【技术实现步骤摘要】
一种LED封装老化测试装置
[0001]本技术涉及LED芯片领域,尤其涉及一种LED封装老化测试装置。
技术介绍
[0002]LED芯片一种固态的半导体器件,LED的心脏是一个半导体的晶片,晶片的一端附在一个支架上,一端是负极,另一端连接电源的正极,使整个晶片被环氧树脂封装起来。
[0003]在LED产品制造过程中,主要通过不同电流的通电老化测试和不同温度、湿度等条件下的环境试验评估和检验其性能。传统的一种型号的LED封装产品一般会有一款对应的夹具或测试装置进行产品寿命评估,然而,随着LED行业的快速发展,LED产品类型不断的推陈出新,LED封装形式演变,其型号越来越多样化,这就要经常变换其老化测试装置,造成测试成本增加和资源的浪费。
[0004]为解决上述问题,如公开号为CN108508341B的LED老化测试装置中通过在载板上设置凹槽,凹槽内部设置不同大小第一凸缘,与凹槽内部形成不同的放置腔,从而对应放置不同型号的LED产品,但载板与第一凸缘之间的固定设置,不便于安装拆卸,更换不同的大小的第一凸缘。 />[0005]因此本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED封装老化测试装置,其特征在于,包括:载板;放置槽,所述放置槽开设于所述载板的顶部,放置槽内部的底部开设有环形固定槽,所述环形固定槽的内部设置有卡锁件,所述卡锁件包括L形卡锁块,所述L形卡锁块内壁的顶部设置有定位轴;支撑凸缘,所述支撑凸缘通过定位环安装于所述放置槽的内部,所述定位环包括定位凸缘,所述定位凸缘上开设有滑动孔,所述定位凸缘上且位于滑动孔的一侧开设有定位孔。2.根据权利要求1所述的LED封装老化测试装置,其特征在于,所述环形固定槽内壁的顶部粘接有环形胶垫。3.根据权利要求1所述的LED封装老化测试装置,其特征在于,所述载板上且位于放置槽的两侧均设置有接线座,所述接线座的一侧设置有夹持件。4.根据权利要求3所述的LED封装老化测试装置,其特征在于,所述夹持件包括内螺纹筒,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑秀邦,
申请(专利权)人:福建鼎坤电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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