【技术实现步骤摘要】
一种高精度光缆外表面检测装置及其检测方法
[0001]本专利技术涉及一种高精度光缆外表面检测装置及其检测方法，属光纤生产设备
技术介绍
[0002]目前在光纤生产及施工使用中，均需要通过检测装置对光纤外表面质量进行精确检测作业，为了满足这一需要，当前开发了众多的检测设备，如申请号为“202023235714”的“一种光纤检测装置”、申请号为“2012105592694”的“用于气吹微型光缆护套表面的缺陷检测装置”及申请号为“2017106128341”的“一种光缆表面自动检测方法及系统”等现有技术和设备，虽然可以满足光纤表面质量使用的需要，但当前的设备在兼做作业时，一方面检测作业手段单一，往往均是通过单一的检测设备或原理对光纤表面质量进行检测，且在光纤检测作业时，往往均是单次检测作业，从而导致对光纤表面质量检测精度、效率差，且对检测结果也缺乏有效的验证校验，因此造成了当前光纤表面质量检测精度相对较差；此外，在进行光纤表面质量检测作业时，当前的检测设备在需要进行设备维护作业时，往往需要停机维护，并因此导致检测设备维护...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精度光缆外表面检测装置，其特征在于：所述的高精度光缆外表面检测装置包括承载机架、升降立柱、检测座、压片、压力传感器、微波无损探伤仪、辐照灯、色差检测器及驱动电路，所述承载机架为横断面呈矩形的框架结构，所述微波无损探伤仪、色差检测器及驱动电路均嵌于承载机架内，且驱动电路分别与升降立柱、检测座、压力传感器、微波无损探伤仪、辐照灯、色差检测器电气连接，所述检测座至少两个，分别通过升降立柱与承载机架上端面连接并沿承载机架上端面轴线方向分布，且相邻两个检测座间同轴分布，所述检测座为矩形框架结构，其内部设一个与检测座同轴分布且横断面呈圆形的检测腔，所述检测腔内设至少三个环绕检测腔轴线均布的压片，其后端面与检测腔内侧面铰接并通过压力传感器与检测腔内侧面连接，所述检测腔前半部的内侧面设至少两个微波无损探伤仪的检测头，且微波无损探伤仪的检测头环绕检测腔轴线均布并与检测腔轴线垂直分布并相交，所述检测腔后半部的内侧面设至少两个色差检测器的检测头及至少两个辐照灯，所述色差检测器的检测头和辐照灯均环绕检测腔轴线均布，且色差检测器的检测头光轴与检测腔轴线垂直并相交，同时所述辐照灯间相互并联并与驱动电路电气连接。2.根据权利要求1所述的一种高精度光缆外表面检测装置，其特征在于：所述的驱动电路包括基于DSP芯片、FPGA芯片及CPID芯片中任意一种为基础的核心处理电路、MOS驱动电路、多路稳压直流电源电路、晶振时钟电路、分频时钟电路、数据通讯总线及串口通讯电路，所述核心处理电路分别与MOS驱动电路、多路稳压直流电源电路、晶振时钟电路、分频时钟电路、数据通讯总线及串口通讯电路电气连接，所述晶振时钟电路通过分频时钟电路分别与MOS驱动电路和数据通讯总线电路电气连接，所述MOS驱动电路与数据通讯总线电路、升降立柱、检测座、压力传感器、微波无损探伤仪、辐照灯、色差检测器电气连接，所述数据通讯总线电路另与串口通讯电路电气连接。3.根据权利要求1所述的一种高精度光缆外表面检测装置，其特征在于：所述的检测座包括静载底架、调节基架、升降驱动机构、定位夹具、导向套、导向杆及弹性铰链，所述静载底架、调节基架均为“凵”字形槽状结构，静载底架下端面通过升降立柱与承载机架行端面连接，所述静载底架的上端面通过至少两个升降驱动机构与调节基架连接，并与调节基架构成矩形框架结构，所述导向套包括上半套和下半套，且上半套和下半套均为横断面呈半圆的槽状结构，上半套和下半套分别位于静载底架、调节基架内，并通过定位夹具与静载底架、调节基架的槽体连接，且上半套和下半套间相抵并构成横断面呈圆形结构的检测腔，所述定位夹具与静载底架、调节基架间通过弹性铰链铰接，且检测腔轴线与承载机架上端面呈0
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—60
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夹角，所述上半套前半部、后半部分的上端面分别通过弹性铰链与一条导向杆连接，所述导向杆另通过弹性铰链与调节基架前端面及后端面铰接，所述导向杆轴线与检测腔轴线相交并呈30
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—60
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夹角，所述升降驱动机构与驱动电路电气连接。4.根据权利要求3所述的一种高精度光缆外表面检测装置，其特征在于：所述的检测腔包括机械检测段、非接触检测段，其中非接触检测段工两个，对称分布在机械检测段前端面及后端面位置，与机械检测段连通并同轴分布，且非接触检测段...
【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏友，倪圣健，钱思齐，陈宁虎，张玲，吕永波，朱煜，
申请(专利权)人：中通维易科技服务有限公司，
类型：发明
国别省市：
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