铜合金薄膜、基于铜合金薄膜服役后的保护层和制备方法技术

技术编号:32364566 阅读:28 留言:0更新日期:2022-02-20 03:36
本发明专利技术公开了一种铜合金薄膜、基于铜合金薄膜服役后的保护层和制备方法,该铜合金薄膜为二元合金,包括铜元素以及可以与铜形成正混合熵的添加元素;铜元素的质量百分含量为95~99wt%;通过先在基底上形成具有正混合焓的铜合金薄膜;然后对铜合金薄膜施加能量场,使其中的添加元素析出并在铜薄膜表面形成保护层。本发明专利技术采取具有正的混合焓的铜合金薄膜,通过压差的作用导致合金中的添加元素向表面运动,最终使添加元素覆盖在铜上,抑制了金属铜的电化学迁移,提高铜线路板对电化学迁移的抵抗能力,整体制备方法可以一次形成双元素镀层,简化了工艺,提高了镀层的可靠性。提高了镀层的可靠性。提高了镀层的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
铜合金薄膜、基于铜合金薄膜服役后的保护层和制备方法


[0001]本专利技术属于电子薄膜材料,具体涉及一种铜合金薄膜以及基于该铜合金薄膜在铜线路板表面、铜基板焊盘表面形成的保护层和方法。

技术介绍

[0002]随着科技的发展,人们对便携式电子产品的需求日益增加,轻薄,短小的电子产品更能得到市场,这使得印制电路板要变得更加微小并且高密度集成。同时,电子元器件服役时的工作条件愈加恶劣,经常在高温,高湿,高电压情况下长时间工作。近些年,在印制电路板的引线之间发现了腐蚀失效。由于高密度集成印制电路板上引线间距很小,当印制电路板通电后,相邻的引线之间存在着压差,相邻引线之间构成一个类似电容器的结构,在高温高湿情况下,会发生电化学迁移,金属离子从一侧的引线向另一侧移动,最终形成一条电化学迁移路径使引线之间短路,最终导致电子仪器的失效。
[0003]为了提高印制电路板的可靠性,会对印制电路板采取一些表面处理,例如浸银(ImAg)、浸金(ENIG)等方法。其中浸银(ImAg)技术广泛应用,特别是作连接器的接触材料,因为它具有优异的耐腐蚀性、低电阻率、低成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种铜合金薄膜,其特征在于:所述铜合金薄膜为二元合金,包括铜元素以及与铜在常温、稳态条件下形成正混合熵的添加元素;其中,铜元素的质量百分含量为95~99wt%。2.根据权利要求1所述的一种铜合金薄膜,其特征在于:所述添加元素选自Mo、Ni、Co和Cr中的任一种。3.根据权利要求1所述的一种铜合金薄膜,其特征在于:所述常温为25℃,所述稳态条件具体是指使用薄膜达到热力学平衡的条件。4.一种服役后的保护层,包括基底,其特征在于:还包括权利要求1

3任一项所述的铜合金薄膜;其中,所述的铜合金薄膜位于基底表面。5.一种权利要求4所述的保护层的制备方法,其特征在于:在基底上形成具有正混合焓的铜合金薄膜;对铜合金薄膜施加能量场,使...

【专利技术属性】
技术研发人员:王小京丁梓峰李溯杰高幸刘瑞刘宁
申请(专利权)人:江苏科技大学
类型:发明
国别省市:

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