数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床技术方案

本发明专利技术提供一种数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床，所述数控机床的进给轴故障检测方法包括：生成所述数控机床的运行程序；在所述数控机床进入运行状态后，采集与进给轴关联的运行数据；分析与进给轴关联的运行数据，以判定所述数控机床是否存在传动部件故障或电机部件故障。本发明专利技术所述数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床通过采集并分析进给轴匀速运动时的速度波动和力矩电流情况来对进给轴进行精准故障诊断，以便及时发现设备故障，且无需增加检测成本，便于现场实施。便于现场实施。便于现场实施。

【技术实现步骤摘要】
数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床


[0001]本专利技术属于数控机床检测和信号处理领域，涉及一种检测方法和系统，特别是涉及一种数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床。

技术介绍

[0002]目前对数控机床或其他数控设备的机械传动部件故障检测，通常需要使用外部检测设备，如振动传感器及其分析设备等，相关设备成本较高，现场实施困难。通常情况下，由于成本原因，数控机床或其他数控设备的使用者不会专门购买相关检测设备。使用传统机械检测方法通常要对机械进行拆卸，现场实施困难。现场对主轴及进给轴的故障判断多依靠经验，在出现较严重加工问题时才能发现问题，这时通常关键部件已经损坏，难以维修。
[0003]因此，如何提供一种数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床，以解决现有技术对主轴及进给轴的故障判断多依靠经验，因此只有在数控机床出现严重加工问题时才会发现问题，导致关键部件损坏，难以维修等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床，用于解决现有技术对主轴及进给轴的故障判断多依靠经验，因此只有在数控机床出现严重加工问题时才会发现问题，导致关键部件损坏，难以维修的问题。
[0005]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术一方面提供一种数控机床的进给轴故障检测方法，包括：生成所述数控机床的运行程序；在所述数控机床进入运行状态后，采集与进给轴关联的运行数据；分析与进给轴关联的运行数据，以判定所述数控机床是否存在传动部件故障或电机部件故障。
[0006]于本专利技术的一实施例中，所述与所述进给轴关联的运行数据包括一级运行数据及于所述一级运行数据内采集到的二级运行数据。
[0007]于本专利技术的一实施例中，所述分析与所述进给轴关联的运行数据的步骤包括：根据所述一级运行数据，将所述进给轴的单向运行行程划分为三段检测段。
[0008]于本专利技术的一实施例中，所述分析与所述进给轴关联的运行数据的步骤还包括：从三段检测段中依次序选取一段检测段，获取该检测段内采集的二级运行数据。
[0009]于本专利技术的一实施例中，对分析与进给轴关联的运行数据的步骤还包括：对所述二级运行数据做去均值处理，获取待分析运行数据；将所述待分析运行数据划分为第一待分析数据和第二待分析数据；检测所述第一待分析数据，以判定所述数控机床的机械传动部件是否存在故障；检测所述第二待分析数据，以判定所述数控机床的电机部件是否存在故障。
[0010]于本专利技术的一实施例中，所述第一待分析数据为高频数据；所述检测所述第一待
分析数据的步骤包括：计算所述第一待分析数据的数据峭度，当所述第一待分析数据的数据峭度大于1时，判定所述数控机床的机械传动部件存在故障；所述第二待分析数据为低频数据；所述检测所述第二待分析数据的步骤包括：获取所述第二待分析数据的包络数据；对所述包络数据做傅里叶变换，得到傅里叶变换结果；从所述傅里叶变换结果中查找最大峰值，判断所述最大峰值是否与电机转频匹配；若是，计算所述最大峰值在总体峰值中的占比；当所述占比超过预设占比阈值时，表示所述数控机床的电机部件存在故障。
[0011]于本专利技术的一实施例中，所述一级运行数据包括进给轴的反馈位置；所述二级运行数据包括于所述进给轴的反馈位置内采集的反馈速度或力矩电流。
[0012]本专利技术另一方面提供一种数控机床的进给轴故障检测系统，包括：程序生成模块，用于生成所述数控机床的运行程序；数据采集模块，用于在所述数控机床进入运行状态后，采集与进给轴关联的运行数据；故障分析模块，用于分析与进给轴关联的运行数据，以判定所述数控机床是否存在传动部件故障或电机部件故障。
[0013]本专利技术又一方面提供一种介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现所述数控机床的进给轴故障检测方法。
[0014]本专利技术最后一方面提供一种数控机床，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述数控机床执行所述数控机床的进给轴故障检测方法。
[0015]如上所述，本专利技术所述的数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床，具有以下有益效果：
[0016]本专利技术所述数控机床的进给轴故障检测方法、系统、介质及数控机床通过采集并分析进给轴匀速运动时的速度波动和力矩电流情况来对进给轴进行精准故障诊断，以便及时发现设备故障，且无需增加检测成本，便于现场实施。
附图说明
[0017]图1显示为本专利技术的数控机床的进给轴故障检测方法于一实施例中的流程示意图。
[0018]图2显示为本专利技术的数控机床的进给轴故障检测方法中S13的流程示意图。
[0019]图3显示为本专利技术的数控机床的进给轴故障检测系统于一实施例中的原理结构示意图。
[0020]元件标号说明
[0021]1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
数控机床的进给轴故障检测
[0022]ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
系统
[0023]31
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程序生成模块
[0024]32
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数据采集模块
[0025]33
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故障分析模块
[0026]S11～S13
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步骤
[0027]S131～S136
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步骤
具体实施方式
[0028]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0029]需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，遂图式中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
[0030]实施例一
[0031]本实施例提供一种数控机床的进给轴故障检测方法，包括：
[0032]生成所述数控机床的运行程序；
[0033]在所述数控机床进入运行状态后，采集与进给轴关联的运行数据；
[0034]分析与进给轴关联的运行数据，以判定所述数控机床是否存在传动部件故障或电机部件故障。
[0035]以下将结合图示对本实施例所提供的数控机床的进给轴故障检测方法进行详细描述。请参阅图1，显示为数控机床的进给轴故障检测方法于一实施例中的流程示意图。如图1所示，所述数控机床的进给轴故障检测方法具体包括以下步骤本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数控机床的进给轴故障检测方法，其特征在于，包括：生成所述数控机床的运行程序；在所述数控机床进入运行状态后，采集与进给轴关联的运行数据；分析与进给轴关联的运行数据，以判定所述数控机床是否存在传动部件故障或电机部件故障。2.根据权利要求1所述的数控机床的进给轴故障检测方法，其特征在于，所述与所述进给轴关联的运行数据包括一级运行数据及于所述一级运行数据内采集到的二级运行数据。3.根据权利要求2所述的数控机床的进给轴故障检测方法，其特征在于，所述分析与所述进给轴关联的运行数据的步骤包括：根据所述一级运行数据，将所述进给轴的单向运行行程划分为三段检测段。4.根据权利要求3所述的数控机床的进给轴故障检测方法，其特征在于，所述分析与所述进给轴关联的运行数据的步骤还包括：从三段检测段中依次序选取一段检测段，获取该检测段内采集的二级运行数据。5.根据权利要求4所述的数控机床的进给轴故障检测方法，其特征在于，对分析与进给轴关联的运行数据的步骤还包括：对所述二级运行数据做去均值处理，获取待分析运行数据；将所述待分析运行数据划分为第一待分析数据和第二待分析数据；检测所述第一待分析数据，以判定所述数控机床的机械传动部件是否存在故障；检测所述第二待分析数据，以判定所述数控机床的电机部件是否存在故障。6.根据权利要求5所述的数控机床的进给轴故障检测方法，其特征在于，所述第一待分析数据为高频数据；所述检测所述第一待分析数据的步骤包括：计算所述第一待分析数...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱志浩，赵建华，虞敏，黄云鹰，曾鹏，邱明勇，
申请(专利权)人：沈机上海智能系统研发设计有限公司，
类型：发明
国别省市：