【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种平板电容老化、测试通用夹具。
技术介绍
1、平板电容主要用于有滤波功能的插头、插座或连接器，平板电容通常由带有多个金属化通孔电极(由金属化孔及孔的水平金属化翻边形成的金属圆环部分)的多层陶瓷电容板构成，平板电容的外边缘周边也被金属化，通常与插头、插座或连接器的地相连。通孔电极的通孔中将安装焊接插针或弹性插孔部件。
2、在安装插针或插孔部件前，需对平板电容中的相邻孔电极之间、孔电极与定义为地的外边缘周边金属化部分之间的耐压、绝缘电阻、容量、损耗4个参数进行测试，其中耐压试验及绝缘电阻测试均需持续一定时间，而多个电极的测试需要的总时间较长。高等级平板电容还需要进行加温、加电老化。因为平板电容通常种类数量众多，有成百上千种，大部分种类生产数量较小，少部分生产数量较大。在实际生产中，要求测试及老化设备既能满足生产数量较小、品种较多的平板电容的灵活测试模式(这时测试速度可以不用太快)，也能满足生产数量较大、要求测试速度较快的批量测量模式。由于每一种平板电容都需要专门对应的测试和老化夹具，这就需要准备众多不同的夹具，而降低...
【技术保护点】
1.一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，由夹具探针板及平板电容装载板构成；夹具探针板上设有与装载板上的平板电容上的孔电极和装载板上的导电电极相适配的探针阵列；
2.根据权利要求1所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述电极阵列还与测试针板上设置的探针阵列相匹配。
3.根据权利要求2所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述测试针板上的探针阵列与测试针板端头上的多通道插头一一对应，多通道插头与高温测试机或低温测试机上的测试板插座相匹配。
4.根据权利要求2所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，由夹具探针板及平板电容装载板构成；夹具探针板上设有与装载板上的平板电容上的孔电极和装载板上的导电电极相适配的探针阵列；
2.根据权利要求1所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述电极阵列还与测试针板上设置的探针阵列相匹配。
3.根据权利要求2所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述测试针板上的探针阵列与测试针板端头上的多通道插头一一对应，多通道插头与高温测试机或低温测试机上的测试板插座相匹配。
4.根据权利要求2所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述老化板上的探针阵列与老化板端头上的多通道插头相连，多通道插头与老化机上的老化板插座相匹配。
5.根据权利要求4所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述通用夹具用于低温测试机，或高低温测试机，或只用于高温测试机；低温测试机或高低温测试机或高温测试机采用测试探针卡，测试探针卡上设置与夹具探针板底部的电极阵列相匹配的探针列。
6.根据权利要求5所述的一种平板电容老化、测试通用夹具，其特征在于，所述装载板上设有平板电容的定位槽，定位槽的...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊焰明，
申请(专利权)人：江苏伊施德创新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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