本申请涉及一种异常芯片的识别方法及装置，其属于芯片检测技术领域，其中方法包括以下步骤：向待测芯片发送第一读取指令；基于所述第一读取指令，接收待测芯片的反馈数据，所述反馈数据包括型号信息以及第一输出信息；选取预存储的与所述型号信息对应的地址对照表；若所述第一输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第一错误报告；否则，向待测芯片发送第二读取指令；基于所述第二读取指令，接收待测芯片的第二输出信息；若所述第二输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第二错误报告；否则，输出芯片合格报告。本申请具有提高检测设备检测准确性的效果。本申请具有提高检测设备检测准确性的效果。本申请具有提高检测设备检测准确性的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种异常芯片的识别方法及装置
[0001]本申请涉及芯片检测
，尤其是涉及一种异常芯片的识别方法及装置。
技术介绍
[0002]目前，为了减小芯片的占用面积，往往会将芯片的多个功能晶圆通过并排或者叠加的方式集成在同一个封装内。
[0003]相关技术中，为了筛选异常的芯片，通常会使用检测芯片的检测设备，检测设备配置有一个芯片插槽，技术人员会将芯片插接到芯片插槽中，芯片的外部管脚与检测设备电连接，即可读取芯片特定地址的信息，技术人员即可判断芯片是否异常。
[0004]在实现本申请过程中，专利技术人发现该技术中至少存在如下问题：当检测设备的检测电压瞬时值过大时，芯片在得到检测电压后检测设备可以读取特定地址的信息，而检测电压瞬时值过大容易导致芯片损坏，进而无法排查损坏后的芯片。
技术实现思路
[0005]为了解决检测电压瞬时值过大损坏芯片导致检测设备无法排查损坏后的芯片的问题，本申请提供一种异常芯片的识别方法及装置。
[0006]第一方面，本申请提供一种异常芯片的识别方法，采用如下的技术方案：一种异常芯片的识别方法，包括以下步骤：向待测芯片发送第一读取指令；基于所述第一读取指令，接收待测芯片的反馈数据，所述反馈数据包括型号信息以及第一输出信息；选取预设的与所述型号信息对应的地址对照表；若所述第一输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第一错误报告；否则，向待测芯片发送第二读取指令；基于所述第二读取指令，接收待测芯片的第二输出信息；若所述第二输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第二错误报告；否则，输出芯片合格报告。
[0007]通过采用上述技术方案，当待测芯片插入检测设备的芯片插槽中时，检测设备会向待测芯片输入检测电压，待测芯片在得到检测电压后将相应的输出地址以及待测芯片的型号发送给检测设备，检测设备将对应型号的地址对照表与待测芯片的输出地址进行比对。当待测芯片的输出地址与地址对照表匹配时，检测设备再次检测待测芯片，当待测芯片的输出地址与地址对照表匹配时，输出芯片合格的报告。通过再次对待测芯片进行检测，可以检测出因检测电压损坏的芯片，有助于提高检测设备检测的准确性。
[0008]可选的，所述若第一输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第一错误报告，包括以下步骤：
获取所述地址对照表中的各管脚输出的标准地址；若第一输出信息中的各管脚输出的待测地址与对应的标准地址不一致，则选取与对应的标准地址不一致的待测地址，得到第一错误报告。
[0009]通过采用上述技术方案，检测设备将地址对照表中的各标准地址与第一输出信息的所有待测地址进行一一比较，并选取与标准地址不一致的待测地址，检测设备汇总后得到第一错误报告。通过检测待测芯片的各管脚对应的实际地址输出是否符合待测芯片的标准地址输出，即可实现对待测芯片功能的检测。
[0010]可选的，所述方法，还包括以下步骤：根据获取到的多个第一错误报告中的任一待测地址，得到与任一待测地址对应的标准地址的出现次数；若所述标准地址出现次数超过预设的地址关联阈值，则将出现相同次数的标准地址关联存储，以使关联存储的标准地址对应的待测地址优先与地址对照表进行比对。
[0011]通过采用上述技术方案，检测设备在检测待测芯片时，会检测到待测芯片的某一个管脚损坏，而待测芯片中会出现两个或者两个以上的管脚存在有功能实现的依赖关系，即一个管脚损坏，另一个管脚也无法工作。通过设定的地址关联阈值，排除偶发的若干管脚同时损坏的情况。当检测到某一种待测芯片的管脚损坏时，优先检测与该管脚有功能实现关联的管脚，进而可以提高检测设备的检测效率。
[0012]可选的，所述方法，还包括以下步骤：获取预设的与所述标准地址对应的地址标识；根据各待测地址与标准地址的对应关系以及多个第一错误报告中的各待测地址出现次数，得到地址标识的优先排查顺序；将所述优先排查顺序添加到地址对照表中，以使各待测地址按照优先排查顺序与地址对照表进行比对。
[0013]通过采用上述技术方案，每一个型号对应的标准地址均有地址标识，检测设备对第一错误报告中的各待测地址出现的次数进行统计，并将统计的结果以地址标识的形式排序，得到优先排查顺序，在检测设备检测待测芯片时，根据优先排查顺序对待测芯片的各管脚进行监测，有利于快速排查有问题管脚的待测芯片。
[0014]可选的，所述方法，还包括以下步骤：当获取到第一输出信息中的目标待测地址出现的次数超过预设的易损阈值时，输出目标待测地址对应的管脚易损的提示信息。
[0015]通过采用上述技术方案，检测设备统计各个型号芯片的各管脚受损的次数，当各个型号芯片损坏的次数超过预设的易损阈值时，输出提示信息，以便于技术人员对易损的管脚进行改良。
[0016]可选的，所述方法，还包括以下步骤：接收第一终端上传的第一更新数据，所述第一更新数据携带有对照表标识；根据预设的对照表标识与地址对照表的对应关系，选取所述第一更新数据对应的地址对照表进行更新。
[0017]通过采用上述技术方案，当技术人员对待测芯片的管脚进行改良后，对应的待测芯片的地址对照表需要进行更新，技术人员可以通过第一终端将第一更新数据上传到检测
设备中，检测设备根据第一更新数据中的对照表标识，获取到与对照表标识对应的地址对照表，第一更新数据可对地址对照表进行更新，以提高检测设备检测的准确性。
[0018]可选的，所述方法，还包括以下步骤：接收第二终端上传的第二更新数据，所述第二更新数据包括待更新地址对照表以及与待更新地址对照表对应的型号信息；若所述待更新地址对照表与预设的对照表库中的地址对照表一致，则将所述型号信息与对照表库中的地址对照表建立对应关系；否则，将所述待更新地址对照表更新到对照表库中。
[0019]通过采用上述技术方案，当需要对新款的芯片进行检测时，第二终端可以将对应的芯片的地址对照表发送给检测设备，检测设备识别到新款芯片的地址对照表与对照表库中的某一个地址对照表一致，那么，将新款芯片对应的型号信息与对照表库中的某一个地址对照表建立对应关系，以提高检测设备存储空间的利用率。
[0020]第二方面，本申请提供一种异常芯片识别的装置，采用如下的技术方案：一种异常芯片识别的装置，包括：第一读取模块，用于向待测芯片发送第一读取指令；第一接收模块，用于基于所述第一读取指令，接收待测芯片的反馈数据，所述反馈数据包括型号信息以及第一输出信息；第一选取模块，用于选取预存储的与所述型号信息对应的地址对照表；第一输出模块，用于所述第一输出信息无法匹配地址对照表时，输出所述待测芯片的第一错误报告；第二读取模块，用于向待测芯片发送第二读取指令；第二接收模块，用于基于所述第二读取指令，接收待测芯片的第二输出信息；第二输出模块，用于所述第二输出信息无法满足地址对照表时，输出所述待测芯片的第二错误报告；否则，输出芯片合格报告。
[0021]通过采用上述技术方案，检测设备通过地址对照表对待测芯片的管脚输出进行比对，当待测芯片的管脚符合本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种异常芯片的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：向待测芯片发送第一读取指令；基于所述第一读取指令，接收待测芯片的反馈数据，所述反馈数据包括型号信息以及第一输出信息；选取预存储的与所述型号信息对应的地址对照表；若所述第一输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第一错误报告；否则，向待测芯片发送第二读取指令；基于所述第二读取指令，接收待测芯片的第二输出信息；若所述第二输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第二错误报告；否则，输出芯片合格报告。2.根据权利要求1所述的一种异常芯片的识别方法，其特征在于，所述若第一输出信息无法匹配地址对照表，则输出所述待测芯片的第一错误报告，还包括以下步骤：获取所述地址对照表中的各管脚输出的标准地址；若第一输出信息中的各管脚输出的待测地址与对应的标准地址不一致，则选取与对应的标准地址不一致的待测地址，得到第一错误报告。3.根据权利要求2所述的一种异常芯片的识别方法，其特征在于，所述方法，还包括以下步骤：根据获取到的多个第一错误报告中的任一待测地址，得到与任一待测地址对应的标准地址的出现次数；若所述标准地址出现次数超过预设的地址关联阈值，则将出现相同次数的标准地址关联存储，以使关联存储的标准地址对应的待测地址优先与地址对照表进行比对。4.根据权利要求2所述的一种异常芯片的识别方法，其特征在于，所述方法，还包括以下步骤：获取预设的与所述标准地址对应的地址标识；根据各待测地址与标准地址的对应关系以及多个第一错误报告中的各待测地址出现次数，得到地址标识的优先排查顺序；将所述优先排查顺序添加到地址对照表中，以使各待测地址按照优先排查顺序与地址对照表进行比对。5.根据权利要求1所述的一种异常芯片的识别方法，其特征在于，所述方法，还包括以下步骤：当获取到第一输出信息...
【专利技术属性】
技术研发人员：祁建强，周文，毕玉斌，
申请(专利权)人：深圳康姆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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