射频开关和电子设备制造技术

技术编号:32474869 阅读:30 留言:0更新日期:2022-03-02 09:36
本公开涉及一种射频开关和电子设备,该射频开关包括绝缘座体和设置在绝缘座体内的固定端子和可动端子,所述可动端子弹性抵接于所述固定端子,所述绝缘座体的插接面上设置有对接孔和围绕所述对接孔的周缘布置的GND金属壳,所述对接孔用于供测试探针的探针插入,所述GND金属壳上固连有一个或多个围绕所述对接孔的周缘间隔布置的且凸出于所述GND金属壳的金属凸起,一个或多个金属凸起构造为:在所述探针插入所述对接孔中并推动所述可动端子脱离所述固定端子时,至少一个所述金属凸起与所述测试探针的套接在所述探针之外的金属套筒的端面接触并导通。通过上述技术方案,本公开能够解决相关技术中射频开关和测试探针插接时接触不良的问题。时接触不良的问题。时接触不良的问题。

【技术实现步骤摘要】
射频开关和电子设备


[0001]本公开涉及电连接器
,具体地,涉及一种射频开关和电子设备。

技术介绍

[0002]手机主板天线信号在组装前需要进行测试,以达到拦截不良品的目的。相关技术中,主板天线测试要用到射频开关(RF Switch)和测试探针配合实现,射频开关和测试探针通过两个面贴合,探针弹簧施加弹力实现接触可靠性。而在实际应用中,由于主板经过SMT以及切割分板,造成射频开关外部存在松香或PCB板子粉末等异物,造成探针下压后,即使弹簧施加压力,因为异物阻挡了射频开关和探针的接触,所以无法满足接触可靠性,进而造成天线测试不良,影响产线测试效率。

技术实现思路

[0003]本公开的目的是提供一种射频开关和电子设备,该射频开关能够解决相关技术中射频开关和测试探针插接时接触不良的问题。
[0004]为了实现上述目的,本公开提供一种射频开关,包括绝缘座体和设置在所述绝缘座体内的固定端子和可动端子,所述可动端子弹性抵接于所述固定端子,所述绝缘座体的插接面上设置有对接孔和围绕所述对接孔的周缘布置的GND金属壳,所述对接孔用于供测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频开关,包括绝缘座体(1)和设置在所述绝缘座体(1)内的固定端子和可动端子,所述可动端子弹性抵接于所述固定端子,所述绝缘座体(1)的插接面上设置有对接孔(2)和围绕所述对接孔(2)的周缘布置的GND金属壳(3),所述对接孔(2)用于供测试探针(4)的探针(401)插入,其特征在于,所述GND金属壳(3)上固连有一个或多个围绕所述对接孔(2)的周缘间隔布置的且凸出于所述GND金属壳(3)的金属凸起(5),一个或多个金属凸起(5)构造为:在所述探针(401)插入所述对接孔(2)中并推动所述可动端子脱离所述固定端子时,至少一个所述金属凸起(5)与所述测试探针(4)的套接在所述探针(401)之外的金属套筒(402)的端面接触并导通。2.根据权利要求1所述的射频开关,其特征在于,所述金属凸起(5)具有与所述GND金属壳(3)连接的第一端,所述金属凸起(5)的与所述第一端相反的第二端具有用于与所述金属套筒(402)的端面贴合的接触平面(501)。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:王晓
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司
类型:新型
国别省市:

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