一种激光扫描粒度仪装置制造方法及图纸

技术编号:32469061 阅读:41 留言:0更新日期:2022-03-02 09:28
本实用新型专利技术提供了一种激光扫描粒度仪装置,包括探头和主机,探头包括机械外壳及其内部装置,主机包括激光发射和接受装置以及信号处理装置;机械外壳内部设置有传动扫描装置和光学系统,光学系统由光纤、准直透镜和光学凸透镜组成,传动扫描装置由直流电机、电机编码器、联轴器、机械轴和轴承组成,直流电机的输出端通过联轴器与机械轴传动连接,机械轴通过螺纹与光学凸透镜连接实现传动;该装置能够在全工艺过程中实时在线监测颗粒大小、数量和的变化情况,通过改变环境条件和对颗粒体系持续的追踪,从而帮助科研人员和工程师更好的优化和控制颗粒系统,使开发工艺更加稳定,以便得到更高质量的产品。更高质量的产品。更高质量的产品。

【技术实现步骤摘要】
一种激光扫描粒度仪装置


[0001]本技术涉及粒度分析仪器
,具体而言,涉及一种激光扫描粒度仪装置。

技术介绍

[0002]当前已有的技术水平主要有两类,一类是利用光的散射或者是测量单个颗粒的反响散射光的数量,分析液体介质中的颗粒大小和数量。第二类是光学仪器设备,涉及液体介质中颗粒的化学分析。利用光的散射或者是测量单个颗粒的反响散射光的数量这种方式无法同时测量化学成分,单个颗粒的大小和数量。已有的光学仪器设备这类仪器的缺点是不能对单个颗粒进行分析,不能提供单个颗粒的数量和大小。通常粒度分析以离线的方式进行,但是离线测量方法会造成延时或者取样存在误差,是对粒度的一种假设,离线测量的方式往往不能进行工艺过程中的实施优化和控制。

技术实现思路

[0003]为了弥补以上不足,现有在线测量技术是实时在线颗粒表征的技术,不能保证在高浓度及不透明的溶液和颗粒体系下,能够对颗粒粒径和颗粒数量进行高重复性和高重现的测量。为了克服上述现有技术的不足,本专利技术提供了一种实时粒径和粒数分析的技术,可以直接在工艺过程中进行测量,追踪颗粒系统的特定区间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光扫描粒度仪装置,包括探头和主机,其特征在于:所述探头包括机械外壳(3)及其内部装置,所述主机包括激光发射和接受装置以及信号处理装置;机械外壳(3),所述机械外壳(3)从左自右由平面镜座(301)、通道管(302)、采光筒(303)、连接筒(304)、电机安装筒(305)、端盖(306)组成,各部件之间通过螺纹连接,所述采光筒(303)的左端均匀开设有若干安装孔(30101),所述机械外壳(3)内部设置有传动扫描装置和光学系统;传动扫描装置,所述传动扫描装置包括直流电机(1)、电机编码器(2)、联轴器(5)、机械轴(6)和轴承(4),该所述直流电机(1)设置在所述机械外壳(3)的右端部,所述直流电机(1)的右端设置有电机编码器(2),所述直流电机(1)的输出端通过联轴器(5)与机械轴(6)传动连接,所述机械轴(6)的两端均设置有轴承(4),两个所述轴承均固定于所述采光筒(303)的内部;所述光学系统,所述光学系统包括光纤(8)、准直透镜(9)和光学凸透镜(7),所述光纤(8)和准直透镜(...

【专利技术属性】
技术研发人员:王学重曹建国张皓王传杰曲长森
申请(专利权)人:晶格码青岛智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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