【技术实现步骤摘要】
一种用于材料电磁介电特性测试的结构
[0001]本专利技术涉及微波测量
,尤其涉及一种用于材料电磁介电特性测试的结构。
技术介绍
[0002]材料介电特性在微波、毫米波频段上的测量是电子科学技术和基础物理研究中不可或缺的重要部分。新材料的不断涌现,迫切地需要精确测量其介电特性,这在理论研究和实际工程中都具有重要的意义。微波/毫米波频段是目前应用最为广泛的电磁频段。微波毫米波段,主要有谐振法和网络参数法。谐振法又分为谐振腔微扰法、高Q腔法、介质谐振器法、分离式圆柱腔法等。网络参数法则分为传输反射法、自由空间法、终端短路法等。
[0003]在谐振法研究通常是指采用谐振腔研究,通过与外部电路相连,谐振腔成为完整微波回路系统一个关键部件。经由一个或数个端口谐振腔与外电路连通,外部传输线路将信号源信号引入谐振腔,在腔内激励起测量所需模式的电磁振荡。将外电路与谐振腔相连接的端口部分即是耦合器或激励机构。
[0004]耦合器必须保证能在腔中产生起测量要求的谐振模式,同时希望能尽量避免其他干扰模式的产生。依照激励方式的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于材料电磁介电特性测试的结构,其特征在于,包括圆柱形波导(10)及阿基米德螺线耦合器(20),将所述圆柱形波导(10)两端密闭形成一圆柱谐振腔(11),所述阿基米德螺线耦合器(20)位于圆柱谐振腔(11)的上部中心;所述阿基米德螺线耦合器(20)包括连接段(21)及两根阿基米德螺线(22),所述阿基米德螺线(22)位于圆柱谐振腔(11)...
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