内容的实施方案涉及用于检查发光元件的设备以及使用所述设备检查发光元件的方法。

技术介绍

[0002]随着多媒体的发展，显示装置正变得越来越重要。因此，正在使用各种类型(或种类)的显示装置，例如有机发光显示器和液晶显示器。
[0003]显示装置是用于显示图像的装置，并且包括显示面板，例如有机发光显示面板或液晶显示面板。作为发光显示面板，显示面板可以包括发光元件，例如发光二极管(LED)。例如，LED可以是使用有机材料作为荧光材料的有机发光二极管(OLED)或者可以是使用无机材料作为荧光材料的无机LED。
[0004]可以将以上描述的发光元件放入与溶剂混合的溶液中，并且然后转移或印刷在衬底上。然而，发光元件本身的缺陷引起显示装置的像素的亮度降低。

技术实现思路

[0005]本公开内容的实施方案的方面提供了用于检查发光元件的缺陷的设备。
[0006]本公开内容的实施方案的方面还提供了通过排除有缺陷的发光元件(或通过减少有缺陷的发光元件的数量)来制造具有减少的缺陷的显示装置的方法。
[0007]然而，本公开内容的实施方案的方面不限于本文阐述的方面。通过参考以下给出的本公开内容的详细描述，本公开内容的实施方案的以上和其它方面对于本公开内容所属领域中的普通技术人员将变得更加明显。
[0008]根据本公开内容的实施方案的方面，提供了用于检查发光元件的设备，所述设备包括：在一个方向上延伸并且包括流动路径的流动路径单元，其中混合了发光元件的溶液沿所述流动路径移动；至少一个对准单元，所述流动路径从所述流动路径单元的至少一部分延伸至所述至少一个对准单元；在所述流动路径单元的端部处并且所述发光元件堆叠在其中的堆积(packaging)单元；以及在所述对准单元的外表面上的多个对准电极。
[0009]在实施方案中，所述流动路径单元包括在所述流动路径单元的上端部处的入口和在所述流动路径单元的下端部处的出口，并且所述入口和所述出口中的每一个具有矩形平面形状。
[0010]在实施方案中，所述流动路径的平面形状与所述入口或所述出口的所述平面形状相同(例如，基本上相同)。
[0011]在实施方案中，所述对准单元包括第一对准区域和第二对准区域，并且所述第一对准区域和所述第二对准区域在所述一个方向上彼此间隔开。
[0012]在实施方案中，所述第一对准区域或所述第二对准区域的直径大于所述发光元件中的每一个的长轴的长度。
[0013]在实施方案中，其中所述堆积单元包括：从所述流动路径单元延伸的存储部件，在
所述存储部件内的两个侧面上的多个检查电极，分别在所述存储部件的上端部和下端部处的过滤遮板，以及在所述流动路径单元外部并且移动所述检查电极的电极移动部件。
[0014]在实施方案中，所述检查电极与所述对准电极间隔开。
[0015]在实施方案中，所述过滤遮板包括在所述存储部件的所述上端部处的第一过滤遮板和在所述存储部件的所述下端部处的第二过滤遮板，并且所述第一过滤遮板和所述第二过滤遮板分别打开或关闭所述存储部件的所述上端部和所述下端部。
[0016]根据本公开内容的实施方案，提供了使用用于检查发光元件的设备来检查所述发光元件的方法，所述设备包括：在一个方向上延伸并且包括流动路径的流动路径单元；至少一个对准单元，所述流动路径从所述流动路径单元的至少一部分延伸至所述至少一个对准单元；在所述流动路径单元的端部处并且发光元件堆叠在其中的堆积单元；以及在所述对准单元的外表面上的多个对准电极，并且所述方法包括：制备其中所述发光元件与溶剂混合的溶液；按长度分选所述发光元件；将所述溶液注射进入所述检查设备，并且使用所述对准单元对准所述发光元件；使用所述堆积单元对准所述对准的发光元件；以及通过检查所述发光元件的电阻和亮度来确定所述发光元件是否是有缺陷的。
[0017]在实施方案中，使用表面声波技术分选出具有设定长度的发光元件，并且所述发光元件中的每一个的长度是3.8μm至4.2μm。
[0018]在实施方案中，表面声波具有165MHz至175MHz的频率带。
[0019]在实施方案中，所述对准单元通过将电信号施加至所述对准电极以产生电场来旋转和对准所述发光元件。
[0020]在实施方案中，所述堆积单元包括：多个检查电极和水平移动所述检查电极的电极移动部件，并且通过所述电极移动部件使所述检查电极与在所述堆积单元中对准的每个发光元件的两个侧面接触，以测量所述发光元件的电阻和亮度。
[0021]在实施方案中，当所述发光元件被确定在电阻和亮度方面是无缺陷的时，获得所述发光元件，当所述发光元件被确定在电阻或亮度方面是有缺陷的时，将所述发光元件重新注射进入所述溶液中，并且使用所述表面声波技术将重新注射进入所述溶液中的所述发光元件再次混合。
[0022]在实施方案中，将其中混合了所述重新注射的发光元件的所述溶液重复按长度的所述发光元件的所述分选、所述溶液进入所述检查设备的所述注射和使用所述对准单元的所述发光元件的所述对准、使用所述堆积单元的所述对准的发光元件的所述对准、以及通过检查所述发光元件的所述电阻和所述亮度的所述发光元件是否是有缺陷的所述确定。
附图说明
[0023]实施方案的这些和/或其它方面根据实施方案的以下描述结合附图将变得显而易见并且更容易理解，在附图中：
[0024]图1是根据实施方案的显示装置的示意性平面视图；
[0025]图2是根据实施方案的显示装置的像素的平面视图；
[0026]图3是沿图2的线Q1
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Q1'、线Q2
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Q2'和线Q3
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Q3'截取的横截面视图；
[0027]图4是根据实施方案的发光元件的示意性透视图；
[0028]图5是根据实施方案的发光元件的示意图；
[0029]图6是根据实施方案的用于检查发光元件的设备的示意性透视图；
[0030]图7是根据实施方案的用于检查发光元件的设备的对准单元的示意性透视图；
[0031]图8是根据实施方案的用于检查发光元件的设备的堆积单元的示意性透视图；
[0032]图9是例示出根据实施方案的堆积单元的过滤遮板的打开操作和关闭操作的示意性透视图；
[0033]图10和图11是例示出根据实施方案的堆积单元的检查电极的操作的示意性透视图；
[0034]图12是例示出检查发光元件的方法的流程图；
[0035]图13是例示出分选发光元件的尺寸的方法的示意图；
[0036]图14是例示出混合发光元件的方法的示意图；
[0037]图15是声流流动的示意图；
[0038]图16是例示出根据实施方案的制造显示装置的方法的流程图；
[0039]图17是例示出根据实施方案的制造显示装置的过程的一部分的横截面视图；
[0040]图18是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于检查发光元件的设备，所述设备包括：在一个方向上延伸并且包括流动路径的流动路径单元，其中混合了发光元件的溶液沿所述流动路径移动；至少一个对准单元，所述流动路径从所述流动路径单元的至少一部分延伸至所述至少一个对准单元；在所述流动路径单元的端部处并且所述发光元件堆叠在其中的堆积单元；以及在所述对准单元的外表面上的多个对准电极。2.如权利要求1所述的设备，其中所述流动路径单元包括在所述流动路径单元的上端部处的入口和在所述流动路径单元的下端部处的出口，并且所述入口和所述出口中的每一个具有矩形平面形状。3.如权利要求2所述的设备，其中所述流动路径的平面形状与所述入口或所述出口的所述平面形状相同。4.如权利要求1所述的设备，其中所述对准单元包括第一对准区域和第二对准区域，并且所述第一对准区域和所述第二对准区域在所述一个方向上彼此间隔开。5.如权利要求4所述的设备，其中所述第一对准区域或所述第二对准区域的直径大于所述发光元件中的每一个的长轴的长度。6.如权利要求1所述的设备，其中所述堆积单元包括：从所述流动路径单元延伸的存储部件；在所述存储部件内的两个侧面上的多个检查电极；分别在所述存储部件的上端部和下端部处的过滤遮板；以及在所述流动路径单元外部并且移动所述检查电极的电极移动部件。7.如权利要求6所述的设备，其中所述检查电极与所述对准电极间隔开。8.如权利要求6所述的设备，其中所述过滤遮板包括在所述存储部件的所述上端部处的第一过滤遮板和在所述存储部件的所述下端部处的第二过滤遮板，并且所述第一过滤遮板和所述第二过滤遮板分别打开或关闭所述存储部件的所述上端部和所述下端部。9.使用用于检查发光元件的设备来检查所述发光元件的方法，所述设备包括在一个方向上延伸并且包括流动路径的流动路径单元；至少一个对准单元，所述流动路径从所述流动路径单元的至少一部分延伸至所...

【专利技术属性】
技术研发人员：高升澈，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：