测量设备、测量方法和程序技术

本公开涉及能够在较短时间内进行测量的测量设备、测量方法和程序。根据本发明专利技术，为了在一次的测距范围时间内输出具有两次或更多次脉冲发射次数的激光，通过将到测距范围和来自测距范围的光的往返飞行时间的宽度设置为测距范围时间来生成指示发射激光的脉冲的发射定时的信号，该测距范围指示包括要测量的距离的固定距离宽度。此外，在一次测距范围时间内根据发射次数输出计数码，该计数码指示接收被待被测距的对象反射并从其返回的激光的反射光中的脉冲的定时，并且随后根据多个计数码中的特定计数码计算到待测距的对象的距离。本技术可以应用于测量距离的测量设备。术可以应用于测量距离的测量设备。术可以应用于测量距离的测量设备。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测量设备、测量方法和程序


[0001]本公开涉及一种测量设备、测量方法和程序，更具体地，涉及能够在较短时间内执行测量的测量设备、测量方法和程序。

技术介绍

[0002]传统上，飞行时间(TOF)是一种使用光的飞行时间来测量距离的技术，其测量从向测距目标输出脉冲激光到接收到反射光脉冲的时间，该反射光是由测距目标反射并返回的激光。然后，重复输出脉冲激光的处理周期，生成在多个处理周期中测量的测量值的直方图，并基于指示直方图的峰值的测量值来计算到测距目标的距离。
[0003]例如，专利文献1公开了一种激光测量方法，其设置脉冲光的扫描速度和发光周期，使得在脉冲光穿过测量点的时间内多次照射测量点，累积通过多次照射获得的光接收信号，并执行测距。
[0004]此外，专利文献2公开了一种激光雷达设备，其中，在与预定的测距周期相对应的测距周期中，将脉冲光的投射定时设置为随机。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：日本专利申请公开号2019
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60644
[0008本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测量设备，包括：发射定时信号生成单元，被配置为通过将光在所述测量设备与表示固定距离宽度的测距范围之间往返的飞行时间的宽度设置为测距范围时间，来生成用于指示发射激光的脉冲的发射定时的信号，以便输出在一次所述测距范围时间内具有两次或更多次的所述脉冲的发射次数的激光，所述固定距离宽度包括要测量的距离；计数码输出单元，被配置为在一次所述测距范围时间内根据所述发射次数，输出指示接收反射光的脉冲的定时的计数码，所述反射光是由测距目标反射并返回的激光；以及距离计算单元，被配置为根据多个所述计数码中的特定计数码计算到所述测距目标的距离。2.根据权利要求1所述的测量设备，其中，所述发射定时信号生成单元使在一次所述测距范围时间内以两次或更多次的所述发射次数发射的所述激光的脉冲之间的间隔相等。3.根据权利要求1所述的测量设备，其中，所述发射定时信号生成单元使在一次所述测距范围时间内以两次或更多次的所述发射次数发射的所述激光的脉冲之间的间隔不相等。4.根据权利要求1所述的测量设备，其中，所述发射定时信号生成单元针对每一次所述测距范围时间改变所述激光的脉冲之间的间隔。5.根据权利要求4所述的测量设备，其中，所述发射定时信号生成单元基于预定随机数改变所述激光的脉冲之间的所述间隔。6.根据权利要求1所述的测量设备，其中，关于在一次所述测距范围时间内根据所述发射次数发射的所述激光的脉冲，下一个脉冲在接收到紧接在前发射的所述脉冲的反射波之前的定时发射。7.根据权利要求1所述的测量设备，还包括：直方图生成单元，在所述直方图生成单元中根据预定的输出次数重复执行所述测距范围时间，所述直方图生成单元被配置为生成从所述计数码输出单元输出的多个所述计数码的直方图；以及滤波处理单元，被配置为对由所述直方图生成单元生成的所述直方图应用根据从所述发射定时获得的传递函数的滤波处理，其中，所述距离计算单元使用指示由所述滤波处理单元应用了所述滤波处理的所述直方图中的峰值的所述计数码来计算到所述测距目标的距离。8.根据权利要求7所述的测量设备，其中，在针对每一次所述测距范围时间改变所述激光的脉冲之间的间隔的情况下，所述滤波处理单元获取从每次所述测距范围时间的所述发射定时获得的所述传递函数、并应用所述滤波处理、并然后合并所述直方图。9.根据权利要求8所述的测量设备，其中，由所述滤波处理单元使用的所述传递函数是通过机器学习确定的。10.根据权利要求7所述的测量设备，其中，在应用了所述滤波处理的所述直方图中未指定所述峰值的情况下，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：平野広之，芥川一树，黑岩达郎，佃恭范，崎村升，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：