一种MOS晶体管的测试设备及测试方法技术

技术编号:32334502 阅读:11 留言:0更新日期:2022-02-16 18:42
本发明专利技术公开了一种MOS晶体管的测试设备及测试方法,涉及晶体管测试设备技术领域。本发明专利技术包括检测箱,所述检测箱的右侧从上到下依次固定有检测器和电热控制器,所述检测箱的背面固定有固定壳,所述固定壳的内部转动安装有螺纹杆,螺纹杆的外侧螺纹连接有螺纹块,所述螺纹块的正面固定有U形台,所述U形台滑动安装在检测箱的内部,所述U形台的顶部左侧和右侧均固定有触点台,所述触点台与检测器通过电线连接诶,左侧和右侧所述触点台之间设置有检测装置。本发明专利技术通过电热控制器与电加热器配合,使得电热控制器启动电加热器,从而使得电加热器对检测箱内部环境进行加热,从而达到晶体管在高温环境下检测的目的。高温环境下检测的目的。高温环境下检测的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种MOS晶体管的测试设备及测试方法


[0001]本专利技术涉及晶体管测试设备
,具体为一种MOS晶体管的测试设备及测试方法。

技术介绍

[0002]晶体管是一种固体半导体器件(包括二极管、三极管、场效应管、晶闸管等,有时特指双极型器件),具有检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制等多种功能,晶体管作为一种可变电流开关,能够基于输入电压控制输出电流,与普通机械开关不同,晶体管利用电信号来控制自身的开合,所以开关速度可以非常快,实验室中的切换速度可达100GHz以上。
[0003]现有的晶体管在生产完成后通常需要对其进行物理老化测试,目前的物理老化测试一般是在高温环境下,对晶体管的电流、电压和功率等电特性进行检测分析,而在晶体管的老化测试过程中,高温加热和检测一般分开进行的,检测过程较为繁琐,效率较低,因此,我们提出了一种MOS晶体管的测试设备及测试方法。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种MOS晶体管的测试设备及测试方法,解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案予以实现:一种MOS晶体管的测试设备及测试方法,包括检测箱,所述检测箱的右侧从上到下依次固定有检测器和电热控制器,所述检测箱的背面固定有固定壳,所述固定壳的内部转动安装有螺纹杆,螺纹杆的外侧螺纹连接有螺纹块,所述螺纹块的正面固定有U形台,所述U形台滑动安装在检测箱的内部,所述U形台的顶部左侧和右侧均固定有触点台,所述触点台与检测器通过电线连接诶,左侧和右侧所述触点台之间设置有检测装置,所述检测箱的内部固定有电加热器,且电加热器位于U形台的下方,所述电加热器与电热控制器通过电线连接,所述电加热器的下方设置有调节装置,所述检测箱的底部固定有电机,所述电机的输出轴贯穿且转动安装在检测箱的底部,所述电机输出轴的顶部固定有扇叶轮。
[0006]优选的,所述调节装置包括固定架,所述固定架固定安装在检测箱的内部,所述固定架的内部铰接有导向板,所述固定架的底部固定有U形槽架,所述U形槽架的内部滑动安装有滑板,所述滑板的顶部固定有抵触杆,所述滑板的底部固定有回形板,所述回形板的内部滑动安装有固定柱,所述固定柱固定安装在扇叶轮的顶部远离中心的一侧。
[0007]优选的,所述检测装置包括回形检测架,所述回形检测架滑动安装在U形台的顶部,所述回形检测架台的左侧和右侧均固定有触点板,所述回形检测架台的内部固定有固定板,所述固定板的底部固定有检测夹片,所述检测夹片与触点板通过电线连接,所述固定板的底部固定有T形弧压板,所述固定板的左侧和右侧均设置有翻转装置。
[0008]优选的,所述翻转装置包括翻转板,所述翻转板有两个,两个所述翻转板分别铰接安装在固定板的左侧和右侧,所述翻转板的底部固定有定位板,所述翻转板的顶部固定有
弧形板,所述弧形板的内壁上与折叠喷气囊的底部固定连接,所述折叠喷气囊的顶部滑动安装弧形板的内壁上。
[0009]优选的,所述抵触杆与导向板的底部接触,所述导向板的左侧和右侧与固定架之间通过弹簧连接。
[0010]优选的,所述回形检测架的底部为从左右两侧向固定板方向低到高的倾斜设置。
[0011]优选的,所述弧形板有若干个,若干个所述弧形板均匀设置在翻转板的顶部,所述弧形板正对着检测夹片。
[0012]优选的,所述折叠喷气囊的喷气口滑动安装在弧形板的内壁上,所述折叠喷气囊的顶部与T形弧压板接触。
[0013]一种MOS晶体管的测试设备的测试方法,包括:
[0014]S1、打开检测箱的门,取出回形检测架,将晶体管卡夹在检测夹片上,重新将回形检测架,关闭检测箱的门。
[0015]S2、通过电热控制器启动电加热器,使得电加热器对检测箱内部环境进行加热,从而达到高温检测的目的。
[0016]S3、启动检测器,使得检测器对触点台通电,在触点台与触点板传导下,从而使得检测夹片通电。
[0017]S4、通过观察检测器的数值,从而便于对晶体管的电流、电压和功率等电特性进行检测分析。
[0018]S5、当晶体管检测完成后,打开检测箱的门,取出回形检测架,将晶体管取出即可。
[0019]本专利技术提供了一种MOS晶体管的测试设备及测试方法。具备以下有益效果:
[0020](1)、本专利技术通过电热控制器与电加热器配合,使得电热控制器启动电加热器,从而使得电加热器对检测箱内部环境进行加热,从而达到晶体管在高温环境下检测的目的,同时启动检测器,使得检测器对触点台通电,在触点台与触点板传导下,从而使得检测夹片通电,通过观察检测器的数值,从而便于对晶体管的电流、电压和功率等电特性进行检测分析,从而避免了现有晶体管的老化测试过程中,高温加热和检测分开进行,检测过程较为繁琐的问题。
[0021](2)、本专利技术通过电机与扇叶轮配合,使得电机带动扇叶轮转动,扇叶轮吹动电加热器产生的热量,从而加快了检测箱的内部环境加热的速度,从而避免了检测箱的内部环境升温较慢,造成晶体管检测速度降低的问题,进而提高了晶体管的检测效率。
[0022](3)、本专利技术在扇叶轮转动过程中,扇叶轮带动固定柱跟着转动,通过固定柱与回形板配合,使得固定柱通过回形板带动滑板沿着U形槽架的内部左右移动,滑板带动抵触杆跟着左右移动,在抵触杆与导向板配合下,使得抵触杆抵触导向板发生翻转,导向板对扇叶轮产生风流进行导向,从而使得电加热器产生热量能够均匀的分布在检测箱的内部,从而避免了电加热器产生的热量分布不均的问题,进而提高了晶体管检测数据准确性。
[0023](4)、本专利技术通过回形检测架的底部倾斜的设置,使得回形检测架底部倾斜部分对热气流导向,使得热气流朝向晶体管方向流动,从而提高了对晶体管的加热效率;同时通过翻转板的设置,使得翻转板对热气流进行阻挡,从而避免了热气流直接对晶体管进行吹动,导致晶体管在检测过程中发生轻微的倾斜,影响晶体管检测结果的问题。
[0024](5)、本专利技术在导向板导向的风流吹动到翻转板过程中,通过导向板导向的风流与
翻转板配合,使得导向板导向的风流带动翻转板向上翻转移动,翻转板带动弧形板跟着移动,从而使得弧形板对发生倾斜的晶体管进行扶正,从而避免了晶体管处于倾斜状态,影响影响晶体管检测结果,进而提高了晶体管检测的效率,减少了工作人员对晶体管反复检测的频率。
[0025](6)、本专利技术在翻转板翻转过程中,翻转板带动折叠喷气囊跟着移动,通过折叠喷气囊与T形弧压板配合,使得T形弧压板对折叠喷气囊进行挤压,从而使得折叠喷气囊通过其喷嘴喷出气体,从而使得折叠喷气囊对检测夹片上附着的灰尘进行清洁,从而避免了检测夹片上附着有灰尘,影响晶体管检测的问题。
附图说明
[0026]图1为本专利技术整体的示意图;
[0027]图2为本专利技术整体的局部剖面示意图;
[0028]图3为本专利技术调节装置的示意图;
[0029]图4为本专利技术调节装置的底视示意图;
[0030]图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MOS晶体管的测试设备,包括检测箱(1),其特征在于:所述检测箱(1)的右侧从上到下依次固定有检测器(2)和电热控制器(3),所述检测箱(1)的背面固定有固定壳(4),所述固定壳(4)的内部转动安装有螺纹杆(5),螺纹杆(5)的外侧螺纹连接有螺纹块(13),所述螺纹块(13)的正面固定有U形台(11),所述U形台(11)滑动安装在检测箱(1)的内部,所述U形台(11)的顶部左侧和右侧均固定有触点台(12),所述触点台(12)与检测器(2)通过电线连接诶,左侧和右侧所述触点台(12)之间设置有检测装置(9),所述检测箱(1)的内部固定有电加热器(10),且电加热器(10)位于U形台(11)的下方,所述电加热器(10)与电热控制器(3)通过电线连接,所述电加热器(10)的下方设置有调节装置(8),所述检测箱(1)的底部固定有电机(6),所述电机(6)的输出轴贯穿且转动安装在检测箱(1)的底部,所述电机(6)输出轴的顶部固定有扇叶轮(7)。2.根据权利要求1所述的一种MOS晶体管的测试设备,其特征在于:所述调节装置(8)包括固定架(81),所述固定架(81)固定安装在检测箱(1)的内部,所述固定架(81)的内部铰接有导向板(82),所述固定架(81)的底部固定有U形槽架(83),所述U形槽架(83)的内部滑动安装有滑板(84),所述滑板(84)的顶部固定有抵触杆(85),所述滑板(84)的底部固定有回形板(86),所述回形板(86)的内部滑动安装有固定柱(87),所述固定柱(87)固定安装在扇叶轮(7)的顶部远离中心的一侧。3.根据权利要求1所述的一种MOS晶体管的测试设备,其特征在于:所述检测装置(9)包括回形检测架(91),所述回形检测架(91)滑动安装在U形台(11)的顶部,所述回形检测架台(91)的左侧和右侧均固定有触点板(92),所述回形检测架台(91)的内部固定有固定板(93),所述固定板(93)的底部固定有检测夹片(95),所述检测夹片(95)与触点板(92)通过电线连接,所述固定板(93)的底部固定有T形弧压板(94),所述固定板(93)的左侧和右侧均设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨贵兰杨良鑫
申请(专利权)人:深圳市广联富科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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