集成电路和用于诊断集成电路的方法技术

本公开的各实施例涉及集成电路和用于诊断集成电路的方法。根据一个方面，一种集成电路包括：电子模块，被配置为在输出处生成电压；以及电子控制电路，耦合到电子模块的输出，电子控制电路包括发射电子部件。电子控制电路被配置为使发射电子部件根据电子模块的输出处的电压值相对于电子模块的操作电压值来发射光辐射，并且操作电压在该电子模块的正常操作期间对于该电子模块是特定的。由发射电子部件发射的光辐射被配置为扩散到集成电路的外表面。面。面。

【技术实现步骤摘要】
集成电路和用于诊断集成电路的方法
[0001]优先权
[0002]本申请要求于2020年7月15日提交的法国专利申请第2007423号的权益，其通过引用全部并入本文。


[0003]实施本专利技术的实施例和方法涉及集成电路和用于对这种集成电路执行诊断的方法。

技术介绍

[0004]集成电路通常包括多个电子模块，每个电子模块都被配置为执行给定的电子功能。这些电子模块可能经受故障，特别是由于集成电路的制造或随时间推移的磨损而导致的故障。为了排除这些故障，可以首先识别集成电路的每个故障电子模块。
[0005]关于这点，用于识别集成电路的故障电子模块的一种已知方法是发射显微镜，其涉及分析由该集成电路的电子模块发射的光辐射。
[0006]更具体地，电子模块包括能够发射光辐射的电子部件，特别是在其操作期间当电流流过时。光辐射可以是可见光或红外线。特别地，这种光辐射的波长可以包括在400nm(可见光)与1400nm(近红外)之间。例如，能够发射这种光辐射的电子部件可以是MOS晶体管或二极管。
[0007]这种由不同电子模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路，包括：电子模块，被配置为在输出处生成电压；以及电子控制电路，耦合到所述电子模块的输出，所述电子控制电路包括发射电子部件，所述电子控制电路被配置为使得所述发射电子部件根据所述电子模块的输出处的电压的值相对于所述电子模块的操作电压的值来发射光辐射，所述操作电压在所述电子模块的正常操作期间对于所述电子模块是特定的，其中由所述发射电子部件发射的所述光辐射被配置为扩散到所述集成电路的外表面。2.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述电子模块包括多个电子模块，并且所述电子控制电路包括多个电子控制电路。3.根据权利要求2所述的集成电路，其中所述多个电子模块中的每个电子模块耦合到所述多个电子控制电路的对应的电子控制电路。4.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述电子控制电路被配置为能够使所述发射电子部件在所述电子模块的输出处的电压的值达到所述操作电压的值时发射所述光辐射。5.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述电子控制电路被配置为能够使所述发射电子部件在所述电子模块的输出处的电压的值低于所述操作电压的值时发射所述光辐射。6.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述集成电路没有设置在所述发射电子部件与所述集成电路的外表面之间的、会阻挡由所述发射电子部件生成的所述光辐射的金属线。7.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述光辐射的波长在400nm与1400nm之间。8.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述发射电子部件是二极管。9.根据权利要求8所述的集成电路，其中所述二极管是N阱二极管。10.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述发射电子部件是晶体管。11.根据权利要求1所述的集成电路，包括被配置为断开所述电子控制电路的电路。12.一种用于对集成电路执行诊断的方法，所述集成电路包括电子模块以及电子控制电路，所述电子模块被配置为在输出处生成电压，所述电子控制电路耦合到所述电子模块的输出，其中所述电子控制电路包括发射电子部件，所述电子控制电路被配置为使得所述发射电子部件根据所述电子模块的输出处的电压的值相对于所述电子模块的操作电压的值来发射光辐射，所述操作电压在所述电子模块的正常操作期间对于所述电...

【专利技术属性】
技术研发人员：E，
申请(专利权)人：意法半导体ALPS有限公司，
类型：发明
国别省市：