【技术实现步骤摘要】
面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及图像检测
，尤其涉及一种面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]关于电路板等工业制造过程中，因工艺波动、机台差异等因素会产生各种各样形态的电路板缺陷，其中，电路板缺陷最严重的缺陷包括短路缺陷。
[0003]目前，关于短路缺陷的监测主要使用人力识别，但人力识别会耗费过多资源，在工业2.0时代，越来越多的电路板制造商开始采用人工智能ADC（自动缺陷分类系统）来取代人力进行缺陷识别，目前人工智能ADC的检测模型在短路缺陷检测上依然无法达到较高准确率。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供一种面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，其主要目的在于解决短路面板缺陷检测率较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供的一种面板缺陷检测方法，包括：接收面板短路图，根据预训练完成的缺陷检测模型，对所述面板短路图执行缺陷检测，得到面板缺陷坐标；根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：接收面板短路图，根据预训练完成的缺陷检测模型，对所述面板短路图执行缺陷检测，得到面板缺陷坐标；根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得到包括缺陷的面板缺陷图；定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线，并基于数字图像处理技术寻找到所述金属线的上窄线及下窄线；判断所述上窄线及下窄线与面板缺陷图中缺陷是否存在相交，当所述上窄线及下窄线与面板缺陷图中缺陷存在相交，判断所述面板缺陷图是否存在断线，得到所述面板缺陷图的断线检测结果。2.如权利要求1所述的基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得到面板缺陷图，包括：根据所述面板缺陷坐标生成缺陷矩形框，并定位所述缺陷矩形框的框中心；按照预设长度及宽度的裁剪比例，以所述框中心为裁剪中心执行裁剪，得到所述面板缺陷图。3.如权利要求2所述的基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线，并基于数字图像处理技术寻找到所述金属线的上窄线及下窄线，包括：接收用户在所述面板缺陷图中确定的所述金属线；对所述面板缺陷图执行二值化，得到二值缺陷图；创建所述二值缺陷图的卷积核，利用所述卷积核对所述二值缺陷图执行开操作，得到优化缺陷图；基于霍夫直线检测法，对所述金属线执行边缘检测，得到所述金属线的上窄线及下窄线。4.如权利要求3所述的基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述创建所述二值缺陷图的卷积核，包括：根据下列计算公式，创建所述二值缺陷图的卷积核：其中，kernerSize
vertical
表示所述卷积核，h为所述二值缺陷图的高，w为所述二值缺陷图的宽。5.如权利要求1所述的基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述判断所述面板缺陷图是否存在断线，包括：对所述面板缺陷图执行包括阈值分割及去噪处理，得到缺陷轮廓待提取图；使用轮廓检测方法，对缺陷轮廓待提取图执行轮廓提取，得到一组或多组轮廓线；依次计算每组轮廓线所在的轮廓区域面积，并提取轮廓区域面积大于预设阈值的轮廓线，得到一组或多组断线待确认线；判断所述断线待确认线是否存在断点，若所述断线待确认线存在断点，则所述面板缺陷图存在断线，若所述断线待确认线不存在断点，则所述面板缺陷图不存在断线。
6.如权利要求5所述的基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述依次计算每组轮廓线所在的轮廓区域面积，包括：采用如下计算方法，计算每组轮廓线所在的轮廓区域面积：其中，P(x,y)、Q(x,y)为所述轮廓线内任意一点，及表示一阶偏导。7.如权利要求1所述的基于短路面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述预训练完成的缺陷检测模型，包括：接收用户输入的卷积层数量，生成与所述卷积层数量相同数量的卷积层，根据所述卷积层构建待训练的缺陷检测模型；接收面板图片训练集，利用所述面板图片训练集训练待训练的所述缺陷检测模型，得到预训练完成的所述缺陷检测模型。8.如权利要求7所述的基于短路面板的缺陷检...
【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：成都数联云算科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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