一种费氏粒度仪多点校正方法技术

本发明专利技术公开了一种费氏粒度仪多点校正方法，所述校正方法是利用两个或两个以上高低值标准物质，测量其水柱高度，通过调整仪器针阀C值，使得两个标准样品的F值的比值K达到预先设定的标准值，再通过调整稳压管水位高度P值使得两个标准样品的水柱高度达到预先设定的标准值，从而完成检测设备的校正。本方法最主要的技术点是考虑仪器对空气压力损耗，也就是每台仪器的管前压力是有差异的，同时结合针阀调整仪器常数，最终达到调整仪器系统的目的。最终达到调整仪器系统的目的。最终达到调整仪器系统的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种费氏粒度仪多点校正方法


[0001]本专利技术涉及一种费氏粒度仪多点校正方法，属于粉末冶金、金属粉末和硬质合金材料的检测分析


技术介绍

[0002]费氏法是基于测量空气透过粉末堆积体的速度，依据Kozeny
‑
Carman公式计算出粉末的平均粒度。费氏粒度仪是根据该原理设计的测量仪器，具有结构简单、操作方便、成本低廉等优点，广泛应用于冶金粉末工艺和产品质量控制，具有重要的生产指导意义。
[0003]仪器设备校正是结果准确性和稳定性保证的必要条件，根据现有公开的技术可知，费氏粒度仪一般采用红宝石标准管进行单点校正，每日按照一定的频率校正仪器，主要通过针阀微调来调整设备。公开的技术资料有GB/T 3249《金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法》、《费氏法测定粉末的平均粒度》、《建立数学模型分析费氏仪误差》和《扩大费歇尔微粉粒度仪的测量范围》等。这些技术资料主要关于费氏粒度仪原理、操作、误差计算等
技术实现思路
，关于设备校正描述均为红宝石标准管单点校正的技术路线。红宝石标准管单点校正方法是采用单值红宝石标准管进行，当测量值与标准值有差异时，可通过调整针阀，使得测量值与标准值一致。该方法适用于短期内仪器系统调试，但无法应用于长期的系统调试和消除仪器系统差异。这是因为单点校正方法只调设备常数(通过针阀调整)，对于空气压力变化导致的系统差异是不适用的。
[0004]粉体行业早期主要使用美国Fisher公司的95型费氏粒度仪，但Fisher公司已停产费氏粒度设备多年。目前，国内外粉末企业主要使用国产费氏粒度仪和国产费氏粒度仪配件(例如稳压管、U型管、针阀、空气泵等)。不同品牌仪器存在一定的系统差异，这就不利于生产质量的稳定控制。另一方面，费氏粒度仪随着使用时间延长，仪器对气体阻力发生变化，导致设备空气压力变化，进而影响检测系统变化。前面技术资料公开的红宝石标准管单点校正无法用来消除仪器间系统差异和设备老化带来的系统差异，给生产和检测技术控制带来不便。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种费氏粒度仪多点校正方法，可用于调试仪器系统差异，弥补单点校正法的不足，实现生产工艺和质量的高精准控制。
[0006]本专利技术解决技术问题所采用的技术方案是：一种费氏粒度仪多点校正方法，所述校正方法是利用两个或两个以上高低值标准物质，测量其水柱高度，通过调整仪器针阀C值，使得各个标准物质的F比值达到预先设定的标准值，再通过调整稳压管水位高度P值使得各个标准物质的水柱高度达到预先设定的标准值，从而使得待检测设备测量样品的FSSS值一致。
[0007]进一步地，所述高低值标准物质为红宝石标准管或具有相同作用的标准管或者粉末颗粒；所述粉末颗粒为金属粉末、金属化合物粉末或非金属粉末；优选为钨、钼、钽、铌、钴
的金属粉末及其化合物粉末。
[0008]其中，当所述高低值标准物质为红宝石标准管时，所述校正方法具体包括以下几个步骤，
[0009]a)、用读数板得到校准物质A和校准物质B的费氏粒度值；
[0010]b)、通过费氏粒度公式计算出F
A
、F
B
，再计算出F
A
和F
B
的比值K根据K值调整针阀；
[0011]c)、重复a～b步骤，直至设备的K值一致；
[0012]d)、调试K值后，对稳压管进行加水或减水，直至校准物质A和校准物质B的FSSS测量值与标准值的差异满足
±
3％范围e)、低档调试后，再调试高档；高档调试校准物质为校准物质D和校准物质E，步骤如a～d所示。
[0013]此外，当所述高低值标准物质为粉末颗粒时，所述校正方法具体包括以下几个步骤：
[0014]a)、称取一定重量的校准物质A和校准物质B，装入样品管内，压入多孔黄铜筛，并置于支撑柱上；
[0015]b)、移动齿条，直至齿条底面与样品管内黄铜筛接触，转动手轮，施加222N压力，重复施加3次压力；
[0016]c)、在固定孔隙率下，用读数板得到校准物质A和校准物质B的费氏粒度值；
[0017]d)、通过费氏粒度公式计算出F
A
、F
B
，再计算出F
A
和F
B
的比值K，根据K值调整针阀；
[0018]e)、重复c～d步骤，直至设备的K值与标准值K
标
一致；
[0019]f)、调试K值后，对稳压管进行加水或减水，直至校准物质A和校准物质B的FSSS测量值与标准值的差异满足
±
3％范围；
[0020]g)、低档调试后，再调试高档；高档调试校准物质为校准物质D和校准物质E，步骤如a～f所示。
[0021]所述校正方法中费氏粒度的计算公式为：其中，C值为仪器常数，可通过针阀调节；P值为通过样品或标准管前的气体压力，主要通过稳压管水位高度控制，F为气体通过样品或标准管后的压力，一般采用U型压力计测量，d为粉末颗粒粒度；A为粉末试样层的横断面积，一般为1.267cm2；L为粉末试样层高度。
[0022]进一步地，当校准物质为粉末颗粒时，所述各个校准物质的重量等于材料的真密度值，单位为g。所述孔隙度值在0.4～0.8范围内。
[0023]进一步地，所述校准物质A、B、D和E在费氏粒度仪上的读数范围均为0.4～50um。
[0024]进一步地，适用于所述校正方法的费氏粒度仪包括采用空气透过法原理设计的设备。
[0025]本专利技术的有益效果是：现有技术中主要公开的为一种红宝石管单点校正仪器，该单点校正方法主要利用单值红宝石标准管，固定P值(默认等于空气总压力为50cm水柱，忽略机械管路对气体压力的损耗)，通过调整针阀(也就是调整C)来调整仪器；该方法对于P值一样的仪器系统是可以起到调整作用，所以主要是用于单台仪器的稳定性调整控制。当不同仪器间，特别是不同品牌仪器，设备机械结构对压力的损耗不同，从而导致样品前压力(P值)是不一样的，所以单纯通过调整C是无法消除仪器差异。本专利技术通过调整C和P值，使得不同仪器间的检测系统一致；解决了红宝石管单点校正无法消除仪器间系统差异问题，可以
实现美国Fisher和国产费氏粒度仪设备调试，0.5
‑
50um范围内两台设备差异在
±
3％范围内。
附图说明
[0026]图1为本专利技术提供的费氏粒度仪工作原理图。
[0027]其中，1
‑
稳压阀；2
‑
样品管；3
‑
管后针阀；4
‑
读数板基线；5
‑
U形管；6
‑
补水阀；7
‑
稳压管。
具体实施方式
[0028]下面通过具体实施例来进一步说明本专利技术。但这些实例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。
[0029]实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种费氏粒度仪多点校正方法，其特征在于：所述校正方法是利用两个或两个以上高低值标准物质，测量其水柱高度，通过调整仪器针阀来调节仪器常数C值，使得气体通过样品或标准管后的压力F值的比值达到预先设定的标准值，再通过调整稳压管水位高度，使得各个标准物质的水柱高度达到预先设定的标准值从而完成待检测设备的校正。2.如权利要求1所述的一种费氏粒度仪多点校正方法，其特征在于：所述高低值标准物质为红宝石标准管或具有相同作用的标准管或者粉末颗粒；所述粉末颗粒为金属粉末、金属化合物粉末或非金属粉末。3.如权利要求2所述的一种费氏粒度仪多点校正方法，其特征在于：所述高低值标准物质为红宝石标准管或具有相同作用的标准管，所述校正方法具体包括以下几个步骤，a)、用读数板得到校准物质A和校准物质B的费氏粒度值；b)、通过费氏粒度公式计算出F
A
、F
B
，再计算出F
A
和F
B
的比值K；根据K值调整针阀；c)、重复a～b步骤，直至设备的K值与标准值K
标
一致；d)、调试K值后，对稳压管进行加水或减水，直至校准物质A和校准物质B的FSSS测量值与标准值的差异满足
±
3％范围；e)、低档调试后，再调试高档；高档调试校准物质为校准物质D和校准物质E，步骤如a～d所示。4.如权利要求2所述的一种费氏粒度仪多点校正方法，其特征在于:所述高低值标准物质为粉末颗粒，所述校正方法具体包括以下几个步骤：a...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙本夫，王玥，林小璇，林高安，杨会珍，陈林栋，周喜诚，柴曌媛，
申请(专利权)人：厦门金鹭特种合金有限公司，
类型：发明
国别省市：