可重新配置的片上系统技术方案

技术编号:32440986 阅读:27 留言:0更新日期:2022-02-26 08:02
本发明专利技术涉及一种片上系统SOC,包括:第一子电路,其具有所定义的接口和所定义的固定硬件功能;第二可重新配置子电路,其经由所述接口而信号连接到第一子电路以与其交换信号;以及(iii)一个或多个端子,用于将所述SOC电连接到其外围设备。第二子电路被配置为一个或多个端子与第一子电路之间的接口电路。第一子电路被划分成多个个体第一电路块,并且第二子电路被划分成多个个体第二电路块。此外,所述第一电路块中的至少一个经由一个或多个信号连接而信号连接到一个或多个其他第一电路块或一个或多个端子,每个信号连接通过第二电路块中的一个或多个而延伸。所述信号连接中的一个或多个可借助于属于相应信号连接的相应一个或多个第二电路块来重新配置,优选地,动态地和/或可逆地重新配置,使得所述SOC在其操作之前或期间可通过重新配置所述第二电路块中的至少一个的方式来重新配置。一个的方式来重新配置。一个的方式来重新配置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】可重新配置的片上系统
[0001]本专利技术涉及集成电路(IC)领域,并且具体地涉及可重新配置的片上系统(SOC)。特别地,在没有限制的情况下,本专利技术适用于在汽车应用领域中使用。
[0002]在许多现代应用中,特别地包括在汽车应用中,SOC在实现这种应用方面起着举足轻重的作用。例如,现代车辆引擎(例如,汽车引擎)、空调、安全系统、制动系统和许多其他车辆子系统依赖于并入了一个或多个SOC(诸如例如,微控制器)的控制单元并且由这些控制单元所控制。
[0003]许多SOC在功能上具有固定的硬件,该硬件由相应IC设计所定义,并且然后在这种IC的生产过程期间被固定(硬连线)。这也适用于具有集成软件可编程核的许多SOC,例如CPU或微控制器单元(MCU),其中该SOC的可重新配置性基于固定硬件实现方式是严格地软件的。
[0004]另一方面,可重新配置的硬件电路是已知的,诸如所谓的现场可编程门阵列(FPGA),该现场可编程门阵列允许基于FPGA的相应编程对电路进行动态硬件级重新配置,即“重新布线”。然而,相比于具有固定硬件实现方式的IC,FPGA也具有显著的缺点,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种片上系统SOC,包括:第一子电路,其具有所定义的接口和所定义的固定硬件功能;第二可重新配置子电路,其经由所述接口而信号连接到第一子电路以与其交换信号;以及一个或多个端子,用于将所述SOC电连接到其外围设备;其中:第二子电路被配置为一个或多个端子与第一子电路之间的接口电路;第一子电路被划分成多个个体第一电路块;第二子电路被划分成多个个体第二电路块;以及所述第一电路块中的至少一个经由一个或多个信号连接而信号连接到一个或多个其他第一电路块或一个或多个端子,每个信号连接通过第二电路块中的一个或多个而延伸;以及所述信号连接中的一个或多个可借助于属于相应信号连接的相应一个或多个第二电路块来重新配置,使得所述SOC在其操作之前或期间可通过重新配置所述第二电路块中的至少一个的方式来重新配置。2.根据前述权利要求中任一项所述的SOC,其中所述SOC被适配成:在其操作期间、通过根据基于机器学习的重新配置过程来重新配置所述至少一个第二电路块从而动态地重新配置其本身。3.根据权利要求2所述的SOC,其中所述SOC被适配成:应用所述基于机器学习的重新配置过程,以用于根据定义了所述SOC的当前或即将到来的操作场景的一个或多个输入参数的值,来针对该操作场景动态地确定所述第二电路块中的两个或更多个的多个可能配置的集合当中的相应优化配置。4.根据前述权利要求中任一项所述的SOC,其中第二电路块的第一子集被实现为相应的固定硬件电路块,并且第二电路块的不相交的第二子集被实现为相应的可重新配置电路块。5.根据前述权利要求中任一项所述的SOC,其中第二子电路进一步被配置为集成测试单元,所述集成测试单元用于通过如下方式来测试第一子电路的所述固定硬件功能:向第一电路施加一个或多个输入信号,并且评估响应于所述一个或多个输入信号经由所述接口从第一子电路接收到的一个或多个输出信号对一个或多个预定测试标准的符合。6.根据权利要求4和5所述的SOC,其中:第二电路块的第一子集中的两个或更多个电路块均实现相应的特定测试仪器,以用于测试第一子电路的所述固定硬件功能的相关方面;以及第二电路块的第二子集中的两个或更多个电路块是可重新配置的,从而选择性地将这些测试仪器连接到第一子电路,以便选择性地使得能够通过相应的一个或多个所连接的测试仪器来进行其测试。7.根据权利要求5或6所述的SOC,其中第一子电路与第二子电路之间的信号连接包括一个或多个专用测量线,所述一个或多个专用测量线被专门配置成用于在第一子电路内的相应预定测量点处测试、测量或监测第一子电路或其功能,而不控制或以其他方式影响所述功能。
8.根据前述权利要求中任一项所述的SOC,其中第一电路块的至少子集均实现第一子电路的特征集合中的相应特定可选择的预定义功能特征;以及第二电路块中的一个或多个是可重新配置的,从而选择性地将第一电路块的所述子集中的第一电路块连接到其他第二电路块或一个或多个端子,以便选择性地使得所述SOC能够执行这些第一电路块中的相应连接的第一电路块的相应一个或多个功能特征。9.根据前述权利要求中任一项所述的SOC,其中所述SOC被配置成使得一...

【专利技术属性】
技术研发人员:A
申请(专利权)人:德高普电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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