本实用新型专利技术涉及复介电常数测量技术领域，具体是一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，包括有底板、第一平移台、第二平移台、样品装夹组件、第一波导固定组件和第二波导固定组件；第一平移台和第二平移台分别对称安装在底板的左右两侧，第一平移台上设置有第一抛物面镜和第二抛物面镜，第二平移台上设置有第三抛物面镜和第四抛物面镜；样品装夹组件位于第二抛物面镜和第三抛物面镜之间；第一波导固定组件和第二波导固定组件上分别设置有第一波导和第二波导；第一波导和第二波导的一端上分别连接有第一天线和第二天线，第一天线的相位中心与第一抛物面镜的焦点重合，第二天线的相位中心与第四抛物面镜的焦点重合。线的相位中心与第四抛物面镜的焦点重合。线的相位中心与第四抛物面镜的焦点重合。
【技术实现步骤摘要】
准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置
[0001]本技术涉及复介电常数测量
，尤其涉及一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置。
技术介绍
[0002]材料介电常数是大多数电子产品设计制造的关键信息，是支撑着现代通信、计算机、信息网络技术、微机械智能系统、工业自动化和智能家居等现代高技术产业的重要基石，在航空航天、射电天文及生物医学等领域也有重要的意义或巨大的应用前景。目前，卫星通信，雷达，国防安全的应用频率范围已达太赫兹(THz)。在微电子领域里，衬底材料能制造设备用于贸易、军事。其他一些应用需要复合电介质，能模拟人体电磁干扰和抗扰，液体的高频特性对于安全需要和生物研究十分重要。因此，产生了对材料高频特性研究的强烈需求，须使用非破坏性THz技术进行研究，获取材料在太赫兹波段的复介电常数。
[0003]材料电磁参数测试方法的研究一直是材料科学、生物电磁学、隐身技术、微波电路设计等电磁场和微波工程技术的实践领域的重要研究课题，现有的太赫兹波段的复介电常数的获取方法有很多，其中基于矢量网络分析仪的自由空间法由于是一种非接触和非破坏性的测试方法,具有对测试样品要求简单以及测试频率范围宽等优点，成为太赫兹波段材料复介电常数测试的首要选择。但自由空间法系统搭建比较麻烦，使用自由空间法对太赫兹波段材料复介电常数进行测量时，需要耗费大量的时间和精力，且自由空间法系统的搭建需要一定系统搭建基础，导致太赫兹波段材料复介电常数的测量更加的麻烦。
技术实现思路
[0004]本技术提供一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，用以解决现有技术中通过自由空间法对太赫兹波段的复介电常数进行测量时存在需要耗费大量的时间和精力搭建自由空间法系统，导致太赫兹波段材料复介电常数的测量更加的麻烦等缺陷，实现了在测量时不用重新搭建自由空间法系统，只需要经过简单的连接就可以材料在太赫兹波段的复介电常数进行测量，节省了大量的时间和精力，使得太赫兹波段材料复介电常数的测量更加的便捷。
[0005]本技术提供一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，包括有底板、第一平移台、第二平移台、样品装夹组件、第一波导固定组件和第二波导固定组件；
[0006]所述第一平移台和所述第二平移台分别对称安装在所述底板的左右两侧，所述第一平移台上设置有第一抛物面镜和第二抛物面镜，所述第二平移台上设置有第三抛物面镜和第四抛物面镜；
[0007]所述样品装夹组件安装在所述底板上，所述样品装夹组件位于所述第二抛物面镜和所述第三抛物面镜之间；
[0008]所述第一波导固定组件和所述第二波导固定组件分别安装在所述底板的两侧，所述第一波导固定组件和所述第二波导固定组件上分别设置有第一波导和第二波导；
[0009]所述第一波导和所述第二波导的一端上分别连接有第一天线和第二天线，所述第一天线的相位中心与所述第一抛物面镜的焦点重合，所述第二天线的相位中心与所述第四抛物面镜的焦点重合。
[0010]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述第一抛物面镜与所述第二抛物面镜位于同一直线上，所述第三抛物面镜与所述第四抛物面镜位于同一直线上，所述第一抛物面镜和所述第四抛物面镜相互对称，所述第二抛物面镜和所述第三抛物面镜相互对称。
[0011]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置还包括有太赫磁波发射模块和太赫磁波接收模块，所述太赫磁波发射模块与所述第一波导连接，所述太赫磁波接收模块与所述第二波导连接。
[0012]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述太赫磁波发射模块包括有五维调整件和太赫磁波扩频模块，所述五维调整件安装在所述第一波导固定组件的一侧，所述太赫磁波扩频模块固定安装在所述第一波导固定组件上。
[0013]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置还包括有至少一个第一平移件和至少一个第二平移件，所述第一平移件和所述第二平移件均安装在所述底板上，所述第一平移台安装在所述第一平移件上，所述第二平移台安装在所述第二平移台上。
[0014]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述第一抛物面镜和所述第一平移台之间、所述抛物面镜与所述第一平移台之间、所述第三抛物面镜与所述第二平移台之间以及所述第四抛物面镜与所述第二平移台之间均设置有三维调整件。
[0015]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述样品装夹组件包括有样品夹具和第一二维平移件，所述第一二维平移件安装在所述底板上，所述样品夹具固定安装在所述第一二维平移件上。
[0016]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述样品夹具的中间位置设置有卡接槽，所述样品夹具上设置有两个通孔，两个所述通孔分别位于所述卡接槽的两侧，所述通孔与所述卡接槽连通。
[0017]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述第一波导固定组件包括有第二二维平移件和波导装夹板，所述第二二维平移件安装在所述底板上，所述波导装夹板固定安装在所述第二二维平移件上，所述波导装夹板上设置有与所述波导相匹配的卡槽。
[0018]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，所述卡槽的两侧分别设置多个螺纹孔，所述螺纹孔位于所述波导装夹板上。
[0019]根据本技术提供的一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，通过样品装夹组件将样品固定住，同时将第一波导和第二波导的另一端分别与扩频模块连接，然后即可开始对样品在太赫磁波段的复介电常数进行测量。与第一波导连接的扩频模块发出太赫磁波，太赫磁波经过波导后传输到天线，然后经天线传输到第一抛物面镜，第一抛物面镜将太赫兹波反射到第二抛物面镜上，第二抛物面镜对太赫兹波进行汇集并穿过样品件
后传输到第三抛物面镜，第三抛物面镜将携带有样品信息的太赫兹波反射到第四抛物面镜，然后第四抛物面镜将太赫兹波传输给第二天线，然后经第二波导传输到另一个扩频模块，然后再通过矢量网络分析仪进行分析，进而完成了对样品在太赫磁波段的复介电常数的测量。实现了在测量时不用重新搭建自由空间法系统，只需要经过简单的连接就可以对样品在太赫兹波段的复介电常数进行测量，节省了大量的时间和精力，使得太赫兹波段材料复介电常数的测量更加的便捷。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是本技术提供的准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置的结本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，其特征在于，包括有底板、第一平移台、第二平移台、样品装夹组件、第一波导固定组件和第二波导固定组件；所述第一平移台和所述第二平移台分别对称安装在所述底板的左右两侧，所述第一平移台上设置有第一抛物面镜和第二抛物面镜，所述第二平移台上设置有第三抛物面镜和第四抛物面镜；所述样品装夹组件安装在所述底板上，所述样品装夹组件位于所述第二抛物面镜和所述第三抛物面镜之间；所述第一波导固定组件和所述第二波导固定组件分别安装在所述底板的两侧，所述第一波导固定组件和所述第二波导固定组件上分别设置有第一波导和第二波导；所述第一波导和所述第二波导的一端上分别连接有第一天线和第二天线，所述第一天线的相位中心与所述第一抛物面镜的焦点重合，所述第二天线的相位中心与所述第四抛物面镜的焦点重合。2.根据权利要求1所述的准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，其特征在于，所述第一抛物面镜与所述第二抛物面镜位于同一直线上，所述第三抛物面镜与所述第四抛物面镜位于同一直线上，所述第一抛物面镜和所述第四抛物面镜相互对称，所述第二抛物面镜和所述第三抛物面镜相互对称。3.根据权利要求1或2所述的准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，其特征在于，所述准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置还包括有太赫磁波发射模块和太赫磁波接收模块，所述太赫磁波发射模块与所述第一波导连接，所述太赫磁波接收模块与所述第二波导连接。4.根据权利要求3所述的准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，其特征在于，所述太赫磁波发射模块包括有五维调整件和太赫磁波扩频模块，所述五维调整件安装在所述第一波导固定组件的一侧，所述太赫磁波扩频模块固...
【专利技术属性】
技术研发人员：张振伟，黄辉，
申请(专利权)人：首都师范大学，
类型：新型
国别省市：
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