一种光学显微镜畸变测量用线纹尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，包括四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺，相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45

【技术实现步骤摘要】
一种光学显微镜畸变测量用线纹尺


[0001]本技术属于显微镜畸变测量
，具体涉及一种光学显微镜畸变测量用线纹尺。

技术介绍

[0002]光学显微镜是进行微观检测分析的重要设备，由物镜、中间透镜和目镜组成，其总放大倍率一般小于2000
×
，广泛应用于生物、医学、地矿、材料、纺织等领域。由于透镜材料的特性或折射或反射表面的几何形状的原因，在光学显微镜中观察到的实际像与理想像的存在一定的像差，即光学显微镜的畸变，它是显微镜的物镜、目镜、镜筒系数、光路产生的综合性、系统性的畸变。光学显微镜的畸变分为桶形畸变、枕形畸变和透视畸变。桶形畸变是显微镜横向放大率随视场的增大而减小的畸变，它使对称于光轴的正方形物体的像呈桶形；枕形畸变是显微镜横向放大率随视场的增大而增大的畸变，它使对称于光轴的正方形物体的像呈枕形。透视畸变是由于显微镜光轴与样品观察面或成像面不严格的垂直而形成，它使对称于光轴的正方形物体的像呈梯形。
[0003]目前，针对显微镜的畸变，现有技术存在降低光学显微镜畸变的方法，但没有明确指标要求和测量方法。国内相关国家、行业、地方标准以及计量技术规程/规范没有对显微镜各透镜畸变、不同总放大倍率下目镜中观察图像的畸变以及相应的畸变测量方式做出规定。国外ASTM相关校准规范也未涉及畸变及其测量方式。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，其结构简单，设计合理，实用性强，通过设置四个呈米字形布设的直线线纹尺对显微镜系统畸变进行测量，数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像，再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型，由于米字形线纹尺有四个不同方向的直线线纹尺，因此一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象，以减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差，使测量结果更加准确，使用效果好。
[0005]为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，其特征在于：包括石英玻璃片和设置在石英玻璃片上的四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺，相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45
°
，四个所述直线线纹尺均以交叉点为零刻度线，且其计量值均由交叉点向两侧逐渐增大，四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺和三个第二分度直线线纹尺，第一分度直线线纹尺的分度值小于第二分度直线线纹尺分度值。
[0006]上述的一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，其特征在于：所述第一分度直线线纹尺的分度值为第二分度直线线纹尺分度值的1/4。
[0007]上述的一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，其特征在于：所述第一分度直线线纹
尺的分度值为0.01mm，第二分度直线线纹尺的分度值为0.04mm。
[0008]上述的一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，其特征在于：所述第一分度直线线纹尺和第二分度直线线纹尺的长度相等。
[0009]本技术与现有技术相比具有以下优点：
[0010]本技术结构简单，通过设置四个呈米字形布设的直线线纹尺对显微镜系统畸变进行测量，数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像，再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型，由于米字形线纹尺有四个不同方向的直线线纹尺，因此一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象，以减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差，使测量结果更加准确，使用效果好。
[0011]下面通过附图和实施例，对本技术的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
[0012]图1为本技术的结构示意图。
[0013]图2为图1中四个直线线纹尺的位置关系示意图。
[0014]图3为图2中A处放大图。
[0015]图4为本实施例具体使用时米字形线纹尺在金相显微镜总放大倍率500
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时目镜中的图像。
[0016]附图标记说明:
[0017]5‑
石英玻璃片；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ6‑
第一分度直线线纹尺；
[0018]7‑
第二分度直线线纹尺。
具体实施方式
[0019]如图1、图2和图3所示，本技术包括包括石英玻璃片5和设置在石英玻璃片5上的四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺，相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45
°
，四个所述直线线纹尺均以交叉点为零刻度线，且其计量值均由交叉点向两侧逐渐增大，四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺6和三个第二分度直线线纹尺7，第一分度直线线纹尺6的分度值小于第二分度直线线纹尺7分度值。
[0020]通过设置米字形线纹尺对显微镜系统畸变进行测量，数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像，再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型，由于米字形线纹尺有四个不同方向的直线线纹尺，因此一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象，以减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差，使测量结果更加准确，使用效果好。
[0021]本实施例中，所述第一分度直线线纹尺6的分度值为第二分度直线线纹尺7分度值的1/4。
[0022]本实施例中，所述第一分度直线线纹尺6的分度值为0.01mm，第二分度直线线纹尺7的分度值为0.04mm。
[0023]需要说明的是，第一分度直线线纹尺6的零刻度线两侧各0.1mm长度内的刻度线的长度不大于0.01mm，避免其刻度线与第二分度直线线纹尺7交叉，影响测量。
[0024]本实施例中，所述第一分度直线线纹尺6和第二分度直线线纹尺7的长度相等。
[0025]本实施例中，优选的，所述第一分度直线线纹尺6和第二分度直线线纹尺7的长度均为1.6mm。
[0026]需要说明的是，0.01mm和0.04mm的分度值，是根据金相显微镜总放大倍数为1时目镜中的视场直径为80mm的情况下确定的，保证本米字形线纹尺能够适应金相显微镜各个放大倍数下系统畸变的测量。
[0027]本实施例在实际使用时，具体的测量方法如下：
[0028]步骤1、根据公式确定当前总放大倍率M下待测圆形区域的直径D，所述待测圆形区域的圆心为米字形线纹尺中心的交叉点,其中，A为被测显微镜在总放大倍率为1时的视场直径；
[0029]步骤2、根据公式且d＝2na，确定当前总放大倍率M下可认为的零畸变区域的直径d，所述零畸变区域的圆心为米字形线纹尺中心的交叉点,其中，a为第一分度直线线纹尺6的分度值，n为正整数，d取第一分度直线线纹尺6的分度值a的偶数倍，n取能够使等式成立的最小正整数，k为正整数；
[0030]步骤3、使用计算机中的像素测量工具分别测量步骤四采集到的图像中第一分度直线线纹尺6上直径d对应的像素数、第一分度直线线纹尺6上直径D对应的像素数、以及三个第二分度直线线纹尺7上直径D分别对应的像素数，以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，其特征在于：包括石英玻璃片(5)和设置在石英玻璃片(5)上的四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺，相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45
°
，四个所述直线线纹尺均以交叉点为零刻度线，且其计量值均由交叉点向两侧逐渐增大，四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺(6)和三个第二分度直线线纹尺(7)，第一分度直线线纹尺(6)的分度值小于第二分度直线线纹尺(7)分度值。2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：房永强，白新房，郑铱，马晓晨，毕革平，鲁文婧，
申请(专利权)人：西安汉唐分析检测有限公司，
类型：新型
国别省市：