本发明专利技术公开了一种法兰平面度测量方法及测量装置，属于工业设备技术领域。该法兰平面度测量方法对待测件的待测面进行平面度的测量，先利用激光传感器对支撑面的平面度进行测量和校准，校准后支撑面即为后续测量的基准面，以此削弱支撑面对测量结果的影响；再将待测件放置于支撑面上，且使得待测面朝上设置，以便于激光传感器对待测面的测量；最后利用激光传感器对待测面的平面度进行测量，判断待测面是否满足安装要求。上述测量方法削弱了支撑面平面度对法兰平面度测量结果的影响，提高了法兰平面度测量的精准性。法兰平面度测量的精准性。法兰平面度测量的精准性。
【技术实现步骤摘要】
一种法兰平面度测量方法及测量装置
[0001]本专利技术涉及工业设备
，尤其涉及一种法兰平面度测量方法及测量装置。
技术介绍
[0002]在实际的不同工况中，根据法兰安装位置的不同，对法兰的平面度有不同的要求。比如在制作风电塔筒时，连接相邻两个筒体的法兰的平面度要小于等于2mm，但连接筒体与风机舵机座的法兰的平面度要小于等于0.35mm。因此，需要对法兰的平面度进行测量，以判断法兰是否满足安装要求。
[0003]目前对法兰平面度的测量通过在法兰待测面的上方设有激光传感器实现。但平面度测量过程的结果受到放置法兰的支撑面的平面度影响，从而降低了法兰平面度测量的精准性。
[0004]为此，亟需提供一种法兰平面度测量方法及测量装置以解决上述问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种法兰平面度测量方法及测量装置，解决了法兰平面度的测量结果容易受到放置法兰的支撑面的平面度影响的问题，提高了法兰平面度测量的精准性。
[0006]为实现上述目的，提供以下技术方案：
[0007]一种法兰平面度测量方法，包括如下步骤：
[0008]S1、利用激光传感器对承载平台的支撑面的平面度进行测量和校准；
[0009]S2、将待测件放置于所述承载平台的所述支撑面上，且所述待测件的待测面朝上设置；
[0010]S3、以所述支撑面为基准面，利用所述激光传感器对所述待测面的平面度进行测量，判断所述待测面是否满足安装要求。
[0011]作为上述法兰平面度测量方法的一种可选方案，步骤S1还包括以下步骤：
[0012]S11、在所述支撑面上选取多个第一待测点，以测量出所述支撑面的平面度；
[0013]S12、若所述支撑面平面度的测量值与第一预设值相等，则需要将所述激光传感器的测量数值归零；否则，需要对所述支撑面的平面度进行矫正，直至所述支撑面的平面度与所述第一预设值相等。
[0014]作为上述法兰平面度测量方法的一种可选方案，步骤S3还包括以下步骤：
[0015]S31、在所述待测面上选取多个第二测试点，以测量出所述待测面的平面度；
[0016]S32、若所述待测面平面度的测量值与第二预设值相等，则所述待测面合格；否则，所述待测面不合格。
[0017]作为上述法兰平面度测量方法的一种可选方案，还包括步骤：
[0018]S41、所述承载平台退回到初始位置，将测量完毕的所述待测件取下所述承载平台；
[0019]S42、重复步骤S2和步骤S3，以便对另一所述待测件的所述待测面的平面度进行测量。
[0020]一种测量装置，应用于上述法兰平面度测量方法，包括：
[0021]承载平台，所述承载平台上设有容纳槽，所述容纳槽内设有支撑面，所述支撑面用于支撑待测件，且所述待测件的待测面朝上设置；
[0022]激光传感器，设于所述承载平台的上方，能够以所述支撑面为基准面，测量所述待测面的平面度。
[0023]作为上述测量装置的一种可选方案，还包括承载板，用于承载所述待测件，所述承载板能够设于所述承载平台上，所述承载平台上还设有夹持组件，用于夹持所述承载板。
[0024]作为上述测量装置的一种可选方案，所述夹持组件设有两个，两个所述夹持组件分别用于夹持所述承载板的两端。
[0025]作为上述测量装置的一种可选方案，所述承载平台包括沿竖直方向间隔设置的第一板和第二板，所述承载板设于所述第一板上；所述夹持组件包括夹持件和驱动件，所述夹持件包括第一部件和第二部件，所述第一部件转动设于所述第一板的任一端，所述驱动件设于所述第一板与所述第二板之间，所述第二部件的一端与所述驱动件的输出端转动相连，另一端与所述第一部件的一端转动相连，所述驱动件用于驱动所述第二部件远离或靠近所述承载平台。
[0026]作为上述测量装置的一种可选方案，还包括机壳和调节组件，所述调节组件设于所述机壳内，所述承载平台设于所述调节组件的输出端，所述调节组件用于调节所述待测件与所述激光传感器之间的相对位置。
[0027]作为上述测量装置的一种可选方案，所述调节组件包括第一模组和第二模组，所述第一模组的驱动方向为第一方向，所述承载平台设于所述第一模组的输出端；所述第二模组的驱动方向为第二方向，所述第一模组设于所述第二模组的输出端；所述第一方向与所述第二方向在水平面内垂直设置。
[0028]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
[0029]本专利技术所提供的一种法兰平面度测量方法，对待测件的待测面进行平面度的测量，先利用激光传感器对支撑面的平面度进行测量和校准，校准后支撑面即为后续测量的基准面，以此削弱支撑面对测量结果的影响；再将待测件放置于支撑面上，且使得待测面朝上设置，以便于激光传感器对待测面的测量；最后利用激光传感器对待测面的平面度进行测量，判断待测面是否满足安装要求。上述测量方法削弱了支撑面平面度对法兰平面度测量结果的影响，提高了法兰平面度测量的精准性。
[0030]本专利技术所提供的一种测量装置应用于上述法兰平面测量方法中，包括承载平台和激光传感器，承载平台上设有容纳槽，容纳槽内设有支撑面，支撑面用于支撑待测件，且待测件的待测面朝上设置。激光传感器设于承载平台的上方，能够以支撑面为基准面，测量待测面的平面度，削弱了支撑面平面度对法兰平面度测量结果的影响，提高了法兰平面度测量的精准性。
附图说明
[0031]图1为本专利技术实施例中法兰平面度测量装置的结构示意图；
[0032]图2为图1中A处的放大图；
[0033]图3为本专利技术实施例中承载平台和夹持组件的装配图；
[0034]图4为本专利技术实施例中测量方法的流程图；
[0035]图5为本专利技术实施例中步骤S1的流程图；
[0036]图6为本专利技术实施例中步骤S3的流程图。
[0037]附图标记：
[0038]1、承载平台；2、夹持组件；3、调节组件；4、激光传感器；5、辅助滑轨；6、工作平台；
[0039]11、第一板；111、承载板；12、第二板；
[0040]21、夹持件；211、第一部件；212、第二部件；22、驱动件；
[0041]31、第一模组；32、第二模组；
[0042]61、支撑架。
具体实施方式
[0043]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0044]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[00本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种法兰平面度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、利用激光传感器(4)对承载平台(1)的支撑面的平面度进行测量和校准；S2、将待测件放置于所述承载平台(1)的所述支撑面上，且所述待测件的待测面朝上设置；S3、以所述支撑面为基准面，利用所述激光传感器(4)对所述待测面的平面度进行测量，判断所述待测面是否满足安装要求。2.根据权利要求1所述的法兰平面度测量方法，其特征在于，步骤S1还包括以下步骤：S11、在所述支撑面上选取多个第一待测点，以测量出所述支撑面的平面度；S12、若所述支撑面平面度的测量值与第一预设值相等，则需要将所述激光传感器(4)的测量数值归零；否则，需要对所述支撑面的平面度进行矫正，直至所述支撑面的平面度与所述第一预设值相等。3.根据权利要求1所述的法兰平面度测量方法，其特征在于，步骤S3还包括以下步骤：S31、在所述待测面上选取多个第二测试点，以测量出所述待测面的平面度；S32、若所述待测面平面度的测量值与第二预设值相等，则所述待测面合格；否则，所述待测面不合格。4.根据权利要求1所述的法兰平面度测量方法，其特征在于，还包括步骤：S41、所述承载平台(1)退回到初始位置，将测量完毕的所述待测件取下所述承载平台(1)；S42、重复步骤S2和步骤S3，以便对另一所述待测件的所述待测面的平面度进行测量。5.一种测量装置，其特征在于，应用于如权利要求1
‑
4任一项所述的法兰平面度测量方法，包括：承载平台(1)，所述承载平台(1)上设有容纳槽，所述容纳槽内设有支撑面，所述支撑面用于支撑待测件，且所述待测件的待测面朝上设置；激光传感器(4)，设于所述承载平台(1)的上方，能够以所述支撑面为基准面，测量所述待测面的平面度。6.根据权利要求5所述的测量...
【专利技术属性】
技术研发人员：雍君，曾拥银，刘宏波，
申请(专利权)人：江苏创源电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。