一种用于光学跟踪系统精度检测的工装技术方案

技术编号:32266598 阅读:12 留言:0更新日期:2022-02-12 19:29
本申请公开了一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔。第一基准孔和第二基准孔作为基准测量孔,两者之间的距离确定,将两者之间的加工距离作为基准尺寸;当下一次的光学跟踪系统在使用时,基于光学跟踪系统的成像原理测量出小孔在工装本体上成像的两个点之间的测量尺寸,将测量尺寸和基准尺寸进行对比,就可以确定出光学跟踪系统的测量精度;工装在使用过程中简单、便捷,可以作为后续测量尺寸的对比基准,以此能够快速对光学跟踪系统的精度进行检测,从而验证是否满足手术导航定位设备整体精度需求。度需求。度需求。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光学跟踪系统精度检测的工装


[0001]本申请涉及医疗设备
,具体而言,涉及一种用于光学跟踪系统精度检测的工装。

技术介绍

[0002]光学跟踪系统是目前医疗手术导航定位设备中的核心部件,光学跟踪系统包括反光小球,光学跟踪系统通过追踪反光小球来实验对目标的实时跟踪定位。
[0003]光学跟踪系统的定位精度直接影响着整个手术导航定位设备的精度,因而医疗手术导航定位设备的测试过程中,需要经常对光学跟踪系统的精度进行检验,保证系统的精度能满足要求。
[0004]目前的光学跟踪系统检测设施,结构比较复杂,成本比较高,其操作过程复杂,导致使用过程中工序多、不够便捷。

技术实现思路

[0005]本申请的主要目的在于提供一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,以解决目前的问题。
[0006]为了实现上述目的,本申请提供了如下技术:
[0007]一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,所述工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔。
[0008]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述工装本体包括连接段,所述第一基准孔和第二基准孔均设于所述连接段上。
[0009]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述工装本体还包括定义段,所述定义段对称设于所述连接段的左右两端。
[0010]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义段上设有定义孔,所述定义孔的相对位置由光学跟踪系统的成像原理确定。
[0011]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义孔的数量为三个。
[0012]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述工装还包括反光小球柱,光学跟踪系统的反光小球配合在所述反光小球柱上。
[0013]作为本申请的一种实施方案,优选地,每个定义孔上均配合有一个反光小球柱。
[0014]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述第一基准孔和第二基准孔上均配合有一个反光小球柱。
[0015]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义段1和所述连接段一体成型。
[0016]作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义段1和所述连接段的材质皆为钢材。
[0017]与现有技术相比较,本申请能够带来如下技术效果:
[0018]1、本技术通过结合光学跟踪系统的原理,设计了一款光学跟踪系统的精度测量工
装,工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔,第一基准孔和第二基准孔作为基准测量孔,工装上的基准测量孔在加工后,两者之间的距离确定,将两者之间的加工距离作为基准尺寸;当下一次的光学跟踪系统在使用时,基于光学跟踪系统的成像原理测量出小孔在工装本体上成像的两个点之间的测量尺寸L

,将测量尺寸L

和基准尺寸进行对比,测量五组以上的数据进行比对分析后,从而就可以确定出光学跟踪系统的测量精度;
[0019]2、本技术设计的工装在使用过程中简单、便捷,可以作为后续测量尺寸的对比基准,以此能够快速对光学跟踪系统的精度进行检测,从而验证是否满足手术导航定位设备整体精度需求。
附图说明
[0020]构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解,使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
[0021]图1是本技术的组成结构示意图;
[0022]图中:1、定义段,2、反光小球柱,3、第一基准孔,4、第二基准孔,6、连接段。
具体实施方式
[0023]为了使本
的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。
[0024]需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施例。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0025]在本申请中,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本申请及其实施例,并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位,或以特定方位进行构造和操作。
[0026]并且,上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外,还可能用于表示其他含义,例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解这些术语在本申请中的具体含义。
[0027]另外,术语“多个”的含义应为两个以及两个以上。
[0028]需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0029]实施例1
[0030]一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,所述工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔3和第二基准孔4。
[0031]如附图1所示,所述工装包括工装本体,工装本体的外形光学跟踪系统的成像原理推算得出。通过光学跟踪系统的成像原理,可以计算得出设计工装本体的几个数据点,具体见下述连接段和定义段的实施详述。
[0032]在工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔3和第二基准孔4,通过光学跟踪系统的成像原理,计算出两个作为尺寸对比基准的第一基准孔3 和第二基准孔4,将第一基准孔3和第二基准孔4作为基准测量孔,工装上的第一基准孔3和第二基准孔4在加工后,两者之间的距离确定,将两者之间的加工距离作为基准尺寸。
[0033]当下一次的光学跟踪系统在使用时,基于光学跟踪系统的成像原理测量出在工装本体上成像的两个点之间的测量尺寸L

,将测量尺寸L

和基准尺寸进行对比,测量五组以上的数据进行比对分析后,从而就可以确定出光学跟踪系统的测量精度;
[0034]本技术设计的工装在使用过程中简单、便捷,基准尺寸可以作为后续测量尺寸的对比基准,以此能够快速对光学跟踪系统的精度进行检测,从而验证是否满足手术导航定位设备整体精度需求。
[0035]如附图1所示,本技术的工装本体由本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,其特征在于,所述工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔(3)和第二基准孔(4)。2.如权利要求1所述的一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,其特征在于,所述工装本体包括连接段(6),所述第一基准孔(3)和第二基准孔(4)均设于所述连接段(6)上。3.如权利要求2所述的一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,其特征在于,所述工装本体还包括定义段(1),所述定义段(1)对称设于所述连接段(6)的左右两端。4.如权利要求3所述的一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,其特征在于,所述定义段(1)上设有定义孔,所述定义孔的相对位置由光学跟踪系统的成像原理确定。5.如权利要求4所述的一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,其特征在于,所述定义孔的数量为...

【专利技术属性】
技术研发人员:何万亮陈向前安学亮史纪鹏张强强陈小刚
申请(专利权)人:真健康北京医疗科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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