一种高温ADC混合集成电路测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种高温ADC混合集成电路测试装置，包括测试板，所述测试板用于置于高温环境中测试待测信号；转接板，用于传输所述测试板的测试信号；传输的测试信号包括时钟输出信号和数字输出信号，每个所述数字输出信号之间使用数字地进行隔离；采集板，所述采集板连接所述转接板，所述转接板将所述测试板测试的信号信息传输至所述采集板，所述采集板置于常温环境；处理器，连接所述采集板，接收所述采集板输送的测试信号或向所述采集板发送采集信号。该装置能够方便有效的进行高速高精度ADC电路采集测试。采集测试。采集测试。

【技术实现步骤摘要】
一种高温ADC混合集成电路测试装置


[0001]本专利技术涉及一种测试装置，尤其涉及一种高温ADC混合集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]工业环境温度一般为
‑
40℃～+85℃，然而某些恶劣的工业环境温度远高于此，比如石油和天然气探测勘探、引擎和重工业等等。这些环境工作温度超过150℃，甚至达到200℃以上。在这样恶劣的工作温度环境下，如果实现信号精准的采集和测试，设计满足高温的电路并测试验证电路的合格性是十分困难的。

技术实现思路

[0003]本专利技术为了解决上述问题，提供了一种高温ADC混合集成电路测试装置，该装置能够方便有效的进行高速高精度ADC电路采集测试。
[0004]本专利技术所采取的技术方案为：一种高温ADC（模数转换器）混合集成电路测试装置，包括
[0005]测试板，所述测试板用于置于高温环境中测试待测信号；
[0006]转接板，用于传输所述测试板的测试信号；传输的测试信号包括时钟输出信号和数字输出信号，每个所述数字输出信号之间使用数字地进行隔离；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高温ADC混合集成电路测试装置，其特征在于：包括测试板，所述测试板用于置于高温环境中测试待测信号；转接板，用于传输所述测试板的测试信号；采集板，所述采集板连接所述转接板，所述转接板将所述测试板测试的信号信息传输至所述采集板，所述采集板置于常温环境；处理器，连接所述采集板，接收所述采集板输送的测试信号或向所述采集板发送采集信号。2.根据权利要求1所述的高温ADC混合集成电路测试装置，其特征在于：所述测试板上设置有模拟电压、数字电压、模拟地和数字地，所述模拟电压、数字电压、模拟地和数字地进行分区分层隔离。3.根据权利要求1所述的高温ADC混合集成电路测试装置，其特征在于：所述转接板通过USB转接线连接所述处理器。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜峰，曹彪，张君利，
申请(专利权)人：中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心，
类型：新型
国别省市：