一种材料表面质量检测方法、系统及存储设备技术方案

技术编号:32029781 阅读:17 留言:0更新日期:2022-01-27 12:55
本发明专利技术适用于检测仪器相关领域,提供了一种材料表面质量检测方法、系统及存储设备,通过接收材料到达检测位的位置确认信号;然后根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波,利用材料表面缺陷对于光的相位影响程度的不同,检测光波的反射情况,依据传感器捕获的光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据,分析三维外形数据,显示出缺陷位置以及缺陷深度等,标记出材料表面的质量缺陷;最终将带有标记的三维外形数据发送给显示端。解决现有技术对于缺陷的具体形状,以及缺陷所处的具体位置并不能精确展示出来的问题。陷所处的具体位置并不能精确展示出来的问题。陷所处的具体位置并不能精确展示出来的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种材料表面质量检测方法、系统及存储设备


[0001]本专利技术属于检测仪器相关领域,尤其涉及一种材料表面质量检测方法、系统及存储设备。

技术介绍

[0002]随着新一代信息技术与制造业的深入融合,引发制造业产生巨大变革,逐步从数量扩增向质量提升转变。通过提升产品质量来生产高附加值、高利润的产品,可以实现产品竞争力的跃升。提升产品质量的思路有加强品质检验、提升工艺技术水准和规范生产作业等,其中加强品质检验是制造业生产中最常用的方式。
[0003]作为生产制造过程中必不可少的一步,表面缺陷检测广泛应用于各工业领域,表面缺陷检测大致经历了三个阶段,分别是人工目视法检测、单一机电或光学技术检测以及机器视觉检测。
[0004]现有的对于材料表面质量的检测过程需要人干预的步骤较多,虽然能够检测出材料表面存在缺陷,但是对于缺陷的具体形状,以及缺陷所处的具体位置并不能精确的展示出来,对于材料的生产改进以及材料的推广使用造成不便。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种材料表面质量检测方法、系统及存储设备,旨在解决现有技术对于缺陷的具体形状,以及缺陷所处的具体位置并不能精确的展示出来,对于材料的生产改进以及材料的推广使用造成不便问题。
[0006]本专利技术实施例是这样实现的,一方面,一种材料表面质量检测方法包括:接收材料到达检测位的位置确认信号;根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波;根据检测光波的反射情况,捕获光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据;分析三维外形数据,标记出材料表面的质量缺陷;将带有标记的三维外形数据发送给显示端。
[0007]作为本专利技术的一种改进方案:所述接收材料到达检测位的位置确认信号具体包括:根据材料的型号和类型,向对应的位置感应器发送开启信号,使得位置感应器处于开机监控状态;所述位置感应器安装的位置与材料的大小相对应,以确保材料到达检测位之后,材料中心位置与检测光波发射位置正对;接收位置感应器上传的材料到达检测位的位置确认信号。
[0008]作为本专利技术的又一种改进方案:所述根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波具体包括:根据不同位置的位置感应器发出的位置确认信号,调整检测光波辐射的面积;
调整后,向材料表面投射光相位检测光波;所述检测光波将材料表面全部罩设在内。
[0009]作为本专利技术的另一种改进方案:所述根据检测光波的反射情况,捕获光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据具体包括:接收到检测光波到达材料表面之后折射回来的反射光波;将反射光波的光强度经算法重构转化为光相位信息;根据不同位置处光相位信息的不同建立不同高度的三维外形模型单元;将不同位置处的三维外形模型单元拟合,构成三维外形模型数据。
[0010]作为本专利技术的进一步方案:所述分析三维外形数据,标记出材料表面的质量缺陷具体包括:将三维外形模型数据与材料标准模型数据进行重合,检测重合后三维外形模型的外形表面与材料标准模型的外形表面之间的重合面积;根据重合面积和材料标准模型的外形表面得到重合度值;判断重合度值是否小于预设重合度值;当重合度值小于预设重合度值时,标记出与材料标准模型的外形表面不重合的三维外形模型的外形表面区域。
[0011]作为本专利技术的再进一步方案:所述当重合度值小于预设重合度值时,标记出与材料标准模型的外形表面不重合的三维外形模型的外形表面区域之后,所述方法还包括:提取不重合的三维外形模型的外形表面区域中一个连续区域内的最高点坐标和最低点坐标;根据提取的多个最高点坐标和最低点坐标计算材料表面的粗糙度值;判断表面粗糙度值是否大于预设粗糙度值;当表面粗糙度值大于预设粗糙度值时,对三维外形模型上的最高点和最低点进行标记。
[0012]作为本专利技术的优化方案:所述将带有标记的三维外形数据发送给显示端具体包括:将三维外形模型与材料标准模型之间的重合区域与不重合区域分别标记显示;将表面粗糙度值大于预设粗糙度值的不重合区域中的最高点和最低点进行高亮显示;将带有标记和高亮显示的三维外形模型发送给显示端;接收来自显示端上传的操作数据。
[0013]另一方面,一种材料表面质量检测系统包括:信号接收模块,用于接收材料到达检测位的位置确认信号;检测控制模块,用于根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波;模型构建模块,用于根据检测光波的反射情况,捕获光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据;缺陷分析模块,用于分析三维外形数据,标记出材料表面的质量缺陷;模型数据发送模块,用于将带有标记的三维外形数据发送给显示端。
[0014]一种存储设备,包括一个或多个处理器,所述存储设备存储有计算机程序,所述计
算机程序被处理器执行时实现上面所述的材料表面质量检测方法。
[0015]本专利技术的有益效果:通过接收材料到达检测位的位置确认信号;然后根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波,利用材料表面缺陷对于光的相位影响程度的不同,检测光波的反射情况,依据传感器捕获的光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据,分析三维外形数据,显示出缺陷位置以及缺陷深度等,标记出材料表面的质量缺陷;最终将带有标记的三维外形数据发送给显示端。解决现有技术对于缺陷的具体形状,以及缺陷所处的具体位置并不能精确展示出来的问题。
附图说明
[0016]图1是一种材料表面质量检测方法运行环境结构示意图;图2是一种材料表面质量检测方法主流程图;图3是一种材料表面质量检测方法中三维外形模型数据构建流程图;图4是一种材料表面质量检测方法中材料表面缺陷标记流程图;图5是一种材料表面质量检测系统内部结构示意图。
具体实施方式
[0017]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。
[0018]本专利技术通过接收材料到达检测位的位置确认信号;然后根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波,利用材料表面缺陷对于光的相位影响程度的不同,检测光波的反射情况,依据传感器捕获的光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据,分析三维外形数据,显示出缺陷位置以及缺陷深度等,标记出材料表面的质量缺陷;最终将带有标记的三维外形数据发送给显示端。解决现有技术对于缺陷的具体形状,以及缺陷所处的具体位置并不能精确展示出来的问题。
[0019]图1示出了本专利技术实施例的一种材料表面质量检测方法运行环境结构示意图,位置感应器1感应到材质之后,向材料表面质量检测系统发送到位信号,然后材料表面质量检测系统向检测光波发生器3发送启动信号,检测光波发生器3发射光波,当光波到达材料表面的时候,光波反射,光相位传感器4感应到光波之后,将感应的光波感应的光波经算法重构转化为光相位信息;根据不同位置处光相位信息的不同建立不同高度的三维外形模型单元,材料表面质量检测系统对三维外形数据进行分析和标记之后,将带有标本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种材料表面质量检测方法,其特征在于,所述方法包括:接收材料到达检测位的位置确认信号;根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波;根据检测光波的反射情况,捕获光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据;分析三维外形数据,标记出材料表面的质量缺陷;将带有标记的三维外形数据发送给显示端。2.如权利要求1所述的材料表面质量检测方法,其特征在于,所述接收材料到达检测位的位置确认信号具体包括:根据材料的型号和类型,向对应的位置感应器发送开启信号,使得位置感应器处于开机监控状态;所述位置感应器安装的位置与材料的大小相对应,以确保材料到达检测位之后,材料中心位置与检测光波发射位置正对;接收位置感应器上传的材料到达检测位的位置确认信号。3.如权利要求2所述的材料表面质量检测方法,其特征在于,所述根据位置确认信号,向材料表面投射光相位检测光波具体包括:根据不同位置的位置感应器发出的位置确认信号,调整检测光波辐射的面积;调整后,向材料表面投射光相位检测光波;所述检测光波将材料表面全部罩设在内。4.如权利要求1所述的材料表面质量检测方法,其特征在于,所述根据检测光波的反射情况,捕获光相位信息,并根据光相位信息构建材料的三维外形模型数据具体包括:接收到检测光波到达材料表面之后折射回来的反射光波;将反射光波的光强度经算法重构转化为光相位信息;根据不同位置处光相位信息的不同建立不同高度的三维外形模型单元;将不同位置处的三维外形模型单元拟合,构成三维外形模型数据。5.如权利要求1

4任一所述的材料表面质量检测方法,其特征在于,所述分析三维外形数据,标记出材料表面的质量缺陷具体包括:将三维外形模型数据与材料标准模型数据进行重合,检测重合后三维外形模型的外形表面与材料标准模型的外形表面之间的重合面积;根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙瑞薛少龙
申请(专利权)人:深圳市倍捷锐生物医学科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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