用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置制造方法及图纸

技术编号:32504527 阅读:21 留言:0更新日期:2022-03-02 10:14
本发明专利技术提供了一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,包括测量主体和设置在测量主体上的入射光准直模块、至少一前向散射信号探测模块和至少两个后向散射信号探测模块,两后向散射信号探测模块轴对称分布在入射光准直模块的两侧;测量主体上设有主通道和若干侧通道,主通道的两端分别为进气端和出气端;主通道位于测量主体的中部,若干侧通道均与主通道连通,并分布在主通道的外侧;入射光准直模块和散射信号探测模块分别对应设置在若干侧通道上;在测量时,带有颗粒物的气体进入主通道,入射光准直模块产生的入射光在颗粒物上产生散射信号,信号被不同侧通道上的前向散射信号探测模块和后向散射信号探测模块捕获,进而得到颗粒物的特征信息。进而得到颗粒物的特征信息。进而得到颗粒物的特征信息。

【技术实现步骤摘要】
用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置


[0001]本专利技术属于大气环境颗粒物理化性质探测
,特别是涉及一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置。

技术介绍

[0002]目前对于大气颗粒物的在线监测主要集中在浓度、化学组分性质等方面,对于单颗粒物的形貌特征识别较为准确的方法是通过扫描电镜进行分析,因此,要获得较为全面的颗粒物形貌信息,工作量大且成本较高。
[0003]对于单颗粒物形貌的在线监测技术起步较晚,目前测量的基本原理是通过颗粒物后向散射信号的偏振特性对其形貌进行判别,即将后向散射信号中垂直分量与总量之比作为退偏比,以退偏比作为颗粒物的形貌判别系数,然而这种方法不足的是分光后的垂直分量信号较弱,此信号的检测对于仪器精度和运行环境要求较高。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题,本专利技术提供了一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,包括测量主体和设置在所述测量主体上的入射光准直模块、至少一前向散射信号探测模块和至少两个后向散射信号探测模块,两所述后向散射信号探测模块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,其特征在于,包括测量主体和设置在所述测量主体上的入射光准直模块、至少一前向散射信号探测模块和至少两个后向散射信号探测模块,两所述后向散射信号探测模块轴对称分布在所述入射光准直模块的两侧;所述测量主体上设有主通道和若干侧通道,所述主通道的两端分别为进气端和出气端;所述主通道位于所述测量主体的中部,若干所述侧通道均与所述主通道连通,并分布在所述主通道的外侧;所述入射光准直模块、前向散射信号探测模块和后向散射信号探测模块分别对应设置在若干所述侧通道上;在测量时,带有颗粒物的气体进入所述主通道,所述入射光准直模块产生的入射光在颗粒物上产生散射信号,信号被不同侧通道上的所述前向散射信号探测模块和后向散射信号探测模块捕获,进而得到颗粒物的特征信息。2.根据权利要求1所述的一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,其特征在于,还包括激光耗散模块,所述激光耗散模块包括设置在所述测量主体内的激光耗散腔,所述激光耗散腔的一端密封,另一端与所述主通道连通;所述激光耗散腔正对着所述入射光准直模块,并与所述入射光准直模块分布在所述主通道的相对两侧。3.根据权利要求2所述的一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,其特征在于,所述测量主体为正多边形结构,所述入射光准直模块、前向散射信号探测模块、后向散射信号探测模块和激光耗散模块分别对应此正多边形结构的若干侧边设置。4.根据权利要求3所述的一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,其特征在于,所述主通道竖直设置,所述侧通道水平设置。5.根据权利要求2所述的一种用于大气单颗粒物粒径及不规则度判别的光学测量装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘小乐姚维杰田雨王自发
申请(专利权)人:中国科学院大气物理研究所
类型:发明
国别省市:

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