OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请属于显示技术领域，公开了一种OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取已完成像素点发光墨水喷印且未封装的OLED显示器件的像素点内至少一个探测位置点的太赫兹反射波时域数据；太赫兹反射波时域数据是用预设光强的太赫兹脉冲波周期性地照射所述像素点的所述探测位置点时，由所述像素点反射的反射波的光强数据；根据各所述太赫兹反射波时域数据获取各所述探测位置点的指纹谱数据；提取各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值；对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点；从而可在封装前准确地检测各像素点是否有坏点，以便于在发现坏点时可进行修复。进行修复。进行修复。

【技术实现步骤摘要】
OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及显示
，具体而言，涉及一种OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，在对OLED（Organic Light
‑
Emitting Diode）显示器件进行坏点（即缺陷像素点）检测时，通常是在点亮OLED显示器件的情况下用AOI（Automated Optical Inspection）测试设备进行检测的，由于需要点亮OLED显示器件，因此只能对封装好的OLED显示器件进行检测。
[0003]然而，由于OLED显示器件的发光材料层厚度轻薄、材料颜色对比度差，使用AOI（Automated Optical Inspection）测试设备进行检测时因为图像对比度低，无法精准判断像素点内的有机材料分布，从而检测结果准确性不理想，而且由于只能在封装后进行检测，即使发现有坏点，也无法进行修复，不利于提高产品的良品率。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种OLED喷印缺陷检测方法、装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，包括步骤：A1.获取已完成像素点发光墨水喷印且未封装的OLED显示器件的像素点内至少一个探测位置点的太赫兹反射波时域数据；所述太赫兹反射波时域数据是用预设光强的太赫兹脉冲波周期性地照射所述像素点的所述探测位置点时，由所述像素点反射的反射波的光强数据；A2.根据各所述太赫兹反射波时域数据获取各所述探测位置点的指纹谱数据；A3.提取各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值；A4.对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点。2.根据权利要求1所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，步骤A4包括：A401.对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足；A402.根据各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足的判断结果，判断所述像素点是否为坏点。3.根据权利要求2所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，每个所述像素点内包括多个所述探测位置点；步骤A402之后，还包括：A403.若根据各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足的判断结果判定所述像素点不是坏点，则计算各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值之间的偏差数据；A404.根据所述偏差数据的离散情况再次判断所述像素点是否为坏点。4.根据权利要求2所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，所述指纹谱数据为幅值谱数据；步骤A2包括：分别对各所述探测位置点的太赫兹反射波时域数据进行快速傅里叶变换，得到各所述探测位置点的指纹谱数据。5.根据权利要求4所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，步骤A401包括：若所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值大于所述像素点的第一峰值阈值，则判定所述探测位置点处的发光墨水厚度不足；否则，判定所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘竞博，毛淇，朱云龙，吕赐兴，
申请(专利权)人：季华实验室，
类型：发明
国别省市：