一种用于程序升温的分析装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及分析装置器技术领域，特别涉及一种用于程序升温的分析装置。包括：反应室和质量传感器；反应室具有密闭的腔体结构，质量传感器设置在反应室内；质量传感器包括悬臂梁端和固支端；悬臂梁端设有加热元件和样品涂覆区，样品涂覆区用于装载待处理样品，加热元件用于对样品涂覆区进行加热；固支端与腔体结构的内壁连接，固支端用于采集程序升温过程中待处理样品的测试数据。该程序升温脱附分析装置通过自身集成有加热和数据采集功能的质量传感器对样品进行测试，大大减少了检测结果的滞后性。系统简单小巧，能实现精确定量化分析且测试时间短、检测通量高。检测通量高。检测通量高。

【技术实现步骤摘要】
一种用于程序升温的分析装置


[0001]本技术涉及分析仪器
，特别涉及一种用于程序升温的分析装置。

技术介绍

[0002]分子在催化剂表面发生催化反应要经历很多步骤，其中最主要的是吸附和表面反应两个步骤，因此要阐明一种催化过程中催化剂的作用本质及反应分子与其作用的机理，必须对下列性能进行深入研究。程序升温分析技术(TemperatureProgrammed Analytical Technology，TPAT)是一种应用广泛的材料分析方法。
[0003]程序升温分析技术为当固体物质或预吸附某些气体的固体物质在载气中以一定的升温速率加热时，检测流出气体组成和浓度的变化或固体(表面)物理和化学性质变化的技术。程序升温分析技术可分为程序升温脱附(TemperatureProgrammed Desorption，TPD)、程序升温还原(TemperatureProgrammed Reduction，TPR)、程序升温氧化(TemperatureProgrammed Oxidation，TPO)、程序升温硫化(Temperature Pro本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于程序升温的分析装置，其特征在于，包括：反应室(214)和质量传感器(1)；所述反应室(214)具有密闭的腔体结构，所述质量传感器(1)设置在所述反应室(214)内；所述质量传感器(1)包括悬臂梁端(11)和固支端(12)；所述悬臂梁端(11)设有加热元件和样品涂覆区，所述样品涂覆区用于装载待处理样品，所述加热元件用于对所述样品涂覆区进行加热；所述固支端(12)与所述腔体结构的内壁连接，所述固支端(12)用于采集程序升温过程中所述待处理样品的测试数据。2.根据权利要求1所述的用于程序升温的分析装置，其特征在于，所述分析装置还包括供气系统，所述反应室(214)上设有导通所述腔体结构的进气口，所述供气系统与所述进气口连接。3.根据权利要求2所述的用于程序升温的分析装置，其特征在于，所述分析装置还包括控制系统(22)，所述控制系统(22)与所述固支端(12)通信连接；所述控制系统(22)用于控制所述质量传感器(1)并对所述质量传感器(1)采集的测试数据进行处理得到所述待处理样品的程序升温分析曲线。4.根据权利要求3所述的用于程序升温的分析装置，其特征在于，所述固支端(12)中设有驱动电路(121)，所述驱动电路(121)与所述控制系统(22)连接；所述驱动电路(121)用于接收所述控制系统(22)传输的驱动信号并根据所述驱动信号驱动所述质量传感器(1)。5.根据权利要求4所述的用于程序升温的分析装置，其特征在于，所述固支端(12)中还设有信号输出单元(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：于海涛，
申请(专利权)人：厦门海恩迈科技有限公司，
类型：新型
国别省市：