一种图像缺陷的检测方法、装置及计算机可读介质制造方法及图纸

技术编号:32272213 阅读:21 留言:0更新日期:2022-02-12 19:36
本发明专利技术公开了一种图像缺陷的检测方法、装置及计算机可读介质,涉及人工智能技术领域。该方法的一实施例包括:获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息;从待测图像中选取与图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像;掩膜图像包括掩膜区域以及感兴趣区域;之后对感兴趣区域进行连通域筛选,得到待测区域;并对待测区域的灰度值进行统计,最后基于统计结果判断待测图像是否存在缺陷,得到判断结果。由此,能够针对目标对象实现自动化检测,解决了实现了自动化检测图像缺陷,提高了图像缺陷检测结果的鲁棒性和准确性,解决了现有技术中通过遍历整张图像检测缺陷导致检测速度慢的问题,提高了图像缺陷检测的速度。的速度。的速度。

【技术实现步骤摘要】
一种图像缺陷的检测方法、装置及计算机可读介质


[0001]本专利技术涉及图像处理
,尤其涉及一种图像缺陷的检测方法、装置及计算机可读介质。

技术介绍

[0002]现有的外包装箱体贴附着标签图像,标签图像通常贴附在箱体的正面或两侧面。这些标签图像的大小、形状,以及种类繁多。在产品生产过程中,标签破损的现象常有发生,严重影响了外包箱标签的美观和信息完整性。
[0003]目前,标签图像的缺陷检测主要是针对标签图像中目标对象进行缺陷检测,目标对象例如,标签上的条码、标识,以及文字。通常是基于检测到目标对象轮廓和模板轮廓进行比对,根据比对结果确定标签上目标对象是否存在缺陷。然而利用上述方法无法对标签中目标对象以外的区域进行缺陷检测。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术实施例提供一种图像缺陷的检测方法、装置及计算机可读介质,能够对待测图像中非信息区域进行缺陷检测,实现了智能化检测,提高了图像缺陷检测的速度和准确率。
[0005]为实现上述目的,根据本专利技术实施例第一方面,提供一种图像缺陷的检测方法,该方法包括:获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息;从所述待测图像中选取与所述图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像;所述掩膜图像包括掩膜区域以及感兴趣区域;对所述感兴趣区域进行连通域筛选,得到待测区域;对所述待测区域的灰度值进行统计,并基于所述统计结果判断所述待测图像是否存在缺陷,得到判断结果。
[0006]可选的,所述获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息,包括:对待测图像对应的模板图像进行图像处理,得到二值化图像;对所述二值化图像进行识别处理,得到第一目标对象和第二目标对象;获取所述第一目标对象对应的第一图像信息和所述第二目标对象对应的第二图像信息,并将所述第一图像信息和所述第二图像信息确定为图像特征信息。
[0007]可选的,对所述二值化图像进行识别处理,得到第一目标对象和第二目标对象,包括:对所述二值化图像进行连通域分析,得到若干连通域;获取所述连通域的位置信息;将所述位置信息中满足第一预设条件的若干连通域进行合并,得到第一目标对象;从所述若干连通域中移除所述第一目标对象,得到第二目标对象。
[0008]可选的,所述获取所述第一目标对象对应的第一图像信息和所述第二目标对象对应的第二图像信息,包括:对所述第一目标对象进行内容识别,得到第一目标对象的内容信息;对所述第二目标对象进行图像特征匹配,得到第二目标对象的内容信息;分别获取所述第一目标对象和所述第二目标对象的位置信息;将所述第一目标对象对应的文字内容和位
置信息确定为所述第一图像信息,并将所述第二目标对象对应的图像内容和位置信息确定为第二图像信息。
[0009]可选的,所述从所述待测图像选取与所述图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像,包括:对待测图像进行图像处理,得到二值化图像;从所述二值化图像中选取与所述图像特征信息对应的区域,并将所选取的区域进行置黑处理,得到掩膜图像。
[0010]可选的,所述对所述感兴趣区域进行连通域筛选,得到待测区域,包括:对所述感兴趣区域进行连通域分析,得到多个连通域;针对任一所述连通域,判断所述连通域的面积是否满足预设条件;若判断结果表征所述连通域的面积满足预设条件,则确定所述连通域为待测区域。
[0011]可选的,所述基于所述统计结果判断所述待测图像是否存在缺陷,得到判断结果,包括:判断统计结果是否满足预设条件;若所述统计结果满足预设条件,则将待测区域确定为待测图像的缺陷;若所述统计结果不满足预设条件,则确定待测图像不存在缺陷。
[0012]为实现上述目的,根据本专利技术实施例第二方面,还提供一种图像缺陷的检测装置,该装置包括:获取模块,用于获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息;掩膜处理模块,用于从所述待测图像中选取与所述图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像;所述掩膜图像包括掩膜区域以及感兴趣区域;筛选模块,用于对所述感兴趣区域进行连通域筛选,得到待测区域;判断模块,用于对所述待测区域的灰度值进行统计,并基于所述统计结果判断所述待测图像是否存在缺陷,得到判断结果。
[0013]可选的,所述获取模块包括:图像处理单元,用于对目标对象的模板图像进行图像处理,得到二值化图像;识别单元,用于对所述二值化图像进行识别处理,得到第一目标对象和第二目标对象;确定单元,用于获取所述第一目标对象对应的第一图像信息和所述第二目标对象对应的第二图像信息,并将所述第一图像信息和所述第二图像信息确定为图像特征信息。
[0014]为实现上述目的,根据本专利技术实施例第三方面,还提供一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,所述程序被处理器执行时实现如第一方面所述的图像缺陷的检测方法。
[0015]本专利技术实施例针对图像缺陷的检测方法,该方法首先获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息;从待测图像中选取与图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像;掩膜图像包括掩膜区域以及感兴趣区域;其次,对感兴趣区域进行连通域筛选,得到待测区域;之后对待测区域的灰度值进行统计,并基于统计结果判断待测图像是否存在缺陷,得到判断结果。由此,对图像缺陷实现了自动化检测,提高了图像缺陷检测结果的鲁棒性和准确性,解决了现有技术中通过遍历整张图像检测缺陷导致检测速度慢的问题,提高了图像缺陷检测的速度。
[0016]上述的非惯用的可选方式所具有的进一步的效果将在下文结合具体实施方式加以说明。
附图说明
[0017]附图用于更好地理解本专利技术,不构成对本专利技术的不当限定。其中在附图中,相同或
对应的标号表示相同或对应的部分。
[0018]图1为本专利技术一实施例图像缺陷的检测方法的流程图;
[0019]图2为本专利技术另一实施例图像缺陷的检测方法的流程图;
[0020]图3为本专利技术一实施例中确定待测区域的流程图;
[0021]图4为模板标签图像的示意图;
[0022]图5为模板标签图像中部分图像特征信息以及图像特征信息在XLM文档中存储形式的示意图;
[0023]图6为待测标签图像框选的结果以及掩膜图像的示意图;
[0024]图7为本专利技术一实施例图像缺陷的检测装置的示意图。
具体实施方式
[0025]以下结合附图对本专利技术的示范性实施例做出说明,其中包括本专利技术实施例的各种细节以助于理解,应当将它们认为仅仅是示范性的。因此,本领域普通技术人员应当认识到,可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改,而不会背离本专利技术的范围和精神。同样,为了清楚和简明,以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。
[0026]目前图像缺陷的检测技术多集中图像中信息区域的检测。图像中的信息区域例如多条码、logo,以及文字块;图像中信息区域使得图像被分成诸多区域;而非信息区域的破损又存在卷角、残缺和褶皱等多样性,因此针对图像中非信息区域,如本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像缺陷的检测方法,其特征在于,包括:获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息;从所述待测图像中选取与所述图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像;所述掩膜图像包括掩膜区域以及感兴趣区域;对所述感兴趣区域进行连通域筛选,得到待测区域;对所述待测区域的灰度值进行统计,并基于统计结果判断所述待测图像是否存在缺陷,得到判断结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取待测图像对应的模板图像的图像特征信息,包括:对待测图像对应的模板图像进行图像处理,得到二值化图像;对所述二值化图像进行识别处理,得到第一目标对象和第二目标对象;获取所述第一目标对象对应的第一图像信息和所述第二目标对象对应的第二图像信息,并将所述第一图像信息和所述第二图像信息确定为图像特征信息。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,对所述二值化图像进行识别处理,得到第一目标对象和第二目标对象,包括:对所述二值化图像进行连通域分析,得到若干连通域;获取所述连通域的位置信息;将所述位置信息中满足第一预设条件的若干连通域进行合并,得到第一目标对象;从所述若干连通域中移除所述第一目标对象,得到第二目标对象。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一目标对象对应的第一图像信息和所述第二目标对象对应的第二图像信息,包括:对所述第一目标对象进行内容识别,得到第一目标对象的内容信息;对所述第二目标对象进行图像特征匹配,得到第二目标对象的内容信息;分别获取所述第一目标对象和所述第二目标对象的位置信息;将所述第一目标对象对应的文字内容和位置信息确定为所述第一图像信息,并将所述第二目标对象对应的图像内容和位置信息确定为第二图像信息。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述待测图像选取与所述图像特征信息对应的区域,并对选取的区域进行掩膜处理,得到掩膜图像,包括:对待测...

【专利技术属性】
技术研发人员:武春杰高爽笑张伟
申请(专利权)人:联宝合肥电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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