一种散射或衍射实验用低温自动换样器制造技术

一种散射或衍射实验用低温自动换样器，包括样品传送系统、恒温系统和控温系统，样品传送系统包括取样机构和传样机构，取样机构包括第一驱动组件、周向驱动组件和取样杆，第一驱动组件和周向驱动组件分别用于驱动取样杆进行直线运动和周向运动以完成取样操作，传样机构包括第二驱动组件和样品管支架，若干样品管放置在样品管支架上，第二驱动组件驱动样品管支架做直线运动完成进样操作。由于取样机构和传样机构能够在实验过程中自动取样和进样，实现实验过程中的自动换样，使得在实验过程中的换样不需要进行关闭射线束流、拆卸设备、校准样品位置等操作，降低了重复性实验中的人为误差，提高了实验效率，避免了束流时间的浪费。避免了束流时间的浪费。避免了束流时间的浪费。

【技术实现步骤摘要】
一种散射或衍射实验用低温自动换样器


[0001]本专利技术涉及材料分析领域，具体涉及一种散射或衍射实验用低温自动换样器。

技术介绍

[0002]中子、X射线等散射或衍射的实验过程是将中子或X射线发射到样品材料中，通过探测器分析、观察材料的散射或衍射的结果，从而可以得到样品材料的微观结构特征。
[0003]在低温环境下，原子的热运动减小，可以显著的提高结构测量的精度，有些样品会发生相变或表现出某些优异的性能，因此，低温环境对多学科领域的研究至关重要。实验过程中，若需要更换样品，则需要进行关闭射线束流、拆卸设备、校准样品位置等操作，且会增加重复性测试中固有的人为误差，为了提高实验效率、避免束流时间的浪费以及降低实验误差，一次可进行多个样品的实验至关重要。

技术实现思路

[0004]针对上述技术问题，本申请提供一种散射或衍射实验用低温自动换样器，通过样品传送系统实现样品的自动换样。
[0005]根据第一方面，一种实施例中提供一种散射或衍射实验用低温自动换样器，包括：
[0006]样品传送系统，所述样品传送系统包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种散射或衍射实验用低温自动换样器，其特征在于，包括：样品传送系统，所述样品传送系统包括取样机构和传样机构；所述取样机构包括第一驱动组件、周向驱动组件和取样杆，所述第一驱动组件用于驱动所述取样杆沿轴向直线运动，所述周向驱动组件用于驱动所述取样杆沿周向转动；所述传样机构包括第二驱动组件和样品管支架，所述第二驱动组件用于驱动所述样品管支架直线运动，所述样品管支架直线运动方向与所述取样杆直线运动方向垂直，所述样品管支架上开设有若干等间距孔位，所述孔位用于放置样品管，所述取样杆用于取出所述样品管并将所述样品管送至目标检测位置；恒温系统，所述恒温系统用于提供恒温环境；所述恒温系统包括恒温管体，所述恒温管体与所述样品传送系统连通，所述目标检测位置设于所述恒温管体内，所述取样杆伸入所述恒温管体将所述样品管送至目标检测位置；控温系统，所述控温系统包括控温座，所述控温座设于所述恒温管体内。2.如权利要求1所述的散射或衍射实验用低温自动换样器，其特征在于，所述取样杆包括取样杆主体和锁套；所述样品管上设有锁帽；所述锁套为圆筒状，所述锁套与样品管接触端设有若干L型凹槽；所述锁帽为圆柱状，所述锁帽外侧设有若干圆柱状凸起；所述圆柱状凸起与所述L型凹槽相配合；所述L型凹槽的数量等于或大于所述圆柱状凸起的数量。3.如权利要求2所述的散射或衍射实验用低温自动换样器，其特征在于，所述取样杆还包括弹性件和下压头，所述弹性件与所述下压头设于所述锁套内部，所述弹性件与所述下压头抵接，以使得所述锁套与所述锁帽配合更稳定。4.如权利要求3所述的散射或衍射实验用低温自动换样器，其特征在于，所述取样杆上还设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡海韬，白波，袁宝，程辉，李海洋，林权，张纯纯，陈洁，童欣，段钰锋，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：