一种快速高精度高光谱深度成像系统技术方案

本发明专利技术公开一种快速高精度高光谱深度成像系统，包括投影结构光形貌探测模块，前置成像单元，可调谐滤波光谱扫描模块，信息处理单元。三维形貌数据和不同波段的光谱图像即可融合成四维高光谱形貌模型。本发明专利技术结合可调谐滤波片光谱探测和结构光光谱形貌探测于一体，克服了其他设备采集速度慢，设备单一分离，数据融合误差大等缺点。本发明专利技术兼具速度（采集速度：优于1秒）和精度(三维重建精度:优于30微米和光谱分辨率数nm)上的双重优势，经过设计缩小了可调谐滤波片得体积，大大降低了成本和占用空间。本发明专利技术在实时光谱形貌探测的领域上具有重要应用价值。重要应用价值。重要应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种快速高精度高光谱深度成像系统


[0001]本专利技术属于光学
，具体涉及一种快速高精度高光谱深度成像系统。

技术介绍

[0002]随着材料科学、制造工艺和工业发展水平的不断提高，人们对于工业零部件的要求越来越高，不论是使用感受，还是美观程度都提出了更高的要求。工业零部件作为各种工业产品的组成部分，其外观质量也直接影响着最终产品的档次和精度水准。
[0003]工业零部件由于其生产环境和制作工艺，不可避免会产生一些表面缺陷，会对其整体品质造成影响，随着对于工业生产的要求逐渐提高，工业零部件的缺陷检测以及筛查越来越不可缺失。工业零部件面品缺陷，主要包括尺寸精度差异和表面质量缺陷。
[0004]过去数十年，国内对工业零部件缺陷机器视觉检测主要以二维图像特征提取识别为主。随着激光扫描技术的发展，三维形貌识别也逐步应用于缺陷的立体检测中，提供更丰富的空间尺度信息，进而提高检测的准确率。传统接触式三维形貌测量因探头容易划伤样品及低效的点扫描方式，而逐步被光学非接触式方法所替代。光学三维视觉测量方法的种类主要分为：摄影测量法、飞行时间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速高精度高光谱深度成像系统，其特征在于：包括投影结构光形貌探测模块，前置成像单元，可调谐滤波光谱扫描模块，信息处理单元；信息处理单元控制投影结构光形貌探测模块探测待测物体的三维形貌数据，可调谐滤波光谱扫描模块探测光谱数据；三维形貌数据和光谱数据可融合成四维光谱形貌模型。2.根据权利要求1所述的一种快速高精度高光谱深度成像系统，其特征在于：可调谐滤波片的可调谐滤波片设计放置于光路中某个焦点（如前置光学模块中的准直透镜5的焦点）位置附近，可以大大减小可调谐滤波片的面积，降低了成本（因为大面积的可调谐滤波片制作难成本高），也减少的占用空间。3.根据权利要求1所述的一种快速高精度高光谱深度成像系统，其特征在于：采集可调谐滤波片调制的光谱图像和投影仪投射的结构光条纹图像的相机为同一相机，光谱数据和三维形貌数据没有融合误差。4.根据权利要求1所述的前置光学模块，其特征在于：包括成像透镜3，准直透镜5，聚焦透镜6...

【专利技术属性】
技术研发人员：何赛灵，罗晶，
申请(专利权)人：台州安奇灵智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：