【技术实现步骤摘要】
一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器
[0001]本技术涉及芯片仿真器
,具体涉及一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器。
技术介绍
[0002]随着非接触智能卡应用的广泛普及,对非接触智能卡的稳定性要求也越来越高。特别在交通、金融等领域,为了满足功耗和交易时间的性能要求,许多非接触智能卡都具有时钟自适应功能,随着场强的增大系统时钟自动升频,随着场强的减小系统时钟自动降频。场强的变化和时钟频率的切换有可能造成非接触智能卡与读卡器之间数据传输的不稳定。因此,对非接触智能卡时钟自适应功能的稳定性测试,显得非常重要。
[0003]常用的非接触智能卡自适应功能测试,依靠人工甩卡的方式进行测试。在确定非接触读卡器和非接触智能卡之间的工作距离后,通过人工进行甩卡操作,甩卡速度不固定,以确认卡与读卡器之间通信功能是否正常。人工操作耗时耗力,测试起来麻烦。
[0004]针对人工测试非接触智能卡自适应功能的测试效率低问题,改进的自适应非接触智能卡稳定性测试自动化装置,在确定的工作距离内,非接触智能卡可以自由摆动,代替人工的甩卡操作。这种自动化装置虽然测试效率高,但控制机械臂摆动的时间间隔在秒级以上,造成场强变化的时间间隔也在秒级以上,不能模拟毫秒级或微秒级的场强快速变化的情况,对时钟自适应功能的测试强度不充分。
[0005]针对上述问题,本专利技术提出一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器。本专利技术仿真器满足非接触接口正常通信功能要求,同时支持变化能量对时钟自适应功能的测试,时钟自适应功能的测试 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器,包括:仿真器管理模块和仿真器硬件,仿真器管理模块与仿真器硬件相连,实现能量通路选择和能量变化控制,在完成非接触接口通信功能的同时,通过控制能量变化完成时钟自适应功能的测试,其中:仿真器硬件,包括能量控制模块、能量生成模块、能量选通模块和芯片仿真模块;能量控制模块,与仿真器管理模块、能量生成模块和能量选通模块相连,能量控制模块输出能量控制FCTL信号给能量生成模块,能量控制模块输出能量选择FSEL信号给能量选通模块,控制能量通路选择和能量变化;能量生成模块,与能量控制模块和能量选通模块相连,输出仿真器内部能量FSDI信号;能量选通模块,与能量控制模块、能量生成模块和芯片仿真模块相连,实现非接触接口能量FSDE信号和仿真器内部能量FSDI信号的通路选择和能量FSD信号的输出;芯片仿真模块,包括能量检测模块和时钟自适应模块,与能量选通模块相连,检测能量FSD信号的变化,实现芯片时钟自适应的功能。2.根据权利要求1所述的一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器,其特征在于能量控制模块...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵满怀,张洪波,
申请(专利权)人:北京中电华大电子设计有限责任公司,
类型:新型
国别省市:
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