阵列式X射线衍射探测系统技术方案

本发明专利技术公开了阵列式X射线衍射探测系统,包括X射线源、弯晶单色器、测角仪和多个X射线探测器，所述X射线源用于发射X射线，所述弯晶单色器与X射线源配合，用于过滤出X射线源所发出的特征曲线用于衍射实验，所述测角仪用于定位和移动X射线探测器，所述X射线探测器用于接收并记录X射线衍射信号。本发明专利技术通过利用多个X射线探测器组合，可在两次曝光内完成超大衍射角度的数据采集，或者仅用一次曝光即可采集大角度衍射数据，极大缩短了衍射的测试时间。极大缩短了衍射的测试时间。

【技术实现步骤摘要】
阵列式X射线衍射探测系统


[0001]本专利技术涉及X射线衍射探测
，具体为阵列式X射线衍射探测系统。

技术介绍

[0002]X射线衍射(XRD)是一种用于表征样品的晶体结构的常用方法。根据布拉格公式，XRD数据过程中，2θ角扫描理论范围为0～80
°
，影响扫描时间的因素较多，其中X射线探测器的覆盖角度(探测器静止时所覆盖的2θ角范围)对数据采集时间有着重要的影响。
[0003]传统XRD实验中，所使用的线性(一维)探测器角度覆盖范围一般仅为1
°
到3
°
，因此需要移动探测器并且在多个2θ角度上进行多次曝光，使得整个XRD扫描时间较长；近来，二维探测器或面探测器被用于进行二维XRD数据采集，二维探测器因为探测面积大，并可采集完整的德拜衍射环，只需一次曝光即可快速采集一定角度范围内的衍射数据。然而大面积二维探测器的制造成本远高于线性探测器，另外其覆盖角度范围仍然有限而且由于体积限制难以进行移动扫描，只能用于低角度衍射数据的快速采集。

技术实现思路
/>[0004]本专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.阵列式X射线衍射探测系统，包括底座和设置在底座上的支架，其特征在于：还包括X射线源(1)、弯晶单色器(2)、测角仪(3)和多个X射线探测器(4)，所述X射线源(1)用于发射X射线，所述弯晶单色器(2)与X射线源(1)配合，用于过滤出X射线源(1)所发出的特征曲线用于衍射实验，所述测角仪(3)用于定位和移动X射线探测器(4)，所述X射线探测器(4)用于接收并记录X射线衍射信号，所述X射线源(1)、支架和测角仪(3)从左到右依次设置在底座上，所述弯晶单色器(2)设置在支架上部。2.根据权利要求1所述的阵列式X射线衍射探测系统，其特征在于：所述X射线探测器(4)数量为5个，所述X射线源(1)为X射线发生仪。3.根据权利要求1所述的阵列式X射线衍射探测系统，其特征在于：所述X射线探测器(4)在标准距离下的探测范围为0～13.3
°
。4.根据权利要求1到权利要求3任意一项所述的阵列式X射线衍射探测系统，其特征在于：使用该系统进行探测的方法包括动态...

【专利技术属性】
技术研发人员：武美玲，
申请(专利权)人：安徽国科仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：