【技术实现步骤摘要】
一种光学显微镜系统畸变测量系统
[0001]本技术属于显微镜畸变测量
,具体涉及一种光学显微镜系统畸变测量系统。
技术介绍
[0002]光学显微镜是进行微观检测分析的重要设备,由物镜、中间透镜和目镜组成,其总放大倍率一般小于2000
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,广泛应用于生物、医学、地矿、材料、纺织等领域。由于透镜材料的特性或折射或反射表面的几何形状的原因,在光学显微镜中观察到的实际像与理想像的存在一定的像差,即光学显微镜的畸变,它是显微镜的物镜、目镜、镜筒系数、光路产生的综合性、系统性的畸变。光学显微镜的畸变分为桶形畸变、枕形畸变和透视畸变。桶形畸变是显微镜横向放大率随视场的增大而减小的畸变,它使对称于光轴的正方形物体的像呈桶形;枕形畸变是显微镜横向放大率随视场的增大而增大的畸变,它使对称于光轴的正方形物体的像呈枕形。透视畸变是由于显微镜光轴与样品观察面或成像面不严格的垂直而形成,它使对称于光轴的正方形物体的像呈梯形。
[0003]目前,针对显微镜的畸变,现有技术存在降低光学显微镜畸变的方法,但没有明确指标要求和测量方法。国内相关国家、行业、地方标准以及计量技术规程/规范没有对显微镜各透镜畸变、不同总放大倍率下目镜中观察图像的畸变以及相应的畸变测量方式做出规定。国外ASTM相关校准规范也未涉及畸变及其测量方式。
技术实现思路
[0004]本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种光学显微镜系统畸变测量系统,其结构简单,设计合理,实用性强,通过设置米字形线纹尺对显微镜系统畸变进 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学显微镜系统畸变测量系统,其特征在于:包括设置在显微镜载物台(1)上的米字形线纹尺(2)、紧贴在显微镜目镜(3)上的数码相机(4)、用于使显微镜目镜(3)镜筒与数码相机(4)摄像头同轴安装的连接工装、以及用于实时采集数码相机(4)内图片数据的数据采集处理模块;所述米字形线纹尺(2)包括石英玻璃片(5)和设置在石英玻璃片(5)上的四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺,相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45
°
,四个所述直线线纹尺均以交叉点为零刻度线,且其计量值均由交叉点向两侧逐渐增大,四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺(6)和三个第二分度直线线纹尺(7),第一分度直线线纹尺(6)的分度值小于第二分度直线线纹尺(7)分度值。2.根据权利要求1所述的一种光学显微镜系统畸变测量系统,其特征在于:所述第一分度直线线纹尺(6)的分度值为第二分度直线线纹尺(7)分度值的1/4;所述第一分度直线线纹尺(6)的分度值为0.01mm,第二分度直线线纹尺(7)的分度值为0.04mm;所述第一分度直线线纹尺(6)和第二分度直线线纹尺(7)的长度相等。3.根据权利要求1所述的一种光学显微镜系统畸变测量系统,其特征在于:所述连接工装包括基座(8)、设置在基座(8)上的摄像头夹具和目镜夹具、以及设置在基座(8)上且用于调整所述摄像头夹具夹持直径的第一直径调节器和用于调整所述目镜夹具夹持直径的第二直径调节器,所述摄像头夹具包括两个对称设置的第一夹块(9),两个第一夹块(9)的内侧均开设有用于卡设数码相机(4)摄像头的第一凹槽(10),所述目镜夹具包括两个对称设置的第二夹块(11),两个第二夹块(11)的内侧均开设有用于卡设显微镜目镜(3)的第二凹槽(12);两个第一夹块(9)的对称轴和两个第二夹块(11)的对称轴相重合,第一夹块(9)和第二夹块(11)的侧壁相贴合;所述第一凹槽(10)和第二凹槽(12)的槽宽均由槽口向槽底逐渐减小。4.根据权利要求3所述的一种光学显微镜系统畸变测量系统,其特征在于:所述第一直径调节器包括转动连接在基座(8)上的第一双头螺柱(13)和两个均与第一双头螺柱(13)螺纹连接的第一滑座(14),两个第一夹块(9)分设在两个第一滑座(14)上,第一双头螺柱(13)两端的螺纹旋向相反;所述第二直径调节器包括转动连接在基座(8)上的第二双头螺柱(15)和两个均与第二双头螺柱(15)螺纹连接的第二滑座(16),两个第二夹块(11)分设在两个第二滑座(16)上...
【专利技术属性】
技术研发人员:马晓晨,鲁文婧,白新房,李建峰,毕革平,魏康,
申请(专利权)人:西安汉唐分析检测有限公司,
类型:新型
国别省市:
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