一种可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法技术

本申请提供一种可实现自验证的环境中颗粒态污染物的来源解析方法，包括如下步骤：第一步，分别采集两类环境样本：待测环境颗粒物样本(如大气细颗粒物)以及典型排放源的样本；第二步，实验室分析待测颗粒物样本和典型排放源样本的同位素比值特征δ

【技术实现步骤摘要】
一种可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法


[0001]本专利技术涉及环境分析领域，具体涉及一种可实现自验证的环境颗粒态污染物的来源解析方法。

技术介绍

[0002]颗粒态污染物(PM)是一类普遍存在而广受关注的环境污染物。比如，大气细颗粒物通常被认为是导致雾霾的主要原因，易引发多种疾病(如心血管疾病、肺部疾病等)。准确地来源解析是对细颗粒物实行有效管控的重要前提。然而，目前关于复杂环境中细颗粒物的来源解析仍然存在一定的方法学瓶颈，比如正定矩阵因子法(PMF)，虽然可以实现来源解析，但是缺少一个综合的指标直观地评价定量结果的准确性。另外，常用的基于模式分析的溯源方法(如多尺度空气质量(CMAQ))，虽然可以根据不同污染情境进行校正分析，但是需要同时结合源和受体的多维信息，较为繁琐、不易实施。因此，需要一种更为简便的方法，既可以快速定性定量识别环境细颗粒物的来源，又可以直接量化评价溯源结果的准确性。

技术实现思路

[0003]本申请针对现有技术存在的问题，提供一种可实现自验证的颗粒态污染物的溯源方法，可对环境中颗粒态污染物来源进行定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，包括如下步骤：第一步，分别采集两类环境样本：待测颗粒物样本(如大气细颗粒物样本)以及典型排放源的样本；第二步，实验室分析待测颗粒物样本和典型排放源样本的同位素比值特征(δ
65
Cu)以及特征金属比值，其中，所述特征金属比值包括：La/Ce，Zn/Cd，Ni/V，Fe/Al；其中，所述特征金属比值指的是不同排放源中相对独特的某两种金属的物质量浓度的比值；第三步，借助贝叶斯模型(3)式求得各典型排放源的贡献度f
i
，f
i
表示典型排放源对环境颗粒物的贡献度，单位：％。2.根据权利要求1所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，还包括：第四步，验证解析方法的准确性：实验室分析待测环境颗粒物样本和典型排放源样本的硅同位素比值特征(δ
30
Si)，将各典型排放源的δ
30
Si
i
和f
i
代入(4)式，得到待测颗粒物的硅同位素比值特征δ
30
Si的计算值δ
30
Si
cal
，将所述计算值δ
30
Si
cal
与待测颗粒物的硅同位素比值特征δ
30
Si的实测值δ
30
Si
obs
比较，根据计算值δ
30
Si
cal
与观测值δ
30
Si
obs
是否接近，验证解析方法的准确性；δ
30
Si
cal
＝∑(δ
30
Si
i
×
f
i
)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(4)式中，i指排放源的序号。3.根据权利要求1或2所述的可实现自验证的环境颗粒态污染物来源解析的方法，其特征在于，在第二步之后，还包括：根据以上获取的待测细颗粒物和典型排放源的同位素比值特征δ
65
Cu和所述特征金属比值，构建Ni/V
‑
δ
65
Cu，La/Ce
‑
δ
65
Cu，Zn/Cd
‑
δ
65
Cu，Fe/Al
‑
δ
65
Cu二维指纹图，并根据待测细颗粒物与典型排放源的二维指纹图谱的相对位置关系，进行定性分析。4.根据权利要求3所述的可实现自验证的颗粒污染物来源解析方法，其特征在于，在特征金属比值
‑
δ
65
Cu二维指纹图谱中，排放源的分布位置靠近颗粒物的分布位置的，对其贡献较大；反之，则贡献较小。5.根据权利要求1或2所述的可...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆达伟，左培杰，刘倩，张庆华，江桂斌，
申请(专利权)人：中国科学院生态环境研究中心，
类型：发明
国别省市：