一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法，其包括以下步骤：S1、获取IGBT器件的历史数据；S2、数据预处理并建立IGBT的寿命模型；S3、利用无迹卡尔曼粒子滤波算法建立预测方程；S4、预测IGBT的剩余使用寿命。本发明专利技术对粒子滤波算法进行了改进，并且用来预测IGBT的剩余使用寿命，这种方法提高了寿命预测的准确性。命预测的准确性。命预测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法


[0001]本专利技术涉及半导体领域，具体涉及一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法。

技术介绍

[0002]电力电子设备近年来发展迅速，被应用于很多领域，但由于其工作环境的复杂性，导致其核心器件——绝缘栅双极型晶体管(简称IGBT)会经常发生失效。因此，对IGBT运行情况的可靠性评估具有重要意义，如果能够提供有效的状态评估和预警方案，就可以避免灾难性事故的发生，所以对IGBT器件进行寿命预测方向的研究有着非常重要的实际意义。

技术实现思路

[0003]本专利技术提出了一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法。这种方法利用改进的粒子滤波算法来对IGBT的剩余使用寿命进行预测，与现有的技术相比，本专利技术提高了预测的准确性。
[0004]为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：
[0005]提供一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法，其包括以下步骤：
[0006]S1、获取IGBT器件的历史数据；
[0007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取IGBT器件的历史数据；S2、数据预处理并建立IGBT的寿命模型；S3、利用无迹卡尔曼粒子滤波算法建立预测方程；S4、预测IGBT的剩余使用寿命。2.根据权利要求1所述的基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法，其特征在于，所述步骤S1的具体方法为：对IGBT器件进行功率循环加速老化实验，获取IGBT器件在老化过程中集电极与发射极之间的导通压降，建立一个历史数据集。3.根据权利要求1所述的基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法，其特征在于，所述步骤S2的具体步骤为：S2
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1、使用莱茵达准则剔除由于测量产生的误差点；S2
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2、将单次循环中的数据的均值作为该次循环的特征值；S2
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3、通过尺度变换将数据样本按统一的标准映射到同一范围内；S2
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4、对处理后的数据进行曲线拟合，建立一个初步的寿命模型，并确定模型参数的初始值。4.根据权利要求1所述的基于无迹卡尔曼粒子滤波的IGBT寿命预测方法，其特征在于，所述步骤S3的具体步骤为：S3
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1、根据寿命模型建立状态方程f和观测方程h；S3
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2、设置粒子数量为N，并对粒子集合进行初始化，即从先验分布P中抽取初始状态；...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍伟，古湧乾，陈勇，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：