一种消光比测试装置制造方法及图纸

本申请的实施例提供了一种消光比测试装置，涉及光学测量领域。装置包括：光源、起偏元件以及功率探测器；光源和功率探测器分别设置于起偏元件的两侧，待测元件设置于起偏元件与功率探测器之间；光源用于发射初始光束，并使初始光束射向起偏元件；起偏元件用于将初始光束变换为偏振光束，并使偏振光束通过待测元件后射向功率探测器；功率探测器用于在待测元件沿主轴旋转时，测量接收到的偏振光束，以获取测量结果，其中，待测元件的主轴与待测元件垂直且穿过待测元件，测量结果用于计算待测元件的偏振消光比。整套装置组成元件较少，光路简单，调节方便，并且测得的偏振消光比较为准确。并且测得的偏振消光比较为准确。并且测得的偏振消光比较为准确。

【技术实现步骤摘要】
一种消光比测试装置


[0001]本申请涉及光学测量领域，具体而言，涉及一种消光比测试装置。

技术介绍

[0002]起偏元件是一种获得偏振光的器件，广泛应用于偏光检测设备、光通讯无源器件、光纤器件以及激光器等产品。而偏振消光比是起偏元件的重要参数之一，用于指示起偏元件将输入光变为线偏振光的能力，对于起偏元件来说，偏振消光比越高，起偏元件将输入光变为线偏振光的能力就越强。
[0003]在将起偏元件投入使用之前，先需要对它的偏振消光比进行测量。工业生产中，厂家通常会根据光强测试法搭建测量装置，通过旋转光路中的格兰棱镜测量待测元件的偏振消光比。
[0004]但是，采用光强测试法搭建的测量装置通常需要高稳定性的光源，会使用较多的组件，光路较为复杂，调节较为不便，并且测量过程如果旋转格兰棱镜往往会改变其透过率和消光性能，从而使测得的偏振消光比误差较大。

技术实现思路

[0005]本申请的目的包括，例如，提供了一种消光比测试装置，其组成元件较少，光路简单，调节方便，并且测得的偏振消光比较为准确。
[0006]本申请的实施例可以这样实现：
[0007]本申请提供一种消光比测试装置，包括：光源、起偏元件以及功率探测器；
[0008]光源和功率探测器分别设置于起偏元件的两侧，待测元件设置于起偏元件与功率探测器之间；
[0009]光源用于发射初始光束，并使初始光束射向起偏元件；
[0010]起偏元件用于将初始光束变换为偏振光束，并使偏振光束通过待测元件后射向功率探测器；<br/>[0011]功率探测器用于在待测元件沿主轴旋转时，测量接收到的偏振光束，以获取测量结果，其中，待测元件的主轴与待测元件垂直且穿过待测元件，测量结果用于计算待测元件的偏振消光比。
[0012]在可选的实施方式中，装置还包括：准直器；
[0013]准直器设置于光源与起偏元件之间；
[0014]准直器用于对初始光束进行准直，并使初始光束垂直射向起偏元件。
[0015]在可选的实施方式中，装置还包括：旋转支架；
[0016]旋转支架设置于起偏元件与功率探测器之间；
[0017]旋转支架包括第一旋转件和第一固定件，第一旋转件与第一固定件转动连接；
[0018]待测元件设置于第一旋转件上，第一旋转件用于沿第一转动轴转动时带动待测元件沿主轴旋转，第一转动轴与待测元件的主轴重合。
[0019]在可选的实施方式中，第一旋转件还用于沿第二转动轴转动时带动待测元件横向旋转，第二转动轴与待测元件的主轴垂直。
[0020]在可选的实施方式中，功率探测器具体用于在待测元件沿主轴旋转时，测量接收到的偏振光束的功率，以获取偏振光束的最大功率与最小功率。
[0021]在可选的实施方式中，装置还包括：距离调节组件；
[0022]光源、起偏元件、功率探测器以及待测元件分别设置于距离调节组件上，距离调节组件用于调节光源、起偏元件、功率探测器以及待测元件之间的距离。
[0023]在可选的实施方式中，距离调节组件为电动滑台。
[0024]在可选的实施方式中，光源与起偏元件之间具有预设的角度，以使初始光束垂直射向起偏元件。
[0025]在可选的实施方式中，光源为半导体激光器。
[0026]在可选的实施方式中，起偏元件为偏振玻璃平板。
[0027]本申请提供的消光比测试装置，组成元件较少，光路简单，调节方便，并且测得的偏振消光比较为准确。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0029]图1为本申请实施例提供的一种消光比测试装置的示意图；
[0030]图2为本申请实施例提供的又一种消光比测试装置的示意图；
[0031]图3为本申请实施例提供的一种旋转支架的示意图；
[0032]图4为本申请实施例提供的再一种消光比测试装置的示意图。
[0033]图标：消光比测试装置10，光源101，起偏元件102，功率探测器103，待测元件20，待测元件的主轴201，第一转动轴203，第二转动轴202，准直器104，旋转支架105，第一旋转件115，第一固定件125，距离调节组件106。
具体实施方式
[0034]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0035]因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0036]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0037]在本申请的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0038]此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0039]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的特征可以相互结合。
[0040]对本申请实施例详细说明之前，先对本申请的应用场景进行说明。
[0041]起偏元件是一种获得偏振光的器件，广泛应用于偏光检测设备、光通讯无源器件、光纤器件以及激光器等产品。而偏振消光比是起偏元件的重要参数之一，用于指示起偏元件将输入光变为线偏振光的能力，对于起偏元件来说，偏振消光比越高，起偏元件将输入光变为线偏振光的能力就越强。
[0042]在将起偏元件投入使用之前，先需要对它的偏振消光比进行测量。一般的测量方案需要高稳定性的光源、偏光晶体、检偏器转角精度保障装置、信号采集智能化、步进马达控制系统以及光路耦合系统等。
[0043]但是这种方案每次测量前都需要先进行耦合调试，然后插入检偏器,不仅操作空间有限,而且加入的元件会将光路轻微偏转,引起耦合系统效率的下降,引入误差,不便于日常生产的即时测量和使用。
[0044]工业生产中，厂家也经常会根据光强测试法搭建测量装置，通过旋转光路中的格兰棱镜测量待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种消光比测试装置，其特征在于，包括：光源、起偏元件以及功率探测器；所述光源和功率探测器分别设置于所述起偏元件的两侧，待测元件设置于所述起偏元件与所述功率探测器之间；所述光源用于发射初始光束，并使所述初始光束射向所述起偏元件；所述起偏元件用于将所述初始光束变换为偏振光束，并使所述偏振光束通过所述待测元件后射向所述功率探测器；所述功率探测器用于在所述待测元件沿主轴旋转时，测量接收到的所述偏振光束，以获取测量结果，其中，所述待测元件的主轴与所述待测元件垂直且穿过所述待测元件，所述测量结果用于计算所述待测元件的偏振消光比。2.根据权利要求1所述的消光比测试装置，其特征在于，所述装置还包括：准直器；所述准直器设置于所述光源与所述起偏元件之间；所述准直器用于对所述初始光束进行准直，并使所述初始光束垂直射向所述起偏元件。3.根据权利要求1所述的消光比测试装置，其特征在于，所述装置还包括：旋转支架；所述旋转支架设置于所述起偏元件与所述功率探测器之间；所述旋转支架包括第一旋转件和第一固定件，所述第一旋转件与所述第一固定件转动连接；所述待测元件设置于所述第一旋转件上，所述第一旋转件用于沿第一转动轴转动时带动...

【专利技术属性】
技术研发人员：房艳，周晓珊，王旭东，王耀祥，
申请(专利权)人：飞秒光电科技西安有限公司，
类型：新型
国别省市：