一种用于轴向引线元器件的载盒制造技术

技术编号:32182139 阅读:25 留言:0更新日期:2022-02-08 15:44
本实用新型专利技术提供了一种用于轴向引线元器件的载盒,所述载盒内排列有多个用于容纳元器件的槽孔,所述槽孔包括:用于容纳元器件本体的主槽、用于容纳轴向引线的引线槽、用于容纳探针头的探针槽;所述主槽的两端分别引出所述引线槽,所述引线槽上设置有多个所述探针槽,探针头伸入所述探针槽并接触位于引线槽中的轴向引线。载盒在在测试过程和老化过程中通用,简化元器件上下料操作,完成每个元器件在老化及其它试验前后的参数对比测试,提高测试或者老化效率。或者老化效率。或者老化效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于轴向引线元器件的载盒


[0001]本技术涉及自动化设备领域,特别是涉及一种用于轴向引线元器件的载盒。

技术介绍

[0002]轴向引线元器件是电子元器件领域的常见封装类型,包括在电阻、电容、二极管等元器件领域都有应用。当这种元器件要应用于高可靠等级的领域时,除了要对元器件进行常规的参数测量,还要对元器件按相关标准进行老化等试验,以筛选出有缺陷的元器件。因此,对于较高等级的元器件,还要求对比老化前后及其它试验前后的元器件参数变化。
[0003]在现有技术中,老化过程和测试过程是采用不同的夹具以固定元器件,并用不同的方式接触元器件的轴向引脚。老化夹具通常采用老化座,装入及取出元器件均需插、拔的人工操作。大批量老化生产需用较多人工进行元器件在老化夹具上的上下料操作。测试夹具的方式较多,但一般不会直接采用老化夹具用于测试,而是需要对每个元器件在测试夹具上进行另一次上下料操作。现有技术对于较大数量的轴向引线元器件也不容易实现对比老化前后及其它试验前后的参数变化测试。

技术实现思路

[0004]本技术的一个目的是要提供一种用于轴向本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于轴向引线元器件的载盒,其特征在于,所述载盒内排列有多个用于容纳元器件的槽孔,所述槽孔包括:用于容纳元器件本体的主槽、用于容纳轴向引线的引线槽、用于容纳探针头的探针槽;所述主槽的两端分别引出所述引线槽,所述引线槽上设置有多个所述探针槽,探针头伸入所述探针槽并接触位于引线槽中的轴向引线。2.根据权利要求1所述的载盒,其特征在于,所述主槽...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊焰明杨晔
申请(专利权)人:江苏伊施德创新科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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